[發(fā)明專利]構造圖井校的方法、裝置及系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010001413.7
• 申請日: 2020-01-02
• 公開（公告）號: CN113064215A
• 公開（公告）日: 2021-07-02
• 發(fā)明（設計）人: 劉永福;韓劍發(fā);蘇洲;張慧芳;孫琦;吳梅蓮;彭鵬;彭麗;趙海濤;羅新生;羅海寧;仝可佳;高登寬;劉博;楊新影;黃臘梅
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01V11/00
• 分類號: G01V11/00
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 鈄颯颯;黃健

1.一種構造圖井校的方法，其特征在于，包括：

獲取待校正井的原始信息，其中所述原始信息包括：地震資料信息和測井信息；

根據所述測井信息進行處理，得到待校正井對應目的層的多個分層；

根據所述地震資料信息進行標定，將所述目的層對應的分層標定于所述地震資料信息中，得到標定地震層位信息；

根據所述待校正井，通過移動最小二乘處理得到所述分層對應的平面誤差趨勢信息；

根據所述標定地震層位信息和所述平面誤差趨勢信息，得到所述待校正井對應的目標構造圖。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述測井信息進行處理，得到待校正井對應目的層的多個分層，包括：

對所述測井信息進行去異常處理、井徑校正處理以及標準化處理，得到所述待校正井的沉積特征；

根據所述待校正井對應目的層的沉積特征，確定多個分層。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述地震資料信息進行標定，將所述目的層對應的分層標定于所述地震資料信息中，得到標定地震層位信息，包括：

對所述地震資料信息進行拓頻處理，得到第一地震資料信息；

將所述分層標定于所述第一地震資料信息中，得到所述標定地震層位信息。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，根據所述待校正井，通過移動最小二乘處理得到所述分層對應的平面誤差趨勢信息，包括：

構造待鉆井平面誤差趨勢信息；

選取第一待鉆井點，并將所述第一待鉆井點代入所述待鉆井平面誤差趨勢信息，得到最佳鉆井平面誤差趨勢信息；

將第二待鉆井點代入所述最佳鉆井平面誤差趨勢信息，得到所述分層對應的平面誤差趨勢信息。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述標定地震層位信息和所述平面誤差趨勢信息，得到所述待校正井對應的目標構造圖，包括：

將所述標定地震層位信息與所述平面誤差趨勢信息相加，確定所述待校正井對應的目標構造圖。

6.根據權利要求1-5中任一項所述的方法，其特征在于，在得到所述待校正井對應的目標構造圖之后，還包括：

顯示所述待校正井對應目標構造圖。

7.一種構造圖井校的裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取待校正井的原始信息，其中所述原始信息包括：地震資料信息和測井信息；

處理模塊，用于根據所述測井信息進行處理，得到待校正井對應的多個分層；

標定模塊，用于根據所述地震資料信息進行標定，將所述目的層對應的分層標定于所述地震資料信息中，得到標定地震層位信息；

選取模塊，用于根據所述分層選取多個待鉆井點，并根據所述待鉆井點，通過移動最小二乘處理得到所述分層對應的平面誤差趨勢信息；

得到模塊，用于根據所述標定地震層位信息和所述平面誤差趨勢信息，得到所述待校正井對應的目標構造圖。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，處理模塊，具體用于：

對所述測井信息進行去異常處理、井徑校正處理以及標準化處理，得到所述待校正井的沉積特征；

根據所述待校正井對應目的層的沉積特征，確定多個分層。

9.一種構造圖井校的系統(tǒng)，其特征在于，包括：存儲器和處理器，存儲器中存儲有所述處理器的可執(zhí)行指令；其中，所述處理器配置為經由執(zhí)行所述可執(zhí)行指令來執(zhí)行權利要求1-6任一項所述的構造圖井校的方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時實現權利要求1-6任一項所述的構造圖井校的方法。