[發明專利]用于求取流體流在顆粒傳感器區域中的速度的方法和設備

在審

• 申請號: 201980072685.1
• 申請日: 2019-10-11
• 公開（公告）號: CN112997083A
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發明（設計）人: S·施耐德;R·魯薩諾夫;O·克拉依爾
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G01P5/20
• 分類號: G01P5/20;G01F1/708;G01P5/08
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 郭毅

1.一種用于求取流體流(A1)在顆粒傳感器(100；100a；100b；100c；100d)的區域中的速度(v_exhaust)的方法，其中，所述流體流(A1)沿著流動路徑(102)運動，其中，所述顆粒傳感器(100；100a；100b；100c；100d)具有布置在所述流動路徑(102)的第一位置(P1)處的顆粒充電裝置(104)以及布置在所述流動路徑(102)的第二位置(P2)處的測量裝置(106)，所述第二位置相對于所述第一位置(P1)位于下游，所述顆粒充電裝置用于對所述流體流(A1)中的顆粒進行充電，所述測量裝置用于求取所述流體流(A1)的至少一個電參量，其中，所述方法具有以下步驟：求取(200)第一時間變化曲線(V1)，所述第一時間變化曲線表征所述顆粒充電裝置(104)的電參量(i_cor)，借助所述測量裝置(106)求取(202)第二時間變化曲線(V2)，所述第二時間變化曲線表征所述流體流(A1)的至少一個電參量(i_trap；Q_sens)，相對于所述第一時間變化曲線(V1)分析處理(204)所述第二時間變化曲線(V2)。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述分析處理(204)包括對所述第一時間變化曲線(V1)和所述第二時間變化曲線(V2)進行時間上的相關(204a)。

3.根據以上權利要求中至少一項所述的方法，其中，所述顆粒充電裝置(104)具有電暈電極(104a)，其中，所述第一時間變化曲線(V1)表征流過所述電暈電極(104a)的電暈電流(i_cor)。

4.根據以上權利要求中至少一項所述的方法，其中，所述測量裝置(106)具有測量電極(106a)，其中，所述第二時間變化曲線(V2)表征流過所述測量電極(106a)的測量電流(i_trap)。

5.根據以上權利要求中至少一項所述的方法，其中，改變施加在所述電暈電極(104a)上的電暈電壓(u_cor)，尤其借助能夠預規定的調制信號進行調制。

6.根據以上權利要求中至少一項所述的方法，其中，所述測量裝置(106)具有離子阱(107)和/或感測電極(109；109a)，其中，所述第二時間變化曲線(V2)尤其表征在所述感測電極(109；109a)處探測到的電荷(Q_sens)。

7.根據以上權利要求中至少一項所述的方法，其中，根據所述第一時間變化曲線(V1)與所述第二時間變化曲線(V2)之間的時間偏差(τ)來求取所述流體流(A1)的速度(v_exhaust)。

8.一種用于求取流體流(A1)在顆粒傳感器(100；100a；100b；100c；100d)的區域中的速度(v_exhaust)的設備(300；300a)，其中，所述流體流(A1)沿著流動路徑(102)運動，其中，所述顆粒傳感器(100；100a；100b；100c；100d)具有布置在所述流動路徑(102)的第一位置(P1)處的顆粒充電裝置(104)以及布置在所述流動路徑(102)的第二位置(P2)處的測量裝置(106)，所述第二位置相對于所述第一位置(P1)位于下游，所述顆粒充電裝置用于對所述流體流(A1)中的顆粒進行充電，所述測量裝置用于求取所述流體流(A1)的至少一個電參量，其中，所述設備(300；300a)構造為用于實施以下步驟：求取(200)第一時間變化曲線(V1)，所述第一時間變化曲線表征所述顆粒充電裝置(102)的電參量，借助所述測量裝置(106)求取(202)第二時間變化曲線(V2)，所述第二時間變化曲線表征所述流體流(A1)的至少一個電參量，相對于所述第一時間變化曲線(V1)分析處理(204)所述第二時間變化曲線(V2)。

9.根據權利要求8所述的設備(300；300a)，其中，所述設備(300；300a)構造為用于實施根據權利要求2至7中至少一項所述的方法。