[其他]光探測器、探測模組和探測裝置

有效

• 申請號: 201990000880.9
• 申請日: 2019-11-29
• 公開（公告）號: CN215867092U
• 公開（公告）日: 2022-02-18
• 發明（設計）人: 王栗
• 申請（專利權）人: 深圳市大疆創新科技有限公司
• 主分類號: G01S7/481
• 分類號: G01S7/481;G01S7/486;G01S7/4861
• 代理公司: 北京勵誠知識產權代理有限公司 11647
• 代理人: 趙爽

1.一種光探測器，其特征在于，所述光探測器包括光接收器，所述光接收器包括感光區和非感光區，所述感光區用于接收經目標物體反射回的光線，所述光探測器通過所述光接收器的非感光區降低對光線的反射率。

2.根據權利要求1所述的光探測器，其特征在干，當所述光探測器與準直元件配合使用時，至少部分所述感光區位干所述準直元件的焦面上，所述感光區以外的區域遠離所述焦面設置。

3.根據權利要求1所述的光探測器，其特征在于，所述非感光區的光線反射平面與所述感光區的光線反射平面不在同一平面上。

4.根據權利要求1所述的光探測器，其特征在于，所述光探測器還包括設置在所述非感光區的吸光材料，所述光探測器通過所述吸光材料降低對光線的反射率。

5.根據權利要求1所述的光探測器，其特征在于，所述非感光區采用吸光材料制成，所述光探測器通過所述吸光材料降低對光線的反射率。

6.根據權利要求1所述的光探測器，其特征在于，所述非感光區的表面粗糙，以減少反射到所述感光區的光線。

7.根據權利要求1所述的光探測器，其特征在于，所述光探測器還包括絕緣基板，所述絕緣基板包括相背的頂面和底面，所述頂面包括第一區域和與所述第一區域相接的第二區域，所述光接收器設置在所述第一區域，所述光探測器通過所述非感光區和所述第二區域降低對光線的反射率。

8.根據權利要求7所述的光探測器，其特征在于，所述非感光區和所述第二區域的光線反射平面與所述感光區的光線反射平面不在同一平面上。

9.根據權利要求7所述的光探測器，其特征在于，所述光探測器還包括設置在所述非感光區和所述第二區域的吸光材料，所述光探測器通過所述吸光材料降低對光線的反射率。

10.根據權利要求7所述的光探測器，其特征在于，所述非感光區和所述第二區域采用吸光材料制成，所述光探測器通過所述吸光材料降低對光線的反射率。

11.根據權利要求7所述的光探測器，其特征在于，所述非感光區和所述第二區域的表面粗糙，以減少反射到所述感光區的光線。

12.根據權利要求7所述的光探測器，其特征在于，所述絕緣基板為陶瓷基板。

13.根據權利要求7所述的光探測器，其特征在于，所述光探測器還包括基座，所述基座包括相背的上表面和下表面，所述上表面包括第三區域和與所述第三區域相接的第四區域，所述絕緣基板設置在所述第三區域，所述光探測器通過所述非感光區、所述第二區域和所述第四區域降低對光線的反射率。

14.根據權利要求13所述的光探測器，其特征在于，所述非感光區、所述第二區域和所述第四區域的光線反射平面與所述感光區的光線反射平面不在同一平面上。

15.根據權利要求13所述的光探測器，其特征在于，所述光探測器還包括設置在所述非感光區、所述第二區域和所述第四區域的吸光材料，所述光探測器通過所述吸光材料降低對光線的反射率。

16.根據權利要求13所述的光探測器，其特征在于，所述非感光區、所述第二區域和所述第四區域采用吸光材料制成，所述光探測器通過所述吸光材料降低對光線的反射率。

17.根據權利要求13所述的光探測器，其特征在于，所述非感光區、所述第二區域和所述第四區域的表面粗糙，以減少反射到所述感光區的光線。