[發明專利]光學均衡器、方法和非暫時性計算機可讀介質在審
| 申請號: | 201980094550.5 | 申請日: | 2019-11-25 |
| 公開(公告)號: | CN113632390A | 公開(公告)日: | 2021-11-09 |
| 發明(設計)人: | 稻田浩志 | 申請(專利權)人: | 日本電氣株式會社 |
| 主分類號: | H04B10/294 | 分類號: | H04B10/294;H01S3/10;H04J14/02 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人: | 孫志湧;李蘭 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 均衡器 方法 暫時性 計算機 可讀 介質 | ||
1.一種光學均衡器,包括:
檢測裝置,所述檢測裝置用于基于被復用成波分復用光學信號的多個光學信號當中的至少兩個光學信號的強度來檢測傾斜特性;
光學衰減裝置,所述光學衰減裝置用于將所述波分復用光學信號的強度衰減光學衰減量;以及
光學放大裝置,所述光學放大裝置用于基于與經衰減的所述波分復用光學信號的強度相關聯的增益特性來放大經衰減的所述波分復用光學信號,
其中,基于所述傾斜特性和所述增益特性來控制所述光學衰減量。
2.根據權利要求1所述的光學均衡器,其中,所述檢測裝置基于所述多個光學信號當中具有最小波長的光學信號的強度和所述多個光學信號當中具有最大波長的光學信號的強度來檢測所述傾斜特性。
3.根據權利要求2所述的光學均衡器,其中,所述光學放大裝置包括所述增益特性,其中,
當經衰減的所述波分復用光學信號的強度低于預定光學信號強度時,所述最小波長處的增益大于所述最大波長處的增益,并且
當經衰減的所述波分復用光學信號的所述強度大于所述預定光學信號強度時,所述最小波長處的所述增益小于所述最大波長處的所述增益。
4.根據權利要求3所述的光學均衡器,其中,
當所述多個光學信號當中具有最小波長的光學信號的強度小于所述多個光學信號當中具有最大波長的光學信號的強度時,所述光學衰減量被控制為大于預定光學衰減量,
當所述多個光學信號當中具有最小波長的光學信號的強度等于所述多個光學信號當中具有最大波長的光學信號的強度時,所述光學衰減量被控制為等于所述預定光學衰減量,并且
當所述多個光學信號當中具有最小波長的光學信號的強度大于所述多個光學信號當中具有最大波長的光學信號的強度時,所述光學衰減量被控制為小于所述預定光學衰減量。
5.根據權利要求1至4中的任一項所述的光學均衡器,還包括控制裝置,所述控制裝置用于基于所述傾斜特性和所述增益特性來控制所述光學衰減量,
其中,所述控制裝置控制所述光學衰減量,使得經放大的所述波分復用光學信號的所述傾斜特性在預定傾斜范圍內。
6.根據權利要求5所述的光學均衡器,還包括存儲裝置,所述存儲裝置用于存儲衰減表,在所述衰減表中所述傾斜特性、所述增益特性和所述光學衰減量彼此相關聯,其中,
所述控制裝置基于所述傾斜特性和所述增益特性來從所述衰減表中選擇所述光學衰減量,并且在所述光學衰減裝置中設置選擇的所述光學衰減量,并且
所述光學衰減裝置將所述波分復用光學信號的強度衰減所述選擇的光學衰減量。
7.根據權利要求1至6中的任一項所述的光學均衡器,還包括光學耦合器,所述光學耦合器被配置成將所述波分復用光學信號的一部分分支,
其中,所述檢測裝置從所述波分復用光學信號的所述一部分中檢測所述傾斜特性。
8.根據權利要求1至7中的任一項所述的光學均衡器,還包括光學濾波器,所述多個光學信號當中具有最小波長的光學信號和所述多個光學信號當中具有最大波長的光學信號通過所述光學濾波器,
其中,所述檢測裝置從已經通過所述光學濾波器的所述波分復用光學信號中檢測所述傾斜特性。
9.一種光學均衡器,包括:
光學衰減裝置,所述光學衰減裝置用于將波分復用光學信號的強度衰減光學衰減量;
光學放大裝置,所述光學放大裝置用于基于與經衰減的所述波分復用光學信號的強度相關聯的增益特性來放大經衰減的所述波分復用光學信號;以及
檢測裝置,所述檢測裝置用于基于被復用成經衰減的所述波分復用光學信號的多個光學信號當中的至少兩個光學信號的強度來檢測傾斜特性,
其中,基于所述傾斜特性和所述增益特性來控制所述光學衰減量。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于日本電氣株式會社,未經日本電氣株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201980094550.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





