[發明專利]氣體分析儀

在審

• 申請號: 201980096050.5
• 申請日: 2019-08-23
• 公開（公告）號: CN113767274A
• 公開（公告）日: 2021-12-07
• 發明（設計）人: 王同舟;李冬;楊曉波;張傳雨;康堯磊;張健勇
• 申請（專利權）人: 西門子股份公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 趙冬梅

本發明提供一種氣體分析儀。所述氣體分析儀包含：光源(110)；分光器(150)，其將由所述光源發射的光分為測量光和參考光；測量臂(510)和參考臂(530)，其中待測量的氣體填充于所述測量臂中，參考氣體填充于所述參考臂中，所述測量光以傳播方式穿過所述測量臂，且所述參考光以傳播方式穿過所述參考臂；光學檢測器(750)，其接收以傳播方式穿過所述測量臂的光和以傳播方式穿過所述參考臂的光，且將所述所接收的光轉換成電信號；以及編碼器(300)，其安置于所述分光器與所述測量臂和所述參考臂之間，其中所述編碼器被配置成對所述測量光和所述參考光中的一者進行編碼且阻擋所述測量光和所述參考光中的另一者。因此，所述氣體分析儀的結構可簡化。

技術領域

本發明涉及一種氣體分析儀。

背景技術

一種氣體分析儀，也被稱為氣體分析儀器，可被配置成分析氣體成分。舉例來說，作為氣體分析儀，光學氣體分析儀通過使用氣體中特定成分在特定波長的光上具有不同吸收率的特征來分析氣體成分。具體來說，光可首先照射待分析的氣體。接著，可借助于光電傳感器接收以透射方式穿過待分析的氣體的光，以獲得以透射方式穿過待分析的氣體的光的強度。待分析的氣體中的成分吸收特定波長的光，且以透射方式穿過待分析的氣體的光的強度變小，且因此，舉例來說，通過比較以透射方式穿過待分析的氣體的光的減小的強度與參考光的強度，可確定待分析的氣體中的成分和其內容。

發明內容

本發明將解決前述和/或其它技術問題并且提供一種氣體分析儀。

根據示范性實施例，一種氣體分析儀包含：光源；分光器，其將由所述光源發射的光分為測量光和參考光；測量臂和參考臂，其中待測量的氣體填充于所述測量臂中，參考氣體填充于所述參考臂中，所述測量光以傳播方式穿過所述測量臂，且所述參考光以傳播方式穿過所述參考臂；光學檢測器(750)，其接收以傳播方式穿過所述測量臂的光和以傳播方式穿過所述參考臂的光，且將所接收的光轉換成電信號；以及編碼器(300)，其安置于所述分光器與所述測量臂和所述參考臂之間，其中所述編碼器被配置成對所述測量光和所述參考光中的一者進行編碼且阻擋所述測量光和所述參考光中的另一者。

所述氣體分析儀包含光柵，所述光柵安置于所述光源與所述分光器之間，其中所述光柵被配置成將從所述光源發射的所述光分離成具有不同波長的多個光束。

所述氣體分析儀包含透鏡單元、光學耦合器和位置調節器，其中所述透鏡單元被配置成引導以傳播方式穿過所述測量臂的所述光和以傳播方式穿過所述參考臂的所述光以進入所述光學耦合器，所述光學耦合器被配置成引導由所述透鏡單元引導的所述光以照射所述光學檢測器，并且所述位置調節器被配置成調節所述光學檢測器的位置，使得所述光學檢測器位于所述光學耦合器的焦點處。

所述編碼器包含：編碼圖案，其被配置成允許所述測量光或所述參考光中的一者的至少一個部分以透射方式穿過所述編碼圖案且傳播到所述測量臂或所述參考臂，以對所述光束進行編碼；以及遮光圖案，其被配置成阻擋所述測量光或所述參考光中的另一者以透射方式穿過所述遮光圖案。

所述編碼圖案包含彼此不同的多個編碼圖案，且所述編碼器被配置成借助于彼此不同的所述多個編碼圖案中的一者在預設時間對所述測量光或所述參考光中的一者進行編碼，且阻擋所述測量光和所述參考光中的另一者。

所述編碼圖案包含彼此不同的多個編碼圖案，且所述編碼器被配置成借助于彼此不同的所述多個編碼圖案中的多個編碼圖案在預設時間段對所述測量光或所述參考光中的一者進行編碼，且阻擋所述測量光和所述參考光中的另一者。

所述編碼圖案包含遵守沃爾什-哈達瑪算法的編碼圖案，且所述編碼器被配置成借助于遵守所述沃爾什-哈達瑪算法的所述圖案對所述測量光或所述參考光中的一者進行編碼，且阻擋所述測量光和所述參考光中的另一者。

所述編碼器包含圓形編碼芯片，其中所述編碼圖案位于所述圓形編碼芯片的至少一個扇區上。