[發(fā)明專利]DRX模式下的波束故障檢測和指示在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201980051621.3 | 申請日: | 2019-06-27 |
| 公開(公告)號: | CN112534742A | 公開(公告)日: | 2021-03-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | L.何 | 申請(專利權(quán))人: | 高通股份有限公司 |
| 主分類號: | H04B7/06 | 分類號: | H04B7/06;H04L5/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 安之斐 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | drx 模式 波束 故障 檢測 指示 | ||
1.一種在用戶設(shè)備(UE)處進行無線通信的方法,包括:
接收具有包括DRX開啟持續(xù)時間和DRX關(guān)閉持續(xù)時間的DRX周期的DRX配置;
基于配置用于波束故障檢測的參考信號(RS)的周期性和所述DRX周期來確定波束故障指示周期;以及
基于由所述UE確定的所述波束故障指示周期,執(zhí)行所述RS中的至少一個的無線電鏈路質(zhì)量測量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,確定所述波束故障指示周期包括:將所述波束故障指示周期確定為所述RS的最短周期性與所述DRX周期之間的最大值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述UE在所述波束故障指示周期期間執(zhí)行一次所述無線電鏈路質(zhì)量測量。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,當所述UE處于DRX模式時,所述UE為所述DRX模式應(yīng)用故障檢測計數(shù)器或故障檢測計時器中的至少一個,以執(zhí)行所述無線電鏈路質(zhì)量測量。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其中,在所述DRX周期的所述DRX開啟持續(xù)時間期間執(zhí)行所述測量。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述DRX周期的長度是基于所述UE的延遲敏感度來配置的。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,進一步包括:
在DRX循環(huán)的所述DRX開啟持續(xù)時間之前喚醒以執(zhí)行所述無線電鏈路質(zhì)量測量。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,進一步包括:
檢測波束故障;以及
在所述DRX循環(huán)的所述開啟持續(xù)時間之前啟動波束故障恢復(fù)規(guī)程。
9.一種用于在用戶設(shè)備(UE)處進行無線通信的裝置,包括:
存儲器;和
至少一個處理器,所述至少一個處理器耦合到所述存儲器并且被配置為:
接收具有包括DRX開啟持續(xù)時間和DRX關(guān)閉持續(xù)時間的DRX周期的DRX配置;
基于配置用于波束故障檢測的參考信號(RS)的周期性和所述DRX周期來確定波束故障指示周期;以及
基于由UE確定的所述波束故障指示周期,執(zhí)行所述RS中的至少一個的無線電鏈路質(zhì)量測量。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置,其中,確定所述波束故障指示周期包括:將所述波束故障指示周期確定為所述RS的最短周期性與所述DRX周期之間的最大值。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置,其中,所述UE在所述波束故障指示周期期間僅執(zhí)行一次無線電鏈路質(zhì)量測量。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置,其中,當所述UE處于DRX模式時,所述UE為所述DRX模式應(yīng)用故障檢測計數(shù)器或故障檢測計時器中的至少一個,以執(zhí)行所述無線電鏈路質(zhì)量測量。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的裝置,其中,在所述DRX周期的所述DRX開啟持續(xù)時間期間執(zhí)行所述測量。
14.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置,其中,所述DRX周期的長度是基于所述UE的延遲敏感度來配置的。
15.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置,其中,所述至少一個處理器被進一步配置為:
在DRX循環(huán)的所述DRX開啟持續(xù)時間之前喚醒以執(zhí)行所述無線電鏈路質(zhì)量測量。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的裝置,其中,所述至少一個處理器被進一步配置為:
檢測波束故障;以及
在所述DRX循環(huán)的所述開啟持續(xù)時間之前啟動波束故障恢復(fù)規(guī)程。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于高通股份有限公司,未經(jīng)高通股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201980051621.3/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:銑削和深鉆削機器
- 下一篇:嵌合抗原受體療法T細胞擴增動力學及其用途





