[發明專利]自動分析裝置在審
| 申請號： | 201980054937.8 | 申請日： | 2019-10-18 |
| 公開（公告）號： | CN112639485A | 公開（公告）日： | 2021-04-09 |
| 發明（設計）人： | 巖瀨友一;野中昂平;川原鐵士 | 申請（專利權）人： | 株式會社日立高新技術 |
| 主分類號： | G01N35/10 | 分類號： | G01N35/10;G01N35/00 |
| 代理公司： | 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243 | 代理人： | 金鮮英;陳彥 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 自動 分析 裝置 | ||
1.一種自動分析裝置，具有：
樣品分注系統，使用樣品探針對于位于樣品分注位置的樣品進行分注，和
裝置控制部，用于控制所述樣品分注系統；
在樣品被運送至所述樣品分注位置前的待機狀態下，所述裝置控制部通過第一動作序列使所述樣品分注系統動作，在對位于所述樣品分注位置的樣品進行分注的分析狀態下，所述裝置控制部通過第二動作序列使所述樣品分注系統動作，
將在所述第一動作序列的1個循環中進行所述樣品探針的內部清洗的時間設定為比所述第二動作序列的1個循環中進行所述樣品探針的內部清洗的時間短。
2.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其中，
將所述第一動作序列的1個循環中進行所述樣品探針的內部清洗的時間設定為所述第二動作序列的1個循環中進行所述樣品探針的內部清洗的時間的20％以上80％以下。
3.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其中，
所述第一動作序列設定為以多個循環中1次的比例進行所述樣品探針的內部清洗。
4.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其中，
所述裝置控制部預先存儲有數據庫，所述數據庫中記錄了所述第一動作序列的1個循環中進行所述樣品探針的內部清洗的時間即內洗時間與在所述內洗時間進行所述樣品探針的內部清洗的情況下所述樣品分注系統的配管內流體的平衡溫度之間的關系，
所述裝置控制部實際測定分析狀態下的所述樣品分注系統的配管內流體的溫度，推定分析狀態下配管內流體的平均平衡溫度，參考所述數據庫來確定所述第一動作序列的1個循環中進行所述樣品探針的內部清洗的時間。
5.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其中，
所述第一動作序列的1個循環的時間與所述第二動作序列的1個循環的時間相等，
將所述第一動作序列的1個循環中開始所述樣品探針的內部清洗的時刻設定為早于所述第二動作序列的1個循環中開始所述樣品探針的內部清洗的時刻。
6.根據權利要求5所述的自動分析裝置，其中，
將所述第一動作序列設定為在1個循環開始后立刻進行所述樣品探針的內部清洗。
7.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其中，
將所述第一動作序列設定為在1個循環內進行多次所述樣品探針的內部清洗，
將在所述第一動作序列的1個循環內進行多次所述樣品探針的內部清洗的時間的總計時間設定為比所述第二動作序列的1個循環中進行所述樣品探針的內部清洗的時間短。
8.一種自動分析裝置，具有：
樣品分注系統，使用樣品探針對于位于樣品分注位置的樣品進行分注，和
裝置控制部，用于控制所述樣品分注系統；
在樣品被運送至所述樣品分注位置前的待機狀態下，所述裝置控制部通過第一動作序列使所述樣品分注系統動作，在對位于所述樣品分注位置的樣品進行分注的分析狀態下，所述裝置控制部通過第二動作序列使所述樣品分注系統動作，
將所述第一動作序列設定為以多個循環中1次的比例進行所述樣品探針的內部清洗。
9.根據權利要求8所述的自動分析裝置，其中，
將所述第一動作序列的1個循環中進行所述樣品探針的內部清洗的時間設定為比所述第二動作序列的1個循環中進行所述樣品探針的內部清洗的時間短。
10.根據權利要求8所述的自動分析裝置，其中，
所述裝置控制部預先存儲有數據庫，所述數據庫中記錄了所述第一動作序列中進行所述樣品探針的內部清洗的內洗頻率與以所述內洗頻率進行所述樣品探針的內部清洗的情況下所述樣品分注系統的配管內流體的平衡溫度之間的關系，
所述裝置控制部實際測定分析狀態下的所述樣品分注系統的配管內流體的溫度，推定分析狀態下配管內流體的平均平衡溫度，參考所述數據庫來確定所述第一動作序列中進行所述樣品探針的內部清洗的頻率。
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