[發明專利]光檢測設備和距離測量設備在審
| 申請號: | 201980074022.3 | 申請日: | 2019-11-15 |
| 公開(公告)號: | CN112997097A | 公開(公告)日: | 2021-06-18 |
| 發明(設計)人: | 小澤治 | 申請(專利權)人: | 索尼半導體解決方案公司 |
| 主分類號: | G01S7/486 | 分類號: | G01S7/486;G01C3/06;G01S17/10;H03K17/78 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 余剛 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 設備 距離 測量 | ||
1.一種光檢測設備,包括:
光接收元件;
負載電路,連接到所述光接收元件;
開關電路,連接到所述光接收元件;以及
反饋電路,被配置為根據來自所述光接收元件的輸出操作所述開關電路,其中,
所述反饋電路具有延遲電路。
2.根據權利要求1所述的光檢測設備,其中:
所述延遲電路的延遲量是可變的。
3.根據權利要求2所述的光檢測設備,其中:
根據所述光接收元件的元件特性來控制所述延遲電路的所述延遲量。
4.根據權利要求3所述的光檢測設備,其中:
所述光接收元件的所述元件特性是所述光接收元件的溫度。
5.根據權利要求2所述的光檢測設備,其中:
基于電源電壓的波動的監測結果來控制所述延遲電路的所述延遲量。
6.根據權利要求1所述的光檢測設備,其中:
所述反饋電路還包括比較器。
7.根據權利要求6所述的光檢測設備,其中:
所述比較器被配置為接收來自所述光接收元件的輸出作為比較輸入,接收參考電壓作為比較參考輸入,并且將其比較結果作為輸入提供給所述延遲電路。
8.根據權利要求7所述的光檢測設備,其中:
所述比較器的所述參考電壓的電壓值是可變的。
9.根據權利要求7所述的光檢測設備,其中:
所述比較器的所述比較結果基于所述光接收元件的輸出導出為像素電路輸出。
10.根據權利要求7所述的光檢測設備,其中:
包括所述反饋電路的路徑被提供為與用于導出所述光接收元件的輸出作為像素電路輸出的路徑分開的路徑。
11.根據權利要求1所述的光檢測設備,其中:
所述光接收元件是被配置為響應于接收光子而產生信號的元件。
12.根據權利要求11所述的光檢測設備,其中:
所述光接收元件由單光子雪崩二極管構成。
13.一種距離測量設備,包括:
光源,被配置為向測量對象輻射光;以及
光檢測設備,被配置為檢測在所述測量對象上反射的光,其中,
所述光檢測設備包括:
光接收元件;
負載電路,連接到所述光接收元件;
開關電路,連接到所述光接收元件;以及
反饋電路,被配置根據來自所述光接收元件的輸出來操作所述開關電路,以及
所述反饋電路具有延遲電路。
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