[發明專利]相機輔助X射線成像的方法和系統

在審

• 申請號: 202010004119.1
• 申請日: 2020-01-02
• 公開（公告）號: CN111466932A
• 公開（公告）日: 2020-07-31
• 發明（設計）人: 王德軍;斯里克里希南·V;吉雷沙·拉奧;凱特琳·羅斯·奈;納西爾·艾哈邁德·德賽;阿倫·庫馬爾·錢德拉謝卡拉帕;李寰中
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 侯穎媖;錢慰民

1.一種用于圖像粘貼檢查的方法，所述方法包括：

通過光學相機采集受檢者的圖像數據；

根據所述圖像數據控制x射線源和x射線檢測器，以采集所述受檢者的多個x射線圖像；以及

將所述多個x射線圖像拼接成單個x射線圖像。

2.根據權利要求1所述的方法，還包括根據所述圖像數據確定針對所述x射線源的多個角向位置的所述x射線源的曝光參數。

3.根據權利要求2所述的方法，其中，根據所述圖像數據控制所述x射線源包括用所述曝光參數控制所述x射線源，以在所述多個角向位置中的每個角向位置處生成x射線束。

4.根據權利要求2所述的方法，還包括根據所述圖像數據為所述x射線源的所述多個角向位置中的每個角向位置確定x射線檢測器的一個或多個位置。

5.根據權利要求4所述的方法，還包括針對所述x射線源的每個角向位置將所述x射線檢測器的位置調節到所述一個或多個位置，以采集所述多個x射線圖像。

6.根據權利要求2所述的方法，其中，針對所述x射線源的所述多個角向位置，所述x射線源的視場覆蓋所述受檢者的不同部分，并且其中，根據所述圖像數據為所述x射線源的所述多個角向位置確定所述x射線源的曝光參數包括：根據所述圖像數據針對所述多個角向位置測量所述受檢者在所述不同部分處的厚度；以及根據所述受檢者的所述厚度為每個角向位置選擇曝光參數。

7.根據權利要求1所述的方法，其中，所述圖像數據包括在相對于所述受檢者的多個角向位置處采集的所述受檢者的圖像，還包括配準所述受檢者的所述圖像。

8.根據權利要求7所述的方法，還包括根據所述圖像的所述配準將所述多個x射線圖像拼接成所述單個x射線圖像。

9.根據權利要求8所述的方法，其中，配準所述受檢者的所述圖像包括：利用輸入到成本函數的所述圖像迭代地最小化所述成本函數以獲得變換參數，并且其中，根據所述圖像的所述配準將所述多個x射線圖像拼接成所述單個x射線圖像包括利用所述變換參數配準所述多個x射線圖像。

10.一種方法，包括：

在掃描受檢者之前，通過相機采集所述受檢者的圖像數據；

在所述掃描期間，根據所述圖像數據控制x射線源以生成多個x射線圖像；以及

根據所述掃描期間通過所述相機采集的圖像數據，將所述多個x射線圖像拼接成單個x射線圖像。

11.根據權利要求10所述的方法，其中，在所述掃描之前通過所述相機采集所述圖像數據包括控制所述相機以識別用于成像的所述受檢者的期望解剖區域的位置。

12.根據權利要求11所述的方法，還包括：根據所述圖像數據測量在所述期望解剖區域處的所述受檢者的厚度；根據所述期望解剖區域的位置確定所述x射線源的多個x射線源位置；以及根據在所述期望解剖區域處的所述受檢者的所述厚度確定在所述多個x射線源位置處的所述x射線源的曝光參數。

13.根據權利要求12所述的方法，其中，根據所述圖像數據控制所述x射線源以生成所述多個x射線圖像，包括利用所述曝光參數控制所述x射線源以在所述多個x射線源位置處生成x射線；以及利用x射線檢測器檢測所述生成的x射線以生成所述多個x射線圖像。

14.根據權利要求12所述的方法，其中，所述相機包括深度相機，并且其中，根據所述圖像數據測量所述期望解剖區域處的所述受檢者的所述厚度，包括利用所述相機測量所述期望解剖區域處的所述受檢者的所述深度。

15.一種x射線成像系統，所述系統包括：

x射線源，所述x射線源用于生成x射線；

光學相機，所述光學相機定位在所述x射線源附近；

x射線檢測器，所述x射線檢測器被配置為檢測所述x射線；和

處理器，所述處理器被配置有在非暫時性存儲器中的指令，所述指令在被執行時使所述處理器：

通過所述光學相機采集受檢者的圖像數據；

根據所述圖像數據控制所述x射線源和所述x射線檢測器，以采集所述受檢者的多個x射線圖像；以及

將所述多個x射線圖像拼接成單個x射線圖像。