[發明專利]一種大尺寸硅片擴散工藝有效
| 申請號: | 202010003620.6 | 申請日: | 2020-01-03 |
| 公開(公告)號: | CN113078234B | 公開(公告)日: | 2022-10-25 |
| 發明(設計)人: | 何秋霞;朱軍;楊韋;馬擎天 | 申請(專利權)人: | 環晟光伏(江蘇)有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L21/225;H01L31/068 |
| 代理公司: | 天津諾德知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 12213 | 代理人: | 欒志超 |
| 地址: | 214200 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 尺寸 硅片 擴散 工藝 | ||
1.一種大尺寸硅片擴散工藝,其特征在于:將硅片放入擴散爐后,進行擴散,包括以下步驟,
穩定硅片表面溫度,減少硅片中心與邊緣的溫度差;所述穩定硅片表面溫度的步驟中,進行擴散爐的升溫,并通入氮氣,并進行溫度保持,其中,所述擴散爐溫度升溫至擴散溫度,所述擴散溫度為760-780℃,所述氮氣的流量為16-20slm,所述溫度保持時間為5-8min;
制備氧化層,進行硅片表面氧化;
低溫恒定源擴散,進行硅片表面沉積磷源:按照所述擴散溫度維持所述擴散爐溫度,并通入氮氣、氧氣和擴散源,并按照沉積時間進行沉積,所述氮氣流量為8-10slm;所述氧氣流量為1-1.3slm;所述擴散源的流量為0.8-1slm;所述沉積時間為10-15min;
高溫推進,便于形成PN結;
高溫通源,進行擴散補源:按照推進溫度保持擴散爐溫度,通入氮氣、氧氣和擴散源,并按照高溫沉積時間進行沉積,其中,所述擴散源為N2-POCL3,所述推進溫度為840-860℃,所述氮氣流量為6-8slm,所述氧氣流量為0.1-0.2slm,所述擴散源流量為0.1-0.3slm,所述高溫沉積時間為2-5min;
二步推結,形成磷硅玻璃層;
降溫出爐。
2.根據權利要求1所述的大尺寸硅片擴散工藝,其特征在于:所述二步推結步驟中,按照所述推進溫度保持擴散爐溫度,通入氮氣,并按照推結時間進行推進,其中,所述氮氣流量為6-8slm,所述推結時間為3-5min。
3.根據權利要求1或2所述的大尺寸硅片擴散工藝,其特征在于:所述制備氧化層的步驟中,按照所述擴散溫度維持擴散爐溫度,并通入氧氣和氮氣,按照氧化時間對硅片進行氧化,其中,
所述氧氣的流量為1-3slm;
所述氮氣的流量為16-20slm;
所述氧化時間為3-5min。
4.根據權利要求3所述的大尺寸硅片擴散工藝,其特征在于:所述高溫推進步驟中,將擴散爐的溫度升溫至所述推進溫度,通入氮氣,并按照推進時間進行推進,其中,
所述氮氣流量為6-8slm;
所述推進時間為10-15min。
5.根據權利要求4所述的大尺寸硅片擴散工藝,其特征在于:所述降溫出爐步驟中,降低擴散爐溫度,將所述擴散爐溫度降低至出爐溫度,進行出舟,所述出爐溫度為740-760℃。
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H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
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H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





