[發(fā)明專利]用于指示氧化處理的設備、方法和系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201980044087.3
• 申請日: 2019-06-21
• 公開（公告）號: CN112534257A
• 公開（公告）日: 2021-03-19
• 發(fā)明（設計）人: R·伍
• 申請（專利權）人: 愛思帕全球制造有限公司
• 主分類號: G01N31/22
• 分類號: G01N31/22;G01N21/78
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 初明明;楊思捷

1.用于確定物體的氧化處理的程度的方法，所述方法包括：

將指示劑并入到所述氧化處理中，所述指示劑包含聚合物；

使所述物體和所述指示劑經(jīng)受所述氧化處理，所述指示劑的變色通過氧化所述聚合物的所述氧化處理的過程條件基于所述聚合物的氧化而發(fā)生；以及

相對于閾值色值測量所述指示劑的變色以確定所述氧化處理的程度。

2.權利要求1所述的方法，其中所述聚合物進一步包含選自胺、亞甲基和次甲基的基團。

3.權利要求2所述的方法，其中所述指示劑的變色至少部分通過所述基團的氧化而發(fā)生。

4.權利要求3所述的方法，其中所述基團的氧化包括形成醌。

5.權利要求4所述的方法，其中所述醌包含醌-酰亞胺。

6.權利要求1-6中任一項所述的方法，其中所述指示劑的變色包括改變所述指示劑對電磁輻射的吸收和反射中的至少一種。

7.權利要求1-6中任一項所述的方法，其中所述指示劑對電磁輻射的吸收和反射中的至少一種的改變是在400nm至700nm的波長下。

8.權利要求1-7中任一項所述的方法，其中所述變色的測量包括測量所述指示劑對電磁輻射的吸收和反射中的至少一種。

9.權利要求8所述的方法，其中所述測量所述指示劑對電磁輻射的吸收和反射中的至少一種是在400nm至700nm的波長下。

10.權利要求1-9中任一項所述的方法，其中所述變色的測量包括利用色值裝置。

11.權利要求1-10中任一項所述的方法，其中所述變色的測量包括所述指示劑的視覺觀察。

12.權利要求1-11中任一項所述的方法，其中所述聚合物包含聚氨酯和環(huán)氧樹脂中的至少一種。

13.權利要求1-12中任一項所述的方法，其中在所述氧化處理之前，所述指示劑是透明的。

14.權利要求1-13中任一項所述的方法，其中所述指示劑是5型化學指示劑。

15.權利要求1-14中任一項所述的方法，其中所述氧化處理包括清潔、消毒和殺菌中的至少一種。

16.權利要求1-15中任一項所述的方法，其中所述氧化處理包括消毒和殺菌中的至少一種。

17.權利要求1-16中任一項所述的方法，其中當所述指示劑的變色大于所述閾值色值時，所述物體被殺菌。

18.權利要求1-17中任一項所述的方法，其中所述氧化處理的過程條件是暴露于氧化化學品。

19.權利要求18所述的方法，其中所述氧化化學品是過氧化氫。

20. 權利要求19所述的方法，其中所述氧化處理的過程條件是暴露于大于或等于2mg/L的過氧化氫。

21.權利要求1-20中任一項所述的方法，其中所述物體包含醫(yī)療裝置。