[發(fā)明專利]用于檢測激光焊接保護玻璃的裝置和方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201980059992.6 | 申請日: | 2019-08-19 |
| 公開(公告)號: | CN112739488A | 公開(公告)日: | 2021-04-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | G·庫迪克 | 申請(專利權(quán))人: | 奧托立夫開發(fā)公司 |
| 主分類號: | B23K26/03 | 分類號: | B23K26/03;G01N21/94;B23K26/70;G01N21/88;G01N21/958 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 楊貝貝;臧建明 |
| 地址: | 瑞典沃*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 檢測 激光 焊接 保護 玻璃 裝置 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種被設(shè)計成用于測試具有激光波長的焊接激光束的光學(xué)透射系統(tǒng)的光學(xué)部件諸如保護玻璃的光學(xué)檢測裝置,該光學(xué)檢測裝置包括:?光源,該光源被設(shè)計成發(fā)射測試光,?接收裝置,該接收裝置被設(shè)計成接收該測試光的至少一部分并且量化所接收光的至少一個量,?用于保持該光學(xué)部件的裝置,該裝置被設(shè)計成將該光學(xué)部件定位在該光源和該接收裝置之間,其特征在于:?由該接收裝置接收的該測試光的該部分的波長為該激光波長的±20%。
本發(fā)明整體涉及用于檢測激光束的光學(xué)透射系統(tǒng)的光學(xué)部件的裝置和方法,具體地,本發(fā)明涉及用于檢測激光焊接保護玻璃的裝置和方法。
激光焊接裝置通常包括用于發(fā)射激光束的激光源,以及形成光學(xué)路徑的一個或多個透鏡,該光學(xué)路徑使得可以將激光束引導(dǎo)和/或聚焦到焊接區(qū)上,以便焊接例如金屬部件。焊接操作通常產(chǎn)生煙霧和/或熔融材料的噴射物,使得有必要在焊接區(qū)和光學(xué)路徑的最后一個透鏡之間設(shè)置保護玻璃,以避免煙霧和/或熔融材料(另外被稱為噴濺物)對透鏡造成損壞。然而,可具有或可不具有表面處理諸如抗反射處理的保護玻璃因此直接暴露于此類煙霧和噴射物,并且該保護玻璃可由于煙霧或熔融材料的噴射物的沉積物而變得不透明。因此,如果保護玻璃不能特別好地透射激光束,則可影響焊接的質(zhì)量。
此外,測試激光焊接保護玻璃的透明度是復(fù)雜的,并且本發(fā)明的發(fā)明人面臨能夠可靠地區(qū)分在使用一定時間之后過度不透明的保護玻璃(無論其是否已被清潔,以便能夠繼續(xù)使用)與有點不透明但仍可使用而不影響焊接質(zhì)量的另一個保護玻璃的困難。
本發(fā)明的目的是解決上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點,并且具體地,主要是提出用于檢測激光焊接裝置的保護玻璃的裝置和方法,該裝置和方法使得可以可靠地驗證保護玻璃是否應(yīng)當(dāng)進行改變,或者是否可以繼續(xù)使用而不產(chǎn)生焊接缺陷。
為此,本發(fā)明的第一方面涉及用于檢測激光焊接保護玻璃的裝置,
該檢測裝置包括:
-光源,該光源被設(shè)計成發(fā)射測試光,
-接收裝置,該接收裝置被設(shè)計成接收該測試光的至少一部分并且量化所接收光的至少一個量,
-用于保持保護玻璃的裝置,該裝置被設(shè)計成將該保護玻璃定位在光源和接收裝置之間,
其特征在于:
-由該接收裝置接收的該測試光的該部分的波長在855nm和1276nm之間,優(yōu)選地在955nm和1170nm之間,并且還更優(yōu)選地在1010nm和11 10nm之間,并且非常優(yōu)選地在1040nm和1080nm之間。此類波長范圍使得可以根據(jù)焊接機的用途來量化保護玻璃的特性,以便進行代表性測量。
換句話講,本發(fā)明涉及用于檢測激光焊接保護玻璃的裝置,該激光焊接機包括具有激光波長的激光源,
該檢測裝置包括:
-光源,該光源被設(shè)計成發(fā)射測試光,
-接收裝置,該接收裝置被設(shè)計成接收該測試光的至少一部分并且量化所接收光的至少一個量,
-用于保持保護玻璃的裝置,該裝置被設(shè)計成將該保護玻璃定位在光源和接收裝置之間,
其特征在于:
-由該接收裝置接收的該測試光的該部分的波長為該激光波長的±20%。因此,曝光量代表在激光焊接機的用途,并且對光透射能力的測量在代表實際使用的波長范圍內(nèi)進行。
換句話講,本發(fā)明涉及被設(shè)計成測試具有激光波長的焊接激光束的光學(xué)透射系統(tǒng)的光學(xué)部件的光學(xué)檢測裝置,該光學(xué)檢測裝置包括:
-光源,該光源被設(shè)計成發(fā)射測試光,
-接收裝置,該接收裝置被設(shè)計成接收該測試光的至少一部分并且量化所接收光的至少一個量,
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