[發(fā)明專利]示差折光率的測定方法、測定裝置以及測定程序在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201980095200.0 | 申請日: | 2019-12-10 |
| 公開(公告)號: | CN113692531A | 公開(公告)日: | 2021-11-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 茂木智博;桑島幹 | 申請(專利權(quán))人: | 日本分光株式會社 |
| 主分類號: | G01N21/41 | 分類號: | G01N21/41;B01J20/291;G01N30/74 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 折光 測定 方法 裝置 以及 程序 | ||
使用具備雙流類型的示差折光率檢測部(RI檢測部)的分析裝置來使RI檢測部的輸出信號的噪聲減少的方法如下:使用試樣用泵(21)向試樣用池(51)輸送試樣液,使用參照用泵(22)向參照用池(52)輸送參照液,并通過光檢測器(53)檢測依次透過兩個池(51)、(52)的光的行進(jìn)方向的變化。在開始進(jìn)行RI測定前,調(diào)整試樣用泵(21)和參照用泵(22)的相位差。也就是說,調(diào)整兩個泵(21)、(22)的相位差,以使由于來自試樣用泵(21)的脈動流在試樣用池(51)內(nèi)傳播而在光檢測器(53)的輸出信號中產(chǎn)生的噪聲與由于來自參照用泵(22)的脈動流在參照用池(52)內(nèi)傳播而在光檢測器(53)的輸出信號中產(chǎn)生的噪聲相抵消。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請主張2019年4月5日申請的日本專利申請2019-072504號的優(yōu)先權(quán),并將其引入本說明書中
本發(fā)明涉及一種由具備示差折光率檢測器的分析裝置進(jìn)行的示差折光率的測定。
背景技術(shù)
以往以來,存在一種分析裝置,該分析裝置具備如下的示差折光率檢測部(稱作RI檢測部。):使用試樣用池和參照用池成為一體的檢測池,以透過試樣用池中的試樣液和參照用池中的參照液這雙方的方式照射光,并基于該透過光的位置來檢測兩種液體的折光率之差。
在該分析裝置中設(shè)置有用于向RI檢測部的各池輸送試樣液或參照液的流路,該流路的結(jié)構(gòu)有兩種(參照專利文獻(xiàn)1的段落[0003])。第一種流路是所謂的參照液封入類型,具備:一臺輸液泵;從該輸液泵連結(jié)至試樣用池的試樣側(cè)流路;從該輸液泵連結(jié)至參照用池的參照側(cè)的流路;以及切換這兩個流路的切換閥。在此稱作“單流類型”。在單流類型中,首先,在參照用池封入?yún)⒄找海又袚Q流路,向試樣用池輸送試樣液。由于在參照池中封入有參照液的狀態(tài)下測定兩種液體的示差折光率,因此存在檢測器的輸出信號的基線容易漂移這個缺點(diǎn)。
第二種流路是對試樣用池和參照用池分別設(shè)置專用的輸液泵以能夠同時(shí)向參照用池和試樣用池輸液的、所謂的“雙流類型(并流類型)”。在雙流類型中,相比于單流類型,測定中的兩種液體的條件接近,不易產(chǎn)生基線的漂移。另外,有利于連續(xù)測定、長時(shí)間測定、峰面積計(jì)算。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本實(shí)開平5-52749號公報(bào)
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問題
本發(fā)明的發(fā)明人們著眼于減少RI檢測部的輸出信號中包括的噪聲,以進(jìn)一步提高雙流類型的分析裝置的性能。在雙流類型中,認(rèn)為兩臺輸液泵的脈動流對各個池內(nèi)的液體產(chǎn)生影響這一點(diǎn)會妨礙減少噪聲,因此進(jìn)行了認(rèn)真的研究。本發(fā)明的目的在于提供一種能夠減少RI檢測部的輸出信號的噪聲,從而能夠?qū)崿F(xiàn)穩(wěn)定的示差折光率的測定的示差折光率的測定方法、示差折光率的測定裝置以及示差折光率的測定程序。
用于解決問題的方案
即,本發(fā)明的示差折光率的測定方法使用試樣用泵向試樣用池輸送試樣液,使用參照用泵向參照用池輸送參照液,并通過光檢測器檢測依次透過所述試樣用池和所述參照用池的光的行進(jìn)方向的變化,由此測定所述試樣液和所述參照液的示差折光率,
所述示差折光率的測定方法的特征在于,包括以下步驟:
調(diào)整值決定步驟,基于在所述光檢測器的輸出信號中產(chǎn)生的噪聲波形信息來決定所述試樣用泵和所述參照用泵的相位差的調(diào)整值,所述調(diào)整值同試樣側(cè)與參照側(cè)的流路的長度差別或者連接至試樣側(cè)和參照側(cè)的流路的設(shè)備的差別相應(yīng);以及
相位差調(diào)整步驟,在開始測定所述示差折光率之前,調(diào)整所述試樣用泵和所述參照用泵的相位差,
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





