[發明專利]攝像裝置、攝像方法及記錄介質

有效

• 申請號: 201980055437.6
• 申請日: 2019-07-10
• 公開（公告）號: CN112602015B
• 公開（公告）日: 2022-03-11
• 發明（設計）人: 栗林宏輔
• 申請（專利權）人: 富士膠片株式會社
• 主分類號: G03B5/00
• 分類號: G03B5/00;G03B17/14;H04N5/232
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 高迪

1.一種攝像裝置，其具備：

成像透鏡；

攝像裝置主體，包括拍攝通過所述成像透鏡的光學像的成像元件；

第1校正部，利用校正用透鏡進行圖像抖動的校正；

第2校正部，利用所述攝像裝置主體進行圖像抖動的校正；及

控制部，其進行如下控制：通過所述第1校正部或所述第2校正部校正圖像抖動的抖動量中小于規定頻率的低頻部分，并且通過所述第1校正部及所述第2校正部的雙方分擔校正所述規定頻率以上的高頻部分。

2.根據權利要求1所述的攝像裝置，其還具備：

第1檢測部，檢測所述成像透鏡的抖動量；及

第2檢測部，檢測所述攝像裝置主體的抖動量，

當由所述第1檢測部檢測的抖動量的檢測性能和由所述第2檢測部檢測的抖動量的檢測性能不同時，所述控制部作為所述圖像抖動的抖動量使用通過所述第1檢測部檢測到的抖動量及通過所述第2檢測部檢測到的抖動量中的至少一個來進行所述控制。

3.根據權利要求2所述的攝像裝置，其中，

所述控制部進行如下控制：當由所述第1檢測部檢測的抖動量的檢測性能高于由所述第2檢測部檢測的抖動量的檢測性能時，通過所述第1校正部來校正所述低頻部分，當由所述第2檢測部檢測的抖動量的檢測性能高于由所述第1檢測部檢測的抖動量的檢測性能時，通過所述第2校正部來校正所述低頻部分。

4.根據權利要求2所述的攝像裝置，其中，

所述第1檢測部及所述第2檢測部包括高通濾波器，

所述規定頻率為所述第1檢測部及所述第2檢測部中抖動量的檢測性能較低的檢測部的所述高通濾波器的截止頻率。

5.根據權利要求3所述的攝像裝置，其中，

所述第1檢測部及所述第2檢測部包括高通濾波器，

所述規定頻率為所述第1檢測部及所述第2檢測部中抖動量的檢測性能較低的檢測部的所述高通濾波器的截止頻率。

6.根據權利要求1所述的攝像裝置，其中，

所述第2校正部的圖像抖動的頻帶與所述第1校正部的圖像抖動的頻帶不同，

所述控制部通過所述第1校正部或所述第2校正部中的所述圖像抖動的頻帶的下限值低的校正部，校正小于所述規定頻率的低頻部分。

7.根據權利要求2所述的攝像裝置，其中，

所述第2校正部的圖像抖動的頻帶與所述第1校正部的圖像抖動的頻帶不同，

所述控制部通過所述第1校正部或所述第2校正部中的所述圖像抖動的頻帶的下限值低的校正部，校正小于所述規定頻率的低頻部分。

8.根據權利要求1所述的攝像裝置，其中，

所述控制部包括設置于所述成像透鏡且控制所述第1校正部的第1控制部及設置于所述攝像裝置主體且控制所述第2校正部的第2控制部。

9.根據權利要求2至7中任一項所述的攝像裝置，其中，

所述控制部包括設置于所述成像透鏡且控制所述第1校正部的第1控制部及設置于所述攝像裝置主體且控制所述第2校正部的第2控制部。

10.根據權利要求1至8中任一項所述的攝像裝置，其中，

所述控制部利用由所述第1校正部校正的校正量的最大值與由所述第2校正部校正的校正量的最大值之比，進行通過所述第1校正部及所述第2校正部分擔校正所述高頻部分的控制。

11.一種攝像方法，其為由攝像裝置執行的攝像方法，所述攝像裝置具備成像透鏡、包括拍攝通過所述成像透鏡的光學像的成像元件的攝像裝置主體、利用校正用透鏡進行圖像抖動的校正的第1校正部及利用所述攝像裝置主體進行圖像抖動的校正的第2校正部，所述攝像方法中進行如下控制：

通過所述第1校正部或所述第2校正部來校正圖像抖動的抖動量中小于規定頻率的低頻部分，

并且通過所述第1校正部及所述第2校正部來分擔校正所述規定頻率以上的高頻部分。

12.一種計算機能夠讀取的非易失性記錄介質，記錄有程序，該程序用于使控制具備成像透鏡、包括拍攝通過所述成像透鏡的光學像的成像元件的攝像裝置主體、利用校正用透鏡進行圖像抖動的校正的第1校正部及利用所述攝像裝置主體進行圖像抖動的校正的第2校正部的攝像裝置的計算機執行如下控制的處理：

通過所述第1校正部或所述第2校正部來校正圖像抖動的抖動量中小于規定頻率的低頻部分，

并且通過所述第1校正部及所述第2校正部來分擔校正所述規定頻率以上的高頻部分。