[發(fā)明專利]用于在醫(yī)學透射射線照相中操縱X射線的同軸X射線聚焦光學器件

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201980095004.3
• 申請日: 2019-10-02
• 公開（公告）號: CN113678025A
• 公開（公告）日: 2021-11-19
• 發(fā)明（設計）人: 埃里克·弗雷登伯格;約翰內(nèi)斯·洛伯格;馬特斯·丹尼爾松
• 申請（專利權）人: 棱鏡傳感器公司
• 主分類號: G01T1/36
• 分類號: G01T1/36;A61B6/00;G01T1/16;G01T1/24
• 代理公司: 北京安信方達知識產(chǎn)權代理有限公司 11262
• 代理人: 李健

1.一種裝置，該裝置包括與被配置用于在醫(yī)學透射射線照相中操縱x射線的同軸x射線聚焦光學器件(15)結合布置的x射線檢測器(20)，其中，該同軸x射線光學器件(15)包括透鏡陣列，其中，這些透鏡覆蓋部分或整個視場，并且其中，該x射線檢測器(20)是光子計數(shù)檢測器，

其中，該x射線檢測器(20)是能量分辨檢測器，并且該透鏡陣列的色差和/或源(10)的有限相干性通過該能量分辨檢測器的能量分辨率來補償，

和/或

其中，該x射線檢測器(20)是深度分辨檢測器，并且該透鏡陣列的色差和/或源(10)的有限相干性通過該x射線檢測器中的深度分辨率或體積分辨率來補償。

2.根據(jù)權利要求1所述的裝置，該裝置被配置為將初級光子與散射光子分離，使得平行或接近平行的初級光子集中到焦點，而具有更寬角分布的散射光子不集中到焦點。

3.根據(jù)權利要求2所述的裝置，其中，該x射線檢測器(20)是像素化檢測器，并且初級光子與散射光子之間的分離是用該像素化檢測器進行的，所述檢測器具有覆蓋該透鏡陣列中的每個透鏡的兩個或更多個像素。

4.根據(jù)權利要求2所述的裝置，其中，除了該透鏡陣列之外，還通過防散射柵來阻擋散射光子。

5.根據(jù)權利要求2所述的裝置，其中，通過該x射線檢測器(20)上游的針孔或狹縫來阻擋散射光子。

6.根據(jù)前述權利要求中任一項所述的裝置，其中，該裝置被配置用于與結合該x射線檢測器(20)中的能量和/或深度分辨率使用的射線追蹤方法一起操作以提高該裝置的空間分辨率。

7.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其中，該裝置被配置為根據(jù)檢測到的焦斑相對于該透鏡的光軸線的位置來在每個透鏡處估計或使得能夠估計成像對象在一個維度或兩個維度上的局部相位梯度。

8.根據(jù)權利要求1或7所述的裝置，其中，該裝置被配置為根據(jù)焦斑的加寬或根據(jù)焦斑峰值之外的總信號來獲得或使得能夠獲得關于該對象中的小角度散射的信息。

9.根據(jù)權利要求7或8所述的裝置，其中，該裝置被配置為通過掃描該x射線檢測器(20)前面的光柵或多個針孔來確定或使得能夠確定每個透鏡的焦斑的位置和/或尺寸。

10.根據(jù)權利要求7或8所述的裝置，其中，該x射線檢測器(20)是高分辨率檢測器并且該裝置被配置為通過用該高分辨率檢測器檢測該信號來確定或使得能夠確定每個透鏡的焦斑的位置和/或尺寸，所述檢測器的分辨率高于該焦斑與其標稱尺寸和位置的偏差。

11.根據(jù)權利要求7或8所述的裝置，其中，該裝置被配置為確定或使得能夠確定該焦斑的位置和/或尺寸達到比該檢測器(20)更高的分辨率，其中，該x射線檢測器的兩個或更多個檢測器元件對到達該x射線檢測器(20)的聚焦光子的分布進行采樣。

12.根據(jù)權利要求7至11中任一項所述的裝置，其中，該裝置包括放置在該源(10)前面的光柵或多個針孔，使得該透鏡陣列中的每個透鏡能操作用于對多個光斑進行成像。

13.根據(jù)前述權利要求中任一項所述的裝置，該裝置被配置用于乳腺成像。

14.根據(jù)前述權利要求中任一項所述的裝置，該裝置被配置用于計算機斷層攝影。

15.根據(jù)前述權利要求中任一項所述的裝置，該裝置被配置用于熒光透視成像。

16.根據(jù)前述權利要求中任一項所述的裝置，該裝置被配置為同時采集透射圖像、相襯圖像和暗場圖像中的至少兩種。