[發(fā)明專(zhuān)利]光學(xué)時(shí)域反射儀、測(cè)試光學(xué)傳輸線(xiàn)路的方法以及光學(xué)傳輸線(xiàn)路的測(cè)試系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201980055433.8
• 申請(qǐng)日: 2019-04-25
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112601946A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-04-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 松本悠平;小熊健史;新谷和則
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 日本電氣株式會(huì)社
• 主分類(lèi)號(hào): G01M11/00
• 分類(lèi)號(hào): G01M11/00;H04B10/071
• 代理公司: 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219
• 代理人: 孫志湧;李蘭

目的是自動(dòng)檢測(cè)光學(xué)傳輸線(xiàn)路的故障。光源(2)輸出監(jiān)視光(ML)。光學(xué)檢測(cè)單元(4)檢測(cè)來(lái)自光學(xué)傳輸線(xiàn)路(TL)的返回光(BL)，并輸出指示該返回光(BL)的強(qiáng)度的檢測(cè)信號(hào)(VB)。光學(xué)復(fù)用/解復(fù)用器(3)將從光源(2)輸入的監(jiān)視光(ML)輸出到光學(xué)傳輸線(xiàn)路(TL)，并且將從光學(xué)傳輸線(xiàn)路(TL)輸入的返回光(BL)輸出到光學(xué)檢測(cè)單元(4)。比較器(5)將檢測(cè)信號(hào)(VB)與閾值電壓(Vth)進(jìn)行比較，并輸出指示比較結(jié)果的比較信號(hào)(COMP)。處理單元(1)檢測(cè)比較信號(hào)(COMP)改變的第一時(shí)刻，并且當(dāng)?shù)谝粫r(shí)刻早于參考時(shí)刻時(shí)，檢測(cè)到光學(xué)傳輸線(xiàn)路(TL)的故障。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光學(xué)時(shí)域反射儀、光學(xué)傳輸線(xiàn)路測(cè)試方法和光學(xué)傳輸線(xiàn)路測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

通常使用被稱(chēng)為OTDR的光學(xué)時(shí)域反射儀來(lái)檢測(cè)由光纖等構(gòu)成的光學(xué)傳輸線(xiàn)路的破壞。光學(xué)時(shí)域反射儀將作為監(jiān)視光的光學(xué)脈沖輸出到光學(xué)傳輸線(xiàn)路，并且監(jiān)視來(lái)自光學(xué)傳輸線(xiàn)路的各個(gè)部分的反向散射光(所謂的返回光)的返回時(shí)間和強(qiáng)度以檢測(cè)破壞位置。由于返回光不從破壞位置返回，此后，可以通過(guò)檢測(cè)返回光的強(qiáng)度減小的時(shí)刻來(lái)確定光學(xué)傳輸線(xiàn)路的破壞位置。

例如，已經(jīng)提出了一種OTDR波形確定方法，該方法不僅能夠選擇光學(xué)傳輸線(xiàn)路的破壞，而且能夠選擇由于構(gòu)成光學(xué)傳輸線(xiàn)路的纖維的纏繞狀態(tài)而引起的異常部分(PTL1)。

此外，已經(jīng)提出了一種光學(xué)時(shí)域反射儀，該光學(xué)時(shí)域反射儀用于自動(dòng)地設(shè)置要輸出到光學(xué)傳輸線(xiàn)路的光學(xué)脈沖(監(jiān)視光)的脈沖寬度

(PTL2)。在該光學(xué)時(shí)域反射儀中，來(lái)自光學(xué)傳輸線(xiàn)路的返回光被轉(zhuǎn)換成模擬電信號(hào)，然后由A/D轉(zhuǎn)換器將模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)。通過(guò)由數(shù)據(jù)處理單元處理數(shù)字信號(hào)來(lái)檢測(cè)光學(xué)傳輸線(xiàn)路的破壞位置。

此外，已經(jīng)提出了一種光線(xiàn)路監(jiān)視裝置，該裝置即使當(dāng)通過(guò)光學(xué)傳輸線(xiàn)路將終端設(shè)備和分離器多級(jí)連接到光學(xué)時(shí)域反射儀(測(cè)試裝置)時(shí)，也能夠確定發(fā)生了故障的光學(xué)傳輸線(xiàn)路(PTL3)。

引文列表

專(zhuān)利文獻(xiàn)

專(zhuān)利文獻(xiàn)1：日本未審專(zhuān)利申請(qǐng)公開(kāi)No.2011-38785

專(zhuān)利文獻(xiàn)2：日本未審專(zhuān)利申請(qǐng)公開(kāi)No.H6-167417

專(zhuān)利文獻(xiàn)3：國(guó)際專(zhuān)利公開(kāi)No.WO 2007/88976

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明解決的技術(shù)問(wèn)題

當(dāng)光學(xué)傳輸線(xiàn)路發(fā)生破壞時(shí)，上述常見(jiàn)的光學(xué)時(shí)域反射儀用于確定破壞位置。在上述光學(xué)時(shí)域反射儀中，返回光的強(qiáng)度通常較弱，并且疊加在返回光上的噪聲的影響較大。因此，由于有必要通過(guò)多次接收返回光并將其平均化來(lái)確保檢測(cè)精度，因此檢測(cè)破壞需要很長(zhǎng)時(shí)間。因此，在上述光學(xué)時(shí)域反射儀中，難以執(zhí)行諸如不斷地監(jiān)視光學(xué)傳輸線(xiàn)路并且實(shí)時(shí)檢測(cè)破壞發(fā)生這樣的響應(yīng)性操作。

例如，在PTL2中，從接收返回光的O/E轉(zhuǎn)換電路輸出的模擬信號(hào)通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器被轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)。A/D轉(zhuǎn)換器具有相對(duì)較大的電路規(guī)模，并且需要很長(zhǎng)時(shí)間來(lái)進(jìn)行信號(hào)處理。因此，當(dāng)在預(yù)時(shí)刻間段內(nèi)檢測(cè)到返回光或執(zhí)行上述平均時(shí)，多次執(zhí)行A/D轉(zhuǎn)換處理。結(jié)果，破壞檢測(cè)所需的時(shí)間變長(zhǎng)，并且難以將該技術(shù)應(yīng)用于光學(xué)傳輸線(xiàn)路的連續(xù)監(jiān)視。

鑒于上述情況做出了本發(fā)明，并且本發(fā)明旨在自動(dòng)地檢測(cè)光學(xué)傳輸線(xiàn)路中的故障。

解決技術(shù)問(wèn)題的技術(shù)方案