[發(fā)明專利]基板處理方法及基板處理裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201980056746.5 | 申請(qǐng)日: | 2019-07-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112640059A | 公開(公告)日: | 2021-04-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 山口侑二 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社斯庫林集團(tuán) |
| 主分類號(hào): | H01L21/306 | 分類號(hào): | H01L21/306;H01L21/304 |
| 代理公司: | 隆天知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 金輝;崔炳哲 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 處理 方法 裝置 | ||
在本發(fā)明的基板處理方法中,對(duì)具有包含凹部(92)的圖案(PT)的基板(W)進(jìn)行處理。基板處理方法包括處理步驟(S1)、去除步驟(S2)、及蝕刻步驟(S3)。在處理步驟(S1)中,利用處理液處理基板(W)。在處理步驟(S1)之后,在去除步驟(S2)中,將進(jìn)入凹部(92)的處理液自基板(W)去除。在去除步驟(S2)之后,在蝕刻步驟(S3)中,利用蝕刻液對(duì)基板(W)進(jìn)行蝕刻。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明關(guān)于基板處理方法及基板處理裝置。
背景技術(shù)
專利文獻(xiàn)1所記載的基板處理裝置具備濕式處理單元。濕式處理單元執(zhí)行濕式蝕刻處理。具體而言,濕式蝕刻處理包含晶圓搬入步驟、旋轉(zhuǎn)開始步驟、自然氧化膜去除步驟、第一沖洗步驟、犧牲膜預(yù)蝕刻步驟、第二沖洗步驟、干燥步驟、及晶圓搬出步驟。
執(zhí)行晶圓搬入步驟及旋轉(zhuǎn)開始步驟后,在自然氧化膜去除步驟中,向晶圓的表面供給DHF(稀氫氟酸),將自然氧化膜從晶圓去除。而且,在第一沖洗步驟中,向晶圓的表面供給沖洗液,沖洗自然氧化膜的殘留物。進(jìn)而,在犧牲膜預(yù)蝕刻步驟中,向晶圓的表面供給蝕刻液,將犧牲膜的一部分從晶圓去除。具體而言,在晶圓的表面形成有包含凹部的圖案。而且,在犧牲膜預(yù)蝕刻步驟中,使蝕刻液進(jìn)入至凹部,去除形成在圖案與硅基板之間的犧牲膜的一部分。然后,執(zhí)行第二沖洗步驟、干燥步驟、及晶圓搬出步驟。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本特開2015-88619號(hào)公報(bào)
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問題
然而,在專利文獻(xiàn)1所記載的基板處理裝置中,在執(zhí)行犧牲膜預(yù)蝕刻步驟時(shí),在第一沖洗步驟中所被供給的沖洗液可能會(huì)殘留在形成于晶圓的表面的圖案的凹部。
尤其是近年來,形成于基板的圖案的微細(xì)化不斷發(fā)展,圖案的縱橫比(凹部的深度相對(duì)于寬度的比率)變高,或圖案的形狀變得復(fù)雜。因此,假如在沖洗液殘留于圖案的凹部的狀態(tài)下向凹部供給蝕刻液,則因沖洗液的影響而蝕刻液在凹部的深度方向上產(chǎn)生濃度梯度。具體而言,在初始供給蝕刻液時(shí),蝕刻液的濃度會(huì)自凹部的較淺的位置向較深的位置逐漸降低。因此,為使蝕刻液滲透至凹部較深的位置,蝕刻液在濃度梯度的作用下而向沖洗液中的擴(kuò)散需要時(shí)間。其結(jié)果為,在沒有設(shè)定用于確保蝕刻液的擴(kuò)散時(shí)間的制程的情形下,存在對(duì)晶圓的蝕刻效果些許降低的可能性。
本發(fā)明是鑒于上述課題而完成的,其目的在于,提供一種能夠抑制對(duì)基板的蝕刻效果的降低的基板處理方法及基板處理裝置。
用于解決問題的手段
根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式,在基板處理方法中,對(duì)具有包含凹部的圖案的基板進(jìn)行處理。基板處理方法包括:處理步驟,通過處理液處理上述基板;去除步驟,在上述處理步驟之后,將進(jìn)入上述凹部的上述處理液自上述基板去除;及蝕刻步驟,其在上述去除步驟之后,利用蝕刻液對(duì)上述基板進(jìn)行蝕刻。
在本發(fā)明的基板處理方法中,在上述去除步驟中優(yōu)選為干燥上述基板,從而去除進(jìn)入至上述凹部的上述處理液。
在本發(fā)明的基板處理方法中,上述處理步驟優(yōu)選為包含:藥液步驟,利用藥液處理上述基板;及沖洗步驟,通過作為上述處理液的沖洗液將上述藥液自上述基板沖走。
在本發(fā)明的基板處理方法中,在上述藥液步驟中優(yōu)選為通過上述藥液去除形成在上述基板的自然氧化膜。
在本發(fā)明的基板處理方法中,上述處理步驟、上述去除步驟及上述蝕刻步驟優(yōu)選為在具備多個(gè)槽的基板處理裝置的內(nèi)部執(zhí)行的一連串的步驟,而無需將上述基板取出至上述基板處理裝置的外部。
在本發(fā)明的基板處理方法中,在上述去除步驟中優(yōu)選為向多個(gè)上述槽中的收納有上述基板的槽內(nèi)供給水溶性有機(jī)溶劑的蒸氣,并通過對(duì)上述槽內(nèi)進(jìn)行減壓,而干燥上述基板。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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