[發明專利]光脈沖測試方法和光脈沖測試裝置在審
| 申請號： | 201980101274.0 | 申請日： | 2019-10-17 |
| 公開（公告）號： | CN114556058A | 公開（公告）日： | 2022-05-27 |
| 發明（設計）人： | 脅坂佳史;飯田大輔;押田博之 | 申請（專利權）人： | 日本電信電話株式會社 |
| 主分類號： | G01H9/00 | 分類號： | G01H9/00 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290 | 代理人： | 李成必;李雪春 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 脈沖 測試 方法 裝置 | ||
1.一種光脈沖測試方法，其特征在于：
將在時間上以等間隔排列了不同光頻率的光脈沖的波長復用數N的光脈沖串入射到被測定光纖的一端；
接收返回到所述被測定光纖的所述一端的各波長的散射光；
將所述被測定光纖的振動作為所述散射光的相位分量的時間變化來觀測；以及
將所述波長復用數N確定為滿足數C1的最小值，
[數C1]
其中，
t是時間，
Z是所述被測定光纖的長度即測定距離，
ν是所述被測定光纖內的光速，
Fν(t)是所述被測定光纖的任意區間內的相位變化的時間波形，
是對Fν(t)進行了傅立葉變換的函數，
是所占的頻率帶寬的最大值，
C(t)是從時刻t到時刻t+TN之間的相位變化的絕對值，
Cmax(TN)是使時刻t任意變化時的C(t)的最大值，
是Cmax(TN)的反函數，
Fν是Fν(t)的最大值與最小值的差。
2.根據權利要求1所述的光脈沖測試方法，其特征在于：
以比所述光脈沖串的光脈沖間隔短的間隔排列M個不同光頻率的微小光脈沖而形成所述光脈沖；以及
以使噪聲電平的1/√M倍為規定值以下的方式設定所述微小光脈沖的數量M。
3.一種光脈沖測試方法，其特征在于：
形成M個排列了N×M+1個不同光頻率的微小光脈沖的集合，N和M為自然數；
排列M個所述集合，將所述微小光脈沖從最前頭的所述集合起按每M個進行切割，從而形成N×M+1個光脈沖對；
將在時間上以等間隔排列了N×M+1個所述光脈沖對的光脈沖串入射到被測定光纖的一端；
接收返回到所述被測定光纖的所述一端的各波長的散射光；
將所述被測定光纖的振動作為所述散射光的相位分量的時間變化來觀測；
將波長復用數N確定為滿足數C1的最小值；以及
以使噪聲電平的1/√M倍為規定值以下的方式設定波長復用數M，
[數C1]
其中，
t是時間，
Z是所述被測定光纖的長度即測定距離，
ν是所述被測定光纖內的光速，
Fν(t)是所述被測定光纖的任意區間內的相位變化的時間波形，
是對Fν(t)進行了傅立葉變換的函數，
是所占的頻率帶寬的最大值，
C(t)是從時刻t到時刻t+TN之間的相位變化的絕對值，
Cmax(TN)是使時刻t任意變化時的C(t)的最大值，
是Cmax(TN)的反函數，
Fν是Fν(t)的最大值與最小值的差。
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