[發明專利]檢測設備的檢測方法、控制系統、檢測系統及程序在審
| 申請號: | 201980050830.6 | 申請日: | 2019-08-06 |
| 公開(公告)號: | CN112543866A | 公開(公告)日: | 2021-03-23 |
| 發明(設計)人: | 中尾厚夫 | 申請(專利權)人: | 松下電器產業株式會社 |
| 主分類號: | G01N27/12 | 分類號: | G01N27/12;G01N27/00;G01N29/02;G01N30/00 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 莊錦軍 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 設備 方法 控制系統 系統 程序 | ||
1.一種檢測設備的檢測方法,所述檢測設備包括:檢測室,形成樣本氣體流過的流路的一部分;吸附部,設置在所述檢測室中,并且被配置為吸附包含在所述樣本氣體中的化學物質;以及傳感器,設置在所述檢測室中,并且被配置為檢測包含在所述樣本氣體中的所述化學物質,所述檢測方法包括:
校準模式,在使低濃度氣體沿著從所述傳感器朝所述吸附部的方向流動的狀態下對所述傳感器進行校準,所述低濃度氣體中的所述化學物質的含量少于所述樣本氣體中的所述化學物質的含量;
第一檢測模式,在所述校準模式之后,在使所述樣本氣體沿著從所述傳感器朝所述吸附部的方向流動的狀態下由所述傳感器檢測包含在所述樣本氣體中的所述化學物質;
第一吸附模式,在包括與所述第一檢測模式的執行時間段的至少一部分重疊的時間段在內的執行時間段期間,由所述吸附部吸附所述化學物質;
第二吸附模式,在所述第一吸附模式之后,在使所述樣本氣體沿著從所述吸附部朝所述傳感器的方向流動的狀態下由所述吸附部吸附所述化學物質;以及
第二檢測模式,從所述吸附部解吸在所述第一吸附模式和所述第二吸附模式下吸附的所述化學物質,并由所述傳感器檢測所述化學物質。
2.根據權利要求1所述的檢測方法,其中,
基于所述第一檢測模式下的檢測結果,來確定是否執行所述第二吸附模式和所述第二檢測模式。
3.根據權利要求1或2所述的檢測方法,其中,
所述檢測室具有與從所述吸附部朝所述傳感器的方向正交且從所述吸附部朝所述傳感器增大的橫截面積。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的檢測方法,其中,
所述第二檢測模式下的所述檢測室中的氣體的流速低于所述第一檢測模式下的所述檢測室中的氣體的流速。
5.根據權利要求1至4中任一項所述的檢測方法,在所述第二檢測模式之后還包括刷新模式,其中,
在所述刷新模式下,使氣體在從所述傳感器朝所述吸附部的方向上流動。
6.一種控制系統,被配置為對檢測設備進行控制,所述檢測設備包括:檢測室,形成樣本氣體流過的流路的一部分;吸附部,設置在所述檢測室中,并且被配置為吸附包含在所述樣本氣體中的化學物質;以及傳感器,設置在所述檢測室中,并且被配置為檢測包含在所述樣本氣體中的所述化學物質,所述控制系統具有如下模式作為操作模式:
校準模式,在使低濃度氣體沿著從所述傳感器朝所述吸附部的方向流動的狀態下對所述傳感器進行校準,所述低濃度氣體中的所述化學物質的含量少于所述樣本氣體中的所述化學物質的含量;
第一檢測模式,在所述校準模式之后,在使所述樣本氣體沿著從所述傳感器朝所述吸附部的方向流動的狀態下由所述傳感器檢測包含在所述樣本氣體中的所述化學物質;
第一吸附模式,在包括與所述第一檢測模式的執行時間段的至少一部分重疊的時間段在內的執行時間段期間,由所述吸附部吸附所述化學物質;
第二吸附模式,在所述第一吸附模式之后,在使所述樣本氣體沿著從所述吸附部朝所述傳感器的方向流動的狀態下由所述吸附部吸附所述化學物質;以及
第二檢測模式,從所述吸附部解吸在所述第一吸附模式和所述第二吸附模式下吸附的所述化學物質,并由所述傳感器檢測所述化學物質。
7.根據權利要求6所述的控制系統,其中,
能夠根據所述檢測設備重寫用于使所述操作模式被執行的控制程序。
8.一種檢測系統,包括:
根據權利要求6或7所述的控制系統;
所述檢測設備;以及
閥,被配置為打開和關閉連接到所述檢測室的路徑,
所述控制系統被配置為執行所述閥的開閉控制,以控制所述檢測室中的所述樣本氣體的流動和所述低濃度氣體的流動。
9.一種程序,被配置為使計算機系統執行根據權利要求1至5中任一項所述的檢測設備的檢測方法。
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