[發明專利]多通道單站測距儀在審
| 申請號: | 201980066877.1 | 申請日: | 2019-09-10 |
| 公開(公告)號: | CN112823290A | 公開(公告)日: | 2021-05-18 |
| 發明(設計)人: | M.拉斯特;A.奇盧穆拉 | 申請(專利權)人: | 偉摩有限責任公司 |
| 主分類號: | G01S7/481 | 分類號: | G01S7/481;G01S17/08;G02B27/30 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 金玉潔 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 通道 測距儀 | ||
1.一種光學系統,包括:
第一基板,其中所述第一基板包括安裝表面;
間隔物結構,其中所述間隔物結構包括第一表面以及與所述第一表面相反的第二表面,其中所述間隔物結構包括至少一個腔室,其中所述間隔物結構的所述第一表面聯接到所述第一基板的所述安裝表面;
至少一個發光器裝置,其中所述至少一個發光器裝置聯接到所述間隔物結構的所述第二表面;
至少一個檢測器裝置,其中所述至少一個檢測器裝置聯接到所述第一基板的所述安裝表面,使得所述至少一個檢測器裝置設置在所述間隔物結構的所述至少一個腔室內;
第二基板,其中所述第二基板包括安裝表面,其中所述第二基板的所述安裝表面聯接到所述間隔物結構的所述第二表面;
墊片,聯接在所述間隔物結構的所述第二表面和所述第二基板的所述安裝表面之間;
至少一個透鏡,聯接到所述第二基板的所述安裝表面;以及
至少一個波導,聯接到所述第二基板的所述安裝表面。
2.根據權利要求1所述的光學系統,還包括居間蓋,其中所述居間蓋聯接到所述間隔物結構的所述第二表面,其中所述居間蓋包括至少一個孔,所述至少一個孔限定穿過所述間隔物結構的所述至少一個腔室到所述至少一個檢測器裝置的光路。
3.根據權利要求1所述的光學系統,其中所述至少一個發光器裝置配置為朝所述至少一個透鏡發射光,使得所發射的光的至少一部分被光學耦合到所述至少一個波導中作為光學耦合光。
4.根據權利要求3所述的光學系統,其中所述至少一個波導包括至少一個反射表面,以及其中所述光學耦合光的至少一部分與所述反射表面相互作用從而被朝向外部環境引導。
5.根據權利要求1所述的光學系統,其中所述第二基板包括對所述至少一個發光器裝置所發射的光透明的材料。
6.根據權利要求5所述的光學系統,其中所述至少一個檢測器裝置配置為接收來自外部環境經過所述第二基板、所述至少一個波導和所述至少一個孔的光。
7.根據權利要求1所述的光學系統,還包括電路板,其中所述電路板借助于多個受控塌陷焊料球聯接到所述第一基板的表面。
8.根據權利要求1所述的光學系統,其中所述至少一個透鏡包括圓柱形透鏡,其中所述圓柱形透鏡配置為使所述至少一個發光器裝置所發射的光準直。
9.根據權利要求8所述的光學系統,其中所述圓柱形透鏡包括光纖。
10.根據權利要求1所述的光學系統,還包括配置為控制所述至少一個發光器裝置的一個或更多個脈沖發生器電路,其中所述一個或更多個脈沖發生器電路設置在所述間隔物結構的所述第二表面上,以及其中所述至少一個發光器裝置借助于一個或更多個焊線電聯接到所述一個或更多個脈沖發生器電路。
11.一種方法,包括:
在間隔物結構中形成至少一個腔室,其中所述間隔物結構包括第一表面以及與所述第一表面相反的第二表面;
將至少一個檢測器裝置聯接到第一基板的安裝表面并將所述第一基板的所述安裝表面聯接到所述間隔物結構的所述第一表面,使得所述至少一個檢測器裝置設置在所述間隔物結構的所述至少一個腔室內;
將至少一個發光器裝置聯接到所述間隔物結構的所述第二表面;
確定所述至少一個發光器裝置的表面和所述間隔物結構的所述第二表面之間的臺階高度;
基于所確定的臺階高度選擇墊片;
將至少一個透鏡和至少一個波導聯接到第二基板的安裝表面;以及
借助于所選擇的墊片將所述第二基板的所述安裝表面聯接到所述間隔物結構的所述第二表面。
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