[發明專利]探頭

在審

• 申請號: 201980074027.6
• 申請日: 2019-11-13
• 公開（公告）號: CN113039442A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 末政肇;劍崎真一
• 申請（專利權）人: 株式會社村田制作所
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R1/073;H01R13/631;H01R43/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王瑋;張豐橋

用于進行連接器的特性檢查的探頭具備柱塞、同軸電纜、凸緣以及外殼，外殼的一側端部具有從主體部起沿水平方向擴徑的擴徑部，在凸緣的上表面形成有將貫通孔沿水平方向放大的凹部，用以承接外殼的擴徑部，擴徑部具有與凸緣的形成凹部的內側面局部接觸或者對置的側壁、和抵接于凸緣的形成凹部的上表面的底壁，擴徑部具有將側壁與底壁連接的連接面，連接面是從側壁朝向底壁地向內側傾斜的傾斜面；或者，凸緣的形成凹部的內側面具有向斜下方傾斜的第一面，鉛垂面是從第一面起向下方延伸并與凸緣的上表面連接的第二面。

技術領域

本發明涉及連接器用探頭。

背景技術

以往，公開有用于進行作為被檢查體的連接器的特性檢查的探頭(例如參照專利文獻1)。

專利文獻1的探頭尤其是進行設置有多個端子用以使多個信號流動的多極連接器的特性檢查的設備。專利文獻1的探頭具備能夠與多極連接器的多個端子同時接觸的多個探針。

專利文獻1：日本國際公開第2016/072193號公報

關于連接器的探頭，要求提高特性檢查的精度。如專利文獻1的探頭那樣，在使多個探針與多個端子分別同時接觸的情況下，容易產生端子與探針之間的錯位，特性檢查的精度容易降低。包含專利文獻1所公開那樣的探頭在內，要求開發能夠更高精度地進行連接器的端子的特性檢查的技術。

發明內容

因此，本發明的目的在于解決上述問題，提供能夠更高精度地進行連接器的端子的特性檢查的探頭。

為了實現上述目的，本發明的一個方式的探頭用于進行連接器的特性檢查，其中，具備：凸緣，其具有貫通孔，上述貫通孔配置成沿鉛垂方向延伸；同軸電纜，其插通于上述貫通孔并沿軸向延伸，在末端部連接有探針；柱塞，其內包上述探針并且使上述探針的末端暴露；以及外殼，其具有內包上述同軸電纜的筒狀的形狀，一側端部與上述凸緣嵌合，另一側端部安裝于上述柱塞，上述外殼具備被插通于上述凸緣的上述貫通孔的筒狀的主體部，上述外殼的上述一側端部具有從上述主體部起沿水平方向擴徑的擴徑部，在上述凸緣的上表面形成有將上述貫通孔沿水平方向放大的凹部，用以承接上述外殼的上述擴徑部，上述擴徑部具有與上述凸緣的形成上述凹部的內側面局部接觸或者對置的側壁、和抵接于上述凸緣的形成上述凹部的上表面的底壁，上述擴徑部具有將上述側壁與上述底壁連接的連接面，上述連接面是從上述側壁朝向上述底壁地向內側傾斜的傾斜面；或者，上述凸緣的形成上述凹部的上述內側面具有向斜下方傾斜的第一面、和從上述第一面起向下方延伸并與上述凸緣的上述上表面連接的作為鉛垂面的第二面。

另外，本發明的其他方式的探頭用于進行連接器的特性檢查，其中，具備：凸緣，其具有貫通孔，上述貫通孔配置成沿鉛垂方向延伸的；同軸電纜，其插通于上述貫通孔并沿軸向延伸，在末端部連接有探針；柱塞，其內包上述探針并且使上述探針的末端暴露；以及外殼，其具有內包上述同軸電纜的筒狀的形狀，一側端部與上述凸緣嵌合，另一側端部安裝于上述柱塞，上述外殼具備被插通于上述凸緣的上述貫通孔的筒狀的主體部，上述外殼的上述一側端部具有從上述主體部起沿水平方向擴徑的擴徑部，在上述凸緣的上表面形成有將上述貫通孔沿水平方向放大的凹部，用以承接上述外殼的上述擴徑部，上述擴徑部具有與上述凸緣的形成上述凹部的內側面局部接觸或者對置的側壁、和抵接于上述凸緣的形成上述凹部的上表面的底壁，在上述擴徑部的上述底壁抵接于上述凸緣的上述上表面的狀態下，在上述擴徑部的上述側壁與上述凸緣的上述內側面之間，形成有用于上述擴徑部能夠沿上述水平方向移動的間隙。

根據本發明的探頭，能夠更高精度地進行連接器的端子的特性檢查。

附圖說明

圖1是實施方式1的探頭的立體圖。

圖2是實施方式1的探頭的立體圖。

圖3是表示圖2的A-A截面的剖視立體圖。

圖4是表示圖1的B-B截面的剖視立體圖。