[發(fā)明專利]一種對(duì)電池進(jìn)行CT測(cè)試的裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010002245.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-01-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111122626A | 公開(公告)日: | 2020-05-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 崔光磊;辛云川;李杰東;徐紅霞 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院青島生物能源與過(guò)程研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N23/046 | 分類號(hào): | G01N23/046 |
| 代理公司: | 沈陽(yáng)科苑專利商標(biāo)代理有限公司 21002 | 代理人: | 何麗英 |
| 地址: | 266101 山*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電池 進(jìn)行 ct 測(cè)試 裝置 | ||
1.一種對(duì)電池進(jìn)行CT測(cè)試的裝置,其特征在于,包括上蓋(1)、上壓頭(3)、套筒(4)、下壓頭(5)及下蓋(6),其中套筒(4)的兩端插設(shè)有上壓頭(3)和下壓頭(5),所述上壓頭(3)的外側(cè)設(shè)有上蓋(1),所述下壓頭(5)的外側(cè)設(shè)有下蓋(6),所述上蓋(1)和所述下蓋(6)分別與所述套筒(4)的兩端螺紋連接,所述套筒(4)內(nèi)用于安裝電池。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的對(duì)電池進(jìn)行CT測(cè)試的裝置,其特征在于,所述上壓頭(3)與所述上蓋(1)之間設(shè)有壓力傳感器(2)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的對(duì)電池進(jìn)行CT測(cè)試的裝置,其特征在于,所述上蓋(1)的內(nèi)壁上設(shè)有上蓋螺紋(102),所述上蓋(1)的內(nèi)側(cè)底部設(shè)有與所述壓力傳感器(2)接觸的上蓋加壓面(103);所述上蓋(1)的側(cè)壁上設(shè)有上蓋導(dǎo)線引出孔(104)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的對(duì)電池進(jìn)行CT測(cè)試的裝置,其特征在于,所述套筒(4)為中間細(xì)、兩頭粗的結(jié)構(gòu),并且沿軸線設(shè)有套筒貫穿孔(401)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的對(duì)電池進(jìn)行CT測(cè)試的裝置,其特征在于,所述套筒(4)采用絕緣材料制成。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的對(duì)電池進(jìn)行CT測(cè)試的裝置,其特征在于,所述上壓頭(3)和所述下壓頭(5)為T型結(jié)構(gòu),均包括壓頭立柱和設(shè)置于所述壓頭立柱端部的壓頭受壓面,所述壓頭立柱插設(shè)于所述套筒(4)內(nèi)。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的對(duì)電池進(jìn)行CT測(cè)試的裝置,其特征在于,所述上蓋(1)、上壓頭(3)、下壓頭(5)及下蓋(6)均采用金屬材料制成。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的對(duì)電池進(jìn)行CT測(cè)試的裝置,其特征在于,所述上壓頭(3)和所述下壓頭(5)采用洛氏硬度大于35的金屬材料制成。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的對(duì)電池進(jìn)行CT測(cè)試的裝置,其特征在于,所述上蓋(1)和所述下蓋(6)采用不銹鋼材料。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的對(duì)電池進(jìn)行CT測(cè)試的裝置,其特征在于,所述上蓋(1)和所述下蓋(6)分別與電池測(cè)試儀的正、負(fù)極連接,進(jìn)行測(cè)試。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院青島生物能源與過(guò)程研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院青島生物能源與過(guò)程研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010002245.3/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
- 請(qǐng)求沒有進(jìn)行IMS注冊(cè)的用戶進(jìn)行注冊(cè)的方法
- 對(duì)要進(jìn)行紋理操作的像素進(jìn)行分組
- 對(duì)餐盤進(jìn)行溫度調(diào)節(jié)和進(jìn)行分配的獨(dú)立小車
- 對(duì)圖像進(jìn)行編碼
- 對(duì)任務(wù)進(jìn)行調(diào)度
- 對(duì)任務(wù)進(jìn)行調(diào)度
- 蛋糕(甜蜜進(jìn)行時(shí))
- 對(duì)定位輔助數(shù)據(jù)進(jìn)行分級(jí)和分組以進(jìn)行廣播
- 對(duì)物體進(jìn)行分離和定向以進(jìn)行供料
- 對(duì)工件進(jìn)行評(píng)價(jià)以進(jìn)行加工的方法
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





