[發(fā)明專利]用于調試磁感應流量計的方法和磁感應流量計

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201980041838.6
• 申請日: 2019-05-23
• 公開（公告）號: CN112292585A
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發(fā)明（設計）人: 弗洛倫特·恰布瑟爾;拉爾斯·德雷埃爾;弗雷德·卡佩茨
• 申請（專利權）人: 恩德斯+豪斯流量技術股份有限公司
• 主分類號: G01F1/58
• 分類號: G01F1/58;G01F1/60
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 穆森;戚傳江

1.一種用于調試磁感應流量測量設備的方法，所述磁感應流量測量設備具有：用于產生磁場B的裝置，其中，將電壓U施加給所述裝置，以便產生所述磁場B；和至少一個測量電極對，用于感測介質中的電勢差，其特征在于

在用于穩(wěn)定所述磁場B的平定時間t_a期間平定所述裝置，直到

其中，Δ小于0.25％，尤其是小于0.2％，并且優(yōu)選地小于0.05％，

其中，B_actual對應于所述磁場的當前實際狀態(tài)的磁場終止值，

其中，B_desired對應于所述磁場的穩(wěn)態(tài)條件的磁場終止值，其中，對于任何磁場B^*(t)：

其中，k是大于或等于1000的自然數(shù)，

其中，在所述平定時間t_a期間，第一電壓時間函數(shù)A被施加到用于產生磁場的所述裝置，

其中，在所述平定時間t_a之后，測量時間t_m開始，

其中，在所述測量時間t_m期間，第二電壓時間函數(shù)M被施加到用于產生磁場的所述裝置，

其中，所述平定時間t_a被分成N個第一時間間隔，所述第一時間間隔中的每個具有持續(xù)時間t_a，i，其中i∈[1，2，...，N]，

其中，所述測量時間t_m被分成第二時間間隔，所述第二時間間隔中的每個具有持續(xù)時間t_m，j，其中

其中，所有第一間隔持續(xù)時間的平均值始終小于所有第二間隔持續(xù)時間的平均值

2.根據權利要求1所述的方法，

其中，所施加的電壓U在每個第一間隔持續(xù)時間t_a，i之后和在每個第二間隔持續(xù)時間t_m，j之后改變符號。

3.根據前述權利要求中的一項所述的方法，

其中，所述第二電壓時間函數(shù)M具有第三電壓U_m，shot，i和/或第四電壓U_m，hold，i。

4.根據前述權利要求中的一項所述的方法，

其中，所述第一電壓時間函數(shù)A具有第一電壓U_a，shot，i和/或第二電壓U_a，hold，i，

其中，U_a，shot，i≥U_a，hold，i。

5.根據前述權利要求中的一項所述的方法，

其中，所述第一間隔持續(xù)時間t_a，i的特征在于施加所述第一電壓U_a，shot，i的至少第一時間t_a，shot，i，和/或施加所述第二電壓U_a，hold的至少第二時間t_a，hold，i，

其中，t_a，shot，i≤t_a，hold，i。

6.根據前述權利要求中的一項所述的方法，

其中，U_a，shot，i≥U_{a，shot，i+2}，尤其是U_a，shot，i＞U_{a，shot，i+2}，

其中，t_a，shot，i≤t_{a，shot，i+2}。

7.根據前述權利要求中的一項所述的方法，

其中，所述平定時間t_a的第i個第一時間間隔t_a，i具有下列特征：

a.施加所述第一電壓U_a，shot，i達所述第一時間t_a，shot，i，

b.施加所述第二電壓U_a，hold，i達所述第二時間t_a，hold，i，

c.改變所述電壓的符號。