[發明專利]光譜儀和用于校準光譜儀的方法

在審

• 申請號: 201980053625.5
• 申請日: 2019-07-23
• 公開（公告）號: CN112534224A
• 公開（公告）日: 2021-03-19
• 發明（設計）人: M·胡斯尼克;M·丁澤爾;M·施密特;D·烏利希
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G01J3/02
• 分類號: G01J3/02;G01J3/10;G01J3/28;H01L33/50
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 劉安東;司昆明

1.光譜儀（1000），包括：

? 照明裝置（100），用于照明光譜儀測量區域（104），

? 探測單元（106），用于探測來自于光譜儀測量區域的電磁射束（1004），和

? 光譜元件（105），所述光譜元件布置在照明裝置（100）和探測單元（106）之間的光路中，

其中所述照明裝置（100）包括：

? 具有第一中心波長（1001’’）的發光二極管（102），其設置用于發射具有第一光譜（2001）的第一電磁射束（1001），和

? 發光元件（103），用于將具有第一光譜（2001）的第一電磁射束（1001）的第一部分（1001’）轉換為具有第二光譜（2002）的第二電磁射束（1002），

其特征在于，

? 第一中心波長（1001’’）具有550nm、3000nm，或在550nm和3000nm之間的值，并且

? 所述第一光譜（2001）和所述第二光譜（2002）具有重疊（2000’）。

2.根據權利要求1所述的光譜儀（1000），其特征在于，所述發光元件（103）布置在發光二極管（102）的光路中。

3. 根據前述權利要求中任一項所述的光譜儀（1000），其特征在于，所述發光元件（103）具有：

? 至少一個另外的照明器件，用于將具有第一光譜（2001）的第一電磁射束（1001）的第一部分（1001’）轉換為具有第三光譜的第三電磁射束，和

? 第一照明器件，用于將具有第三光譜的第三電磁射束轉換為具有第二光譜（2002）的第二電磁射束（1002）。

4.根據前述權利要求中任一項所述的光譜儀（1000），其特征在于，所述發光元件（103）作為涂層施加在發光二極管（102）上。

5.根據前述權利要求中任一項所述的光譜儀（1000），其特征在于，所述發光元件（103）施加在載體（101’）上或光學元件上。

6.根據前述權利要求中任一項所述的光譜儀（1000），其特征在于，所述照明裝置（100）包括殼體，發光二極管（102）布置在殼體中。

7.根據前述權利要求中任一項所述的光譜儀（1000），其特征在于，所述照明裝置（100）具有至少一個用于調節電磁射束的傳播的光學元件。

8.根據權利要求5或7中任一項所述的光譜儀（1000），其特征在于，所述光學元件包括至少一個隨后的構件：擴散器、定向擴散器、反射器、反射鏡、微型反射鏡、光學透鏡。

9.根據前述權利要求中任一項所述的光譜儀（1000），其特征在于，所述探測單元（106）包括計算單元，所述計算單元設置用于，借助來自于光譜儀測量區域的電磁射束（1004）確定光譜和/或光譜儀測量區域（104）的光譜信息。

10.根據前述權利要求中任一項所述的光譜儀（1000），其特征在于，所述第一中心波長（1001’’）具有550nm、1800nm或在550nm和1800nm之間的值。

11.根據前述權利要求中任一項所述的光譜儀（1000），其特征在于，所述光譜儀（1000）是微型光譜儀。

12.用于校準根據前述權利要求中任一項所述的光譜儀（1000）的方法，其特征在于，發光二極管（102）的第一中心波長（1001’’）用作用于探測單元（106）的波長校準（301）的參考，和/或為了功率校準（302），發光二極管（102）的獲知的強度用作用于光譜測量的功率參考。