[發明專利]圖像校正

在審

• 申請號: 201980065314.0
• 申請日: 2019-09-27
• 公開（公告）號: CN112997213A
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發明（設計）人: S·麥特簡;G·杰古;J-M·福吉耶;C·貝格拉特
• 申請（專利權）人: 史密斯探測法國股份公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G01V5/00
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司 11283
• 代理人: 肖冰濱;王曉曉

在一個實施例中，公開了一種用于利用X射線檢查貨物的方法，包括：用包括至少兩行檢測器的矩陣掃描貨物，其中，貨物的由第一X射線脈沖照射的每個區域由至少一個第二X射線脈沖照射，并且與第一X射線脈沖相對應的輻射由矩陣的第一行檢測，并且與至少一個第二脈沖相對應的輻射由矩陣的至少一個第二行檢測；生成針對所述矩陣的所述第一行的所述貨物的第一圖像和針對所述矩陣的所述至少一個第二行的所述貨物的至少一個第二圖像；針對所述貨物的由所述第一X射線脈沖和由所述至少一個第二X射線脈沖照射的每個區域，通過確定所述第一圖像和所述至少一個第二圖像的對應像素之間的局部相互移位來確定所述貨物與所述矩陣之間的局部相互寄生移位；通過對所確定的局部相互移位求和來確定總相互寄生移位；以及基于第一圖像和至少一個第二圖像中的至少一者以及基于所確定的總相互寄生移位，生成沒有相互寄生移位的貨物的校正圖像。

技術領域

本公開涉及但不限于一種利用X射線檢查貨物的方法。本公開還涉及但不限于相應的檢查系統和相應的計算機產品或計算機程序。

背景技術

利用X射線檢查貨物可以通過以下方式進行：使貨物和包括檢測器的掃描儀相互移位一相互掃描移位來掃描貨物，并且利用掃描儀檢測在相互掃描移位期間由照射貨物的多個連續X射線脈沖產生的輻射。

在移動模式中，使貨物和掃描儀相互移位包括在相互掃描移位期間使貨物相對于地面保持靜止并且使掃描儀相對于地面移位。

在通過式或門式模式中，使貨物和掃描儀相互移位包括在掃描移位期間使掃描儀相對于地面保持靜止并且使貨物相對于地面移位。

在移動模式中，即使在平坦地面上，檢測器也可能具有垂直和縱向(例如，在相互掃描移位的方向上)寄生移位(例如，諸如垂直移位、旋轉移位和/或鐘擺移位)，這可能導致圖像偽影(artefact)并降低圖像質量。檢測器的寄生移位可能產生波，使得大多數真實直線可能不會在基于檢查而產生的圖像上表現為直線。

在通過式模式中，貨物的速度可能是不規則的，這也可能導致圖像偽影并降低圖像質量。速度的不均勻性可能導致圖像上的水平拉伸或壓縮。這些偽影表現為局部水平寄生移位。

發明內容

本發明的方面和實施例在所附權利要求中闡述。本發明的這些和其它方面和實施例也在此描述。

附圖說明

現在將參考附圖通過示例的方式描述本公開的實施例，其中：

圖1示出了示出根據本公開的示例方法的流程圖；

圖2示意性地示出了被配置為至少部分地實現圖1的示例方法的示例系統；

圖3示出了根據本公開的示例矩陣；

圖4示意性地示出了由第一X射線脈沖P1和由至少一個第二X射線脈沖(即脈沖P2、P3、P4和P5)輻射的貨物的示例區域Z1；

圖5示意性地示出了疊加在相互掃描移位SD上的示例性相互寄生垂直移位PDy；

圖6A和6B示意性地示出了不同行的簡化圖像的示例，其中圖6A示意性地示出了沒有對掃描移位SD進行校正的圖像，并且圖6B示意性地示出了具有對掃描移位SD進行校正的圖像；

圖7示意性地示出了來自兩個不同檢測行(例如，行1和行5)的兩個圖像之間的移位場和瞬時移位場的估計；

圖8A示意性地示出了所獲取的圖像的坐標；

圖8B示意性地示出了圖8A的所獲取圖像的實際位置的坐標；以及

圖9A和9B示意性地示出了對于給定像素(i'，j')，如何確定其圖像由于失真而重疊(i'，j')的像素(i，j)。

在附圖中，類似的元件具有相同的附圖標記。

具體實施方式