[發明專利]用于檢測極高頻（EHF）無線通信設備的有源陣列天線中故障元件的空中（OTA）測試的系統和方法

在審

• 申請號: 201980043000.0
• 申請日: 2019-07-15
• 公開（公告）號: CN112424999A
• 公開（公告）日: 2021-02-26
• 發明（設計）人: 明-喬·忽恩;莫騰·達姆高
• 申請（專利權）人: 萊特普茵特公司
• 主分類號: H01Q3/26
• 分類號: H01Q3/26;H01Q21/00
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 趙曉祎;戚傳江

1.一種包括有源調制散射探針陣列的裝置，所述裝置包括：

電路板結構，所述電路板結構具有多個層，其中所述多個層包括電導體和至少一種電介質的交替的平面層；

第一多個探針天線元件，所述第一多個探針天線元件以第一共同取向按第一陣列設置在所述多個層中的第一層中；

第一多個電信號調制設備，所述第一多個電信號調制設備連接在所述第一多個探針天線元件之間并設置在所述多個層中的第二層中；和

第一多個電阻抗，所述第一多個電阻抗連接在所述第一多個電信號調制設備之間并設置在所述多個層中的所述第二層中。

2.根據權利要求1所述的裝置，其中所述第一多個探針天線元件包括多條微帶跡線。

3.根據權利要求1所述的裝置，其中所述第一多個電信號調制設備包括多個二極管。

4.根據權利要求1所述的裝置，其中所述第一多個電阻抗包括多個電阻。

5.根據權利要求1所述的裝置，其中所述第一多個電信號調制設備是利用多個導電通孔連接在所述第一多個探針天線元件之間的。

6.根據權利要求1所述的裝置，還包括電流測量電路，所述電流測量電路連接到所述第一多個電信號調制設備并被配置為測量通過所述第一多個電信號調制設備中的每一個電信號調制設備傳導的多個相應電流。

7.根據權利要求1所述的裝置，還包括：

第二多個探針天線元件，所述第二多個探針天線元件以第二共同取向按第二陣列設置在所述多個層中的第三層中；

第二多個電信號調制設備，所述第二多個電信號調制設備連接在所述第二多個探針天線元件之間并設置在所述多個層中的第四層中；和

第二多個電阻抗，所述第二多個電阻抗連接在所述第二多個電信號調制設備之間并設置在所述多個層中的所述第四層中。

8.根據權利要求7所述的裝置，其中所述第一共同取向和所述第二共同取向是相互正交的。

9.根據權利要求7所述的裝置，其中所述第一陣列和所述第二陣列相互設置成使得所述第二多個探針天線元件中的相應的探針天線元件設置在與所述第一多個探針天線元件中的相應的探針天線元件相互靠近的位置中。

10.一種用于操作有源調制散射探針陣列的方法，所述方法包括：

提供具有多個層的電路板結構，其中所述多個層包括電導體和至少一種電介質的交替的平面層；

提供第一多個探針天線元件，所述第一多個探針天線元件以第一共同取向按第一陣列設置在所述多個層中的第一層中；

提供第一多個電信號調制設備，所述第一多個電信號調制設備設置在所述多個層中的第二層中并連接在所述第一多個探針天線元件之間；以及

提供第一多個電阻抗，所述第一多個電阻抗設置在所述多個層中的所述第二層中并連接在所述第一多個電信號調制設備之間。

11.根據權利要求10所述的方法，其中所述第一多個探針天線元件包括多條微帶跡線。

12.根據權利要求10所述的方法，其中所述第一多個電信號調制設備包括多個二極管。

13.根據權利要求10所述的方法，其中所述第一多個電阻抗包括多個電阻。

14.根據權利要求10所述的方法，其中所述第一多個電信號調制設備是利用多個導電通孔連接在所述第一多個探針天線元件之間的。

15.根據權利要求1所述的方法，還包括測量通過所述第一多個電信號調制設備中的每一個電信號調制設備傳導的多個相應電流。