[發(fā)明專利]用于檢查構(gòu)件、尤其是噴射器的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201980089537.0
• 申請日: 2019-12-11
• 公開（公告）號: CN113302467A
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發(fā)明（設計）人: K-O·恩勒特
• 申請（專利權(quán)）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G01M7/02
• 分類號: G01M7/02;G01M13/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 侯鳴慧

本發(fā)明涉及一種方法(100)，所述方法用于檢查構(gòu)件、尤其是噴射器，并且包括下述方法步驟：a)測量(101)不同質(zhì)量等級的多個參考構(gòu)件的振動譜作為參考譜，其中，對于每個參考構(gòu)件，將對應的參考譜中的頻率線和來自對對應的參考構(gòu)件的結(jié)構(gòu)分析研究中的結(jié)果分別相互配屬，b)激勵(102)待檢查構(gòu)件中的振動，c)測量(103)響應于方法步驟b)發(fā)出的振動作為振動譜，和d)將來自所述構(gòu)件的根據(jù)方法步驟c)所測量的振動譜中的頻率線與來自所述參考構(gòu)件的參考譜中的相應的頻率線進行比較(105)，以便求取至少一個參考譜，該至少一個參考譜在所述頻率線的幅度方面至少與所述構(gòu)件的振動譜不同，并且根據(jù)結(jié)構(gòu)分析研究的配屬于該至少一個參考譜的結(jié)果在缺陷的位置和/或大小方面對構(gòu)件進行分類。

技術領域

本發(fā)明涉及一種用于檢查構(gòu)件、尤其是噴射器的方法，并且此外還涉及一種尤其用于實施這種方法的設備。

背景技術

結(jié)構(gòu)缺陷(例如在由鋼形成的構(gòu)件的架構(gòu)中的非金屬夾雜物)能夠根據(jù)其位置和大小而在運行時損壞構(gòu)件的功能能力并且在相當大的程度上縮短所述構(gòu)件的壽命周期。因此，在設置為用于構(gòu)件生產(chǎn)的原始材料的棒料的情況下，隨機地使用結(jié)構(gòu)分析方法、例如計算機X射線斷層成像，以便感測這種夾雜物的位置和大小。其缺點在于，在使用這種方法時，需要相當高的時間花費并且如果通過這種方法識別出非金屬的夾雜物，則將完整的棒作為廢品從生產(chǎn)過程中移除，從而使得這種方法的使用帶來高成本。

在同樣在棒料的情況下所使用的并且用于缺陷感測的其他方法中，待檢查的物體放置到浸滲池中并且暴露在超聲脈沖中，以便感測鋼架構(gòu)中的缺陷或者說夾雜物。出于物理原因，該方法在探測較大的夾雜物時表現(xiàn)出比較低的可靠性。

發(fā)明內(nèi)容

具有權(quán)利要求1的特征的方法具有下述優(yōu)點：能夠快速且可靠地判斷構(gòu)件的質(zhì)量。為此，所述方法包括下述步驟：a)測量不同質(zhì)量等級的多個參考構(gòu)件的振動譜作為參考譜，其中，對于每個參考構(gòu)件，將對應的參考譜中的頻率線和來自對對應的參考構(gòu)件的結(jié)構(gòu)分析研究中的結(jié)果分別相互配屬，b)激勵待檢查構(gòu)件中的振動，c)測量響應于方法步驟b)發(fā)出的振動作為振動譜，和d)將來自該構(gòu)件的根據(jù)方法步驟c)所測量的振動譜中的頻率線與來自參考構(gòu)件的參考譜中的相應的頻率線進行比較，以便求取至少一個參考譜，該至少一個參考譜在頻率線的幅度方面至少與構(gòu)件的振動譜不同，并且根據(jù)配屬于該至少一個參考譜的結(jié)構(gòu)分析研究結(jié)果在缺陷的位置和/或大小方面對該構(gòu)件進行分類。

因此，本發(fā)明的基本構(gòu)思在于，在第一階段中，借助兩個彼此獨立地操作且在物理方面以不同方式工作的測量方法對屬于待檢查構(gòu)件的結(jié)構(gòu)類型的參考構(gòu)件進行表征并且基于經(jīng)驗檢驗將這些測量方法各自的結(jié)果相互關聯(lián)，并且在包括方法步驟b)至d)在內(nèi)且作為檢查階段與第一階段分開運行的第二階段中進行構(gòu)件檢查，其方式是，訪問在先前的第一階段中獲得的數(shù)據(jù)收集，以便——通過將待檢查構(gòu)件的在檢查階段中剛測量的振動譜與參考構(gòu)件的參考譜進行比較——求取至少一個參考構(gòu)件，該參考構(gòu)件的參考譜在頻率線方面最接近待檢查構(gòu)件的振動譜；因為來自對該參考構(gòu)件的結(jié)構(gòu)分析研究中的關于缺陷或夾雜物的位置和/或大小的信息與在數(shù)據(jù)收集的相應的參考譜中出現(xiàn)單個或者多個頻率線相關聯(lián)，所以這用作用于將待檢查構(gòu)件分類為類別“好”或“差”的量度并且因此用作用于待檢查構(gòu)件中的缺陷的位置和/或大小的量度。這種缺陷能夠作為非金屬夾雜物或者作為在生產(chǎn)過程期間產(chǎn)生的加工錯誤而存在。在數(shù)據(jù)收集中所感測的參考構(gòu)件數(shù)量和質(zhì)量等級數(shù)量越大，則分類所基于的量度就越準確。

根據(jù)本發(fā)明的方法的一種優(yōu)選且有利的構(gòu)型在于，e)相應于一系列待檢查構(gòu)件的數(shù)量地多次重復方法步驟b)至d)。由此，根據(jù)本發(fā)明的方法適用于在如下生產(chǎn)線中使用，在該生產(chǎn)線中重復運行所述檢查階段。與在生產(chǎn)鏈開始時檢驗棒狀材料的傳統(tǒng)方法不同，借助根據(jù)本發(fā)明的方法能實現(xiàn)，在缺陷方面對在生產(chǎn)線中到達制造過程終點的構(gòu)件進行檢驗。

為了進行比較，根據(jù)步驟d)，求出一方面構(gòu)件的振動譜的與另一方面參考構(gòu)件的參考譜的彼此相應的頻率線的幅度的對應的差，以便能夠根據(jù)對應的偏差來分析評價構(gòu)件的振動譜與最接近的參考構(gòu)件的參考譜之間的用作用于分類的量度的一致度。