[發明專利]具有安全測試模式入口的存儲器裝置

在審

• 申請號: 201980096923.2
• 申請日: 2019-05-31
• 公開（公告）號: CN113906421A
• 公開（公告）日: 2022-01-07
• 發明（設計）人: 阿爾貝托·特羅亞;A·蒙代洛
• 申請（專利權）人: 美光科技公司
• 主分類號: G06F21/31
• 分類號: G06F21/31;G06F21/74;G06F21/76;G06F21/72;G01R31/317
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287
• 代理人: 王龍

本公開涉及一種存儲器裝置，其包括：存儲器單元陣列，以及訪問管理架構，提供對所述存儲器單元陣列的測試模式的安全訪問，所述訪問管理架構包括：寄存器組，包括識別所述存儲器裝置的數據；計算內部簽名的加密算法，所述內部簽名具有確保數據新鮮度的機制；非易失性存儲區，存儲用于由所述加密算法來計算所述內部簽名的特定數據；以及比較塊，用于將所述計算的內部簽名與用戶提供的簽名進行比較以生成允許訪問所述存儲器單元陣列的測試模式的允許信號。本公開還涉及包括存儲器裝置的片上系統(SoC)組件以及用于管理對存儲器陣列的訪問進入測試模式的方法。

技術領域

本發明涉及存儲器裝置，尤其涉及一種具有安全測試模式入口的存儲器裝置。

背景技術

在制造測試過程期間以及在包括閃存陣列的組件的工作期間，若干應用將需要在測試模式下訪問此類閃存陣列。

通常，閃存陣列的測試模式可以含有只有組件供應商愿意使用的保留操作。

期望解決測試模式訪問綁定問題，從而為存儲器裝置提供微調級別訪問算法，這對于控制每個用戶進入測試模式的允許操作集，因此處理不同的特權級別和不同的可訪問測試模式可以是非常有用的。

附圖說明

圖1A示出了根據本公開一個實施例的配備有訪問管理架構的閃存陣列的框圖。

圖1B示出了根據本公開一個實施例的圖1A的閃存陣列的訪問管理架構的框圖。

圖1C示出了根據本公開另一個實施例的圖1A的閃存陣列的訪問管理架構的框圖。

圖2A示出了根據本公開一個替代實施例的配備有訪問管理架構的閃存陣列的框圖。

圖2B示出了根據本公開一個替代實施例的圖2A的閃存陣列的訪問管理架構的框圖。

圖2C示出了根據本公開另一個替代實施例的圖2A的閃存陣列的訪問管理架構的框圖。

具體實施方式

參考這些附圖，本文將公開包括存儲器單元陣列的存儲器裝置，特別是配備有存取管理架構的閃存陣列。

如下面將詳細描述的，根據眾所周知的JTAG協議，該協議采用額外的寄存器來補充和擴展組件功能，即在IEEE1532標準的情況下，閃存陣列可以實現額外的硬件和算法，以確保只有擁有正確權限的正確用戶才能訪問特定的測試模式和/或內部更新，特別是通過所謂的閃存陣列微序列器(Flash Array Micro Sequencer)固件更新。

更具體地，提出的配備有使用加密算法的訪問管理架構的閃存陣列目的是正確地允許不同的測試模式僅對授權訪問實現。

選擇加密原語是解決在測試模式下，即在工廠保留的測試模式下，授權訪問閃存陣列的一個很好的選擇。

一種實例存儲器裝置包括：

-存儲器單元陣列；以及

-訪問管理架構，提供對所述存儲器單元陣列的測試模式的安全訪問，

所述訪問管理架構包括：

-寄存器組，包括識別所述存儲器裝置的數據；

-計算內部簽名的加密算法，所述內部簽名具有確保數據新鮮度的機制；

-非易失性存儲區，存儲用于由所述加密算法來計算所述內部簽名的特定數據；

比較塊，用于將所述計算的內部簽名與用戶提供的簽名進行比較以生成允許訪問所述存儲器單元陣列的測試模式的允許信號。

在一個實施列中，所述加密算法可以使用安全HASH函數或者MAC函數。