[發明專利]用于測試軸承的測試臺和方法在審
| 申請號: | 201980071963.1 | 申請日: | 2019-11-20 |
| 公開(公告)號: | CN113039421A | 公開(公告)日: | 2021-06-25 |
| 發明(設計)人: | 安德烈亞斯·施陶迪格爾;赫爾曼·賴歇爾特;克勞斯·柯尼希 | 申請(專利權)人: | 舍弗勒技術股份兩合公司 |
| 主分類號: | G01M13/04 | 分類號: | G01M13/04 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人: | 潘小軍;賈翼鷗 |
| 地址: | 德國黑措*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 測試 軸承 方法 | ||
1.一種用于測試軸承(18)特別地機動車輛的車輪軸承的測試臺,所述測試臺具有:
能夠旋轉的驅動凸緣(24),所述能夠旋轉的驅動凸緣用于驅動待測試的所述軸承(18)的第一軸承環(20),所述第一軸承環特別地設計為內環;以及
保持軸承(14),所述保持軸承用于支撐待測試的所述軸承(18)并且用于將測試力引入待測試的所述軸承(18)中,
其特征在于,
所述保持軸承(14)設計為三環軸承,其具有:
第一支撐環(30),所述第一支撐環能夠固定到待測試的所述軸承(18)的特別地設計為外環的第二軸承環(26)上,所述第二軸承環能夠相對于所述第一軸承環(20)旋轉,
第二支撐環(33),所述第二支撐環以旋轉固定的方式固定;以及
中間環(32),所述中間環以能夠相對旋轉的方式安裝在所述第一支撐環(30)和所述第二支撐環(33)之間,
并且
所述中間環(32)聯接到驅動電機(34),以使所述中間環(32)相對于所述第一支撐環(30)和所述第二支撐環(33)旋轉。
2.根據權利要求1所述的測試臺,其特征在于,特別地設計為負載傳感器的測力計(42)基本上沿切向方向作用在所述第二軸承環(26)上,其中力方向從所述驅動凸緣(24)的旋轉軸線徑向偏移。
3.根據權利要求2所述的測試臺,其特征在于,所述測力計(42)的所述力方向定向成基本上垂直于能夠在所述第二支撐環(33)上引入的測試力。
4.根據權利要求1至3中的一項所述的測試臺,其特征在于,所述驅動電機(34)被設計成使所述中間環(32)在兩個圓周方向上旋轉。
5.根據權利要求1至4中的一項所述的測試臺,其特征在于,所述第二支撐環(33)以旋轉固定的方式緊固到測試框架(12)以引入測試力,其中特別地,所述測試框架(12)被設計用于外加特別地對應于接觸力的垂直測試力和/或用于施加特別地對應于縱向力的水平測試力,和/或用于外加特別地對應于橫向力的軸向測試力。
6.根據權利要求1至5中的一項所述的測試臺,其特征在于,所述第一支撐環(30)和所述第二支撐環(33)經由特別地相同形狀的滾動元件特別地球體安裝在所述中間環(32)上。
7.根據權利要求1至6中的一項所述的測試臺,其特征在于,所述驅動電機(34)經由皮帶(38)特別地平帶或V帶聯接到所述中間環(32)。
8.根據權利要求1至7中的一項所述的測試臺,其特征在于,所述第一支撐環(30)具有用于附接到所述第二軸承環(26)的能夠更換的適配器件(28)。
9.一種用于測試軸承(18)特別地機動車輛的車輪軸承的方法,其中
將待測試的軸承(18)緊固到根據權利要求1至8中的一項所述的測試臺(10)的驅動凸緣(24)和所述測試臺(10)的所述第一支撐環(30)上,
將所述驅動凸緣(24)設置成旋轉,
將特別地經由所述第二支撐環(33)引入的測試力施加到待測試的所述軸承(18)上,
使所述中間環(32)在第一圓周方向上旋轉以克服與所述第一支撐環(30)和所述第二支撐環(33)的靜摩擦,
在所述驅動凸緣(24)旋轉期間以及在所述中間環(32)在所述第一圓周方向上旋轉期間,測量垂直于所述測試力的所述力方向作用的切向第一測量力,
使所述中間環(32)在與所述第一圓周方向相反的第二圓周方向上旋轉以克服與所述第一支撐環(30)和所述第二支撐環(33)的靜摩擦,
在所述驅動凸緣(24)旋轉期間以及在所述中間環(32)在所述第二圓周方向上旋轉期間,測量垂直于所述測試力的所述力方向作用的切向第二測量力,以及
根據所述第一測量力和所述第二測量力計算待測試的所述軸承(18)在所施加的測試力下的摩擦力。
10.根據權利要求9所述的方法,其特征在于,待測試的所述軸承(18)由具有不同內徑和/或不同外徑的待測試的另外的軸承替換,其中待測試的所述另外的軸承的第二軸承環(26)經由能夠更換的適配器件(28)附接到第一支撐環(30),和/或待測試的所述另外的軸承的第一軸承環(20)經由能夠更換的適配器凸緣(22)附接到所述驅動凸緣(24)。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于舍弗勒技術股份兩合公司,未經舍弗勒技術股份兩合公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201980071963.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:用于形成包括凹陷側電極的顯示器的系統及方法
- 下一篇:自動分析裝置





