[發明專利]光學模塊和測距裝置在審
| 申請號: | 201980070911.2 | 申請日: | 2019-10-17 |
| 公開(公告)號: | CN112956034A | 公開(公告)日: | 2021-06-11 |
| 發明(設計)人: | 前田俊治 | 申請(專利權)人: | 索尼半導體解決方案公司 |
| 主分類號: | H01L31/12 | 分類號: | H01L31/12;G01C3/06 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 余剛 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 模塊 測距 裝置 | ||
根據本公開的光學模塊設置有:發光部(10),能夠發光;光接收部(20),具有第一光接收部和第二光接收部;第一蓋部(30),設置在發光部(10)的光出射側,并且能夠在目標(2)的方向上引導作為從發光部(10)發出的光的一部分的第一光(L1),并且能夠在與目標(2)的方向不同的方向上引導作為從發光部(10)發射的光的另一部分的第二光(L2);以及第二蓋部(40),設置在光接收部(20)的光入射側,能夠在第一光接收部的方向上引導被目標(2)反射的第一光(L1)而形成的反射光(L1R),并且能夠在第二光接收部的方向上引導從第一蓋部(30)引導的第二光(L2)。
技術領域
本公開涉及一種測量到目標的距離的測距裝置,以及在這種測距裝置中使用的光學模塊。
背景技術
測距裝置使用例如不施加光的被動方法和施加光的主動方法。被動方法包括多眼方法等,主動方法包括TOF(飛行時間)方法等。
TOF方法是一種測量被測量目標反射回的光的延遲時間,并基于該延遲時間測量到目標的距離的方法(例如,參見專利文獻1)。
引文清單
專利文獻
PTL 1:美國未審查專利申請公開第2018/0026058號。
發明內容
順便提及,在測距裝置中,期望更容易地提供用于校準從測距裝置獲得的到測距目標的距離的光路。
期望提供一種能夠更容易地提供用于校準到測距目標的距離的光路的測距裝置,以及用在該測距裝置中的光學模塊。
根據本公開的一個實施例的光學模塊包括發光部、光接收部、第一蓋部和第二蓋部。發光部被配置為發光。光接收部包括第一光接收部和第二光接收部。第一蓋部設置在發光部的光出射側。第一蓋部被配置為在目標方向上引導作為從發光部發出的光的一部分的第一光,并且在與目標的方向不同的方向上引導作為從發光部發射的光的另一部分的第二光。第二蓋部設置在光接收部的光入射側。第二蓋部被配置為在第一光接收部的方向上引導作為被目標反射的第一光的反射光,并且在第二光接收部的方向上引導從第一蓋部引導的第二光。
根據本公開的一個實施例的測距裝置包括發光部,光接收部,第一蓋部,第二蓋部和處理器。發光部被配置為發光。光接收部包括第一光接收部和第二光接收部。第一蓋部設置在發光部的光出射側。第一蓋部被配置為在目標方向上引導作為從發光部發出的光的一部分的第一光,并且在與目標的方向不同的方向上引導作為從發光部發射的光的另一部分的第二光。第二蓋部設置在光接收部的光入射側。第二蓋部被配置為在第一光接收部的方向上引導作為被目標反射的第一光的反射光,并且在第二光接收部的方向上引導從第一蓋部引導的第二光。處理器被配置為基于響應于入射在第一光接收部上的反射光而從第一光接收部輸出的第一像素信號計算到目標的距離。處理器還被配置為基于響應于入射在第二光接收部上的第二光而從第二光接收部輸出的第二像素信號校準距離。
在根據本公開的一個實施例的光學模塊中,作為從發光部發射的光的一部分的第一光透射通過第一蓋部進入目標,并且來自目標的反射光透射通過第二蓋部進入第一光接收部。另一方面,作為從發光部發射的光的另一部分的第二光被第一蓋部向在與目標不同的方向上引導,并被第二蓋部引導至第二光接收部而進入第二光接收部。
在根據本公開的一個實施例的測距裝置中,作為從發光部發射的光的一部分的第一光透射通過第一蓋部進入目標,并且來自目標的反射光透射通過第二蓋部進入第一光接收部。然后,基于來自第一光接收部的第一像素信號,計算到目標的距離。另一方面,作為從發光部發射的光的另一部分的第二光被第一蓋部在與目標不同的方向上引導,并被第二蓋部引導至第二光接收部而進入第二光接收部。然后,基于來自第二光接收部的第二像素信號,校準到目標的距離。
附圖說明
[圖1]圖1是示出根據本公開的一個實施例的測距裝置的示例配置的示意圖。
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H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





