[發明專利]沖壓成型品的縮頸判定方法、沖壓成型品的縮頸判定裝置以及程序

在審

• 申請號: 201980080389.6
• 申請日: 2019-11-06
• 公開（公告）號: CN113167572A
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發明（設計）人: 杉山實;望月宏紀;川村風人;明元英樹
• 申請（專利權）人: 優尼沖壓株式會社
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30;G01B11/24
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種沖壓成型品的縮頸判定方法，包括以下步驟：

獲取步驟，獲取表示包含沖壓成型品的預先決定的部位的第一位置的二維表面形狀的第一波形；

導出步驟，導出所述第一波形的變化量；以及

判定步驟，基于所述第一波形的變化量來判定在所述預先決定的部位是否發生了縮頸。

2.根據權利要求1所述的沖壓成型品的縮頸判定方法，其中，

在所述判定步驟中，在所述變化量滿足預先決定的變化圖案的情況下，判定為在所述預先決定的部位發生了縮頸。

3.根據權利要求2所述的沖壓成型品的縮頸判定方法，其中，

所述判定步驟包括以下步驟：基于所述第一波形的每單位距離的差分是否滿足所述預先決定的變化圖案，來判定在所述預先決定的部位是否發生了所述縮頸。

4.根據權利要求2所述的沖壓成型品的縮頸判定方法，其中，

所述判定步驟包括以下步驟：基于所述第一波形的一階微分波形的每單位距離的差分是否滿足預先決定的變化圖案，來判定在所述預先決定的部位是否發生了所述縮頸。

5.根據權利要求1或2所述的沖壓成型品的縮頸判定方法，其中，

所述導出步驟包括以下步驟：通過對所述第一波形進行微分處理來導出所述變化量。

6.根據權利要求5所述的沖壓成型品的縮頸判定方法，其中，

所述導出步驟包括以下步驟：通過對所述第一波形進行二階微分來導出第一波形的二階微分波形作為所述變化量，

所述判定步驟包括以下步驟：基于所述第一波形的二階微分波形來判定在所述預先決定的部位是否發生了縮頸。

7.根據權利要求6所述的沖壓成型品的縮頸判定方法，其中，

所述判定步驟包括以下步驟：基于所述第一波形的二階微分波形上的極大點和極小點，來判定在所述預先決定的部位是否發生了所述縮頸。

8.根據權利要求7所述的沖壓成型品的縮頸判定方法，其中，

所述判定步驟包括以下步驟：基于所述第一波形的二階微分波形上的彼此相鄰且其間包含零點的極大點與極小點之差，來判定在所述預先決定的部位是否發生了所述縮頸。

9.根據權利要求1至8中的任一項所述的沖壓成型品的縮頸判定方法，其中，

所述獲取步驟包括以下步驟：獲取由激光位移計測量出的表示包含所述沖壓成型品的預先決定的部位的所述第一位置的二維表面形狀的所述第一波形，所述激光位移計向所述預先決定的部位照射激光，并且接收來自所述預先決定的部位的反射光。

10.根據權利要求9所述的沖壓成型品的縮頸判定方法，其中，

所述激光位移計使在與所述預先決定的部位的長邊方向不同的短邊方向上延伸的線激光沿著所述長邊方向掃描，

所述獲取步驟包括以下步驟：獲取由所述激光位移計測量出的表示包含所述預先決定的部位的第二位置的二維表面形狀的第二波形，所述第二位置在所述預先決定的部位的長邊方向上與所述第一位置不同，

所述導出步驟包括以下步驟：通過對所述第二波形進行二階微分來導出第二波形的二階微分波形，

所述判定步驟包括以下步驟：基于所述第一波形的二階微分波形和所述第二波形的二階微分波形來判定在所述預先決定的部位是否發生了所述縮頸。

11.根據權利要求10所述的沖壓成型品的縮頸判定方法，其中，

所述判定步驟包括以下步驟：在所述第一波形的二階微分波形上的彼此相鄰且其間包含零點的極大點與極小點之差、以及所述第二波形的二階微分波形上的彼此相鄰且其間包含零點的極大點與極小點之差分別為預先決定的閾值以上的情況下，判定為在所述預先決定的部位發生了所述縮頸。