[發(fā)明專利]一種無痕測(cè)試裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010001359.6
• 申請(qǐng)日: 2020-01-02
• 公開（公告）號(hào): CN110942801A
• 公開（公告）日: 2020-03-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李虎;譚少鵬
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市德名利電子有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/56
• 分類號(hào): G11C29/56
• 代理公司: 深圳市道勤知酷知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44439
• 代理人: 何兵;饒盛添

本發(fā)明揭示了一種無痕測(cè)試裝置，包括：測(cè)試板、前板、后板、翻蓋和支撐架；測(cè)試板包括圓頭Pogo pin測(cè)試針、PCB板和USB插頭；前板相對(duì)圓頭Pogo pin測(cè)試針的部分設(shè)有第一通孔；前板和后板相對(duì)設(shè)置，且圓頭Pogo pin測(cè)試針穿過第一通孔；前板和后板夾緊測(cè)試板，以將測(cè)試板固定于前板和后板之間，形成測(cè)試架基板；前板側(cè)壁中部設(shè)有第二通孔；第一插銷穿過第二通孔，以使翻蓋固定于前板，形成測(cè)試架；翻蓋一端具有插口，以插拔待測(cè)試的存儲(chǔ)產(chǎn)品；前板設(shè)置有第一磁鐵；翻蓋內(nèi)部的相對(duì)第一磁鐵的部分設(shè)有第二磁鐵，測(cè)試架的兩端分別固定于兩個(gè)相對(duì)設(shè)置的支撐架。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本方案解決存儲(chǔ)產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)被測(cè)試針刮蹭，導(dǎo)致存儲(chǔ)產(chǎn)品受損的問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及到存儲(chǔ)產(chǎn)品領(lǐng)域，特別是涉及到一種無痕測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

閃存器件具有無機(jī)械結(jié)構(gòu)、可反復(fù)擦寫、速度快、功耗低等顯著優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于U盤、SD卡和固態(tài)硬盤等存儲(chǔ)產(chǎn)品。存儲(chǔ)產(chǎn)品在出廠之前都需要經(jīng)過嚴(yán)格的產(chǎn)品性能測(cè)試，讀寫測(cè)試和老化測(cè)試，以保證存儲(chǔ)產(chǎn)品的可靠性及穩(wěn)定性。在現(xiàn)有技術(shù)中，存儲(chǔ)產(chǎn)品進(jìn)行讀寫測(cè)試時(shí)，需插入測(cè)試裝置，存儲(chǔ)產(chǎn)品在插入或者拔出的過程中，都容易與測(cè)試裝置的測(cè)試針產(chǎn)生接觸，容易刮蹭存儲(chǔ)產(chǎn)品，導(dǎo)致存儲(chǔ)產(chǎn)品損壞。因此，如何解決存儲(chǔ)產(chǎn)品在測(cè)試過程中易被測(cè)試針刮蹭，導(dǎo)致存儲(chǔ)產(chǎn)品受損顯得十分重要。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的為提供一種無痕測(cè)試裝置，旨在解決存儲(chǔ)產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)被測(cè)試針刮蹭，導(dǎo)致存儲(chǔ)產(chǎn)品受損的技術(shù)問題。

本發(fā)明提出一種無痕測(cè)試裝置，包括：測(cè)試板、前板、后板、翻蓋和支撐架；

測(cè)試板包括圓頭Pogopin測(cè)試針、PCB板和USB插頭；

PCB板的一端設(shè)置有預(yù)設(shè)數(shù)量的圓頭Pogopin測(cè)試針；

PCB板遠(yuǎn)離圓頭Pogopin測(cè)試針的一端連接USB插頭；

前板相對(duì)圓頭Pogopin測(cè)試針的部分設(shè)有第一通孔；

前板和后板相對(duì)設(shè)置，測(cè)試板設(shè)置于前板和后板之間，且圓頭Pogopin測(cè)試針穿過第一通孔；

前板和后板夾緊測(cè)試板，以將測(cè)試板固定于前板和后板之間，形成測(cè)試架基板；

前板側(cè)壁中部設(shè)有第二通孔；

第一插銷穿過第二通孔，以使翻蓋固定于前板，形成測(cè)試架；

翻蓋一端具有插口，以插拔待測(cè)試的存儲(chǔ)產(chǎn)品；

前板內(nèi)部的中部相對(duì)翻蓋的一端設(shè)置有第一磁鐵；

翻蓋內(nèi)部的相對(duì)第一磁鐵的部分設(shè)有第二磁鐵，第二磁鐵位于翻蓋內(nèi)部靠近第一磁鐵的一端，其中第一磁鐵和第二磁鐵磁性相反；

前板和后板遠(yuǎn)離翻蓋的一端分別設(shè)有第三通孔和第四通孔，其中，第三通孔和第四通孔位于同一水平線；

第二插銷穿過第三通孔，第三插銷穿過第四通孔，以使測(cè)試架的兩端分別固定于兩個(gè)相對(duì)設(shè)置的支撐架。

優(yōu)選的，前板、后板和翻蓋均為可拆卸結(jié)構(gòu)；

第一通孔設(shè)置于前板的一端，且各第一通孔均位于同一水平線；

前板中部設(shè)置有第一螺孔，各第一螺孔均位于同一水平線，且第一螺孔與第一通孔處于不同水平線；

前板遠(yuǎn)離第一通孔的一端設(shè)有第一凹槽；

后板相對(duì)第一螺孔的部分設(shè)置有第二螺孔；

后板相對(duì)第一凹槽的部分設(shè)有凹槽，凹槽向凹槽所在一端的相對(duì)端方向延伸，形成第二凹槽；

測(cè)試板相對(duì)第一螺孔和第二螺孔的部分為半圓形結(jié)構(gòu)；