[發明專利]用于改進地下地層中的中子解釋的方法

在審

• 申請號: 201980041630.4
• 申請日: 2019-04-22
• 公開（公告）號: CN112368607A
• 公開（公告）日: 2021-02-12
• 發明（設計）人: P.R.克拉多克;L.莫斯;J.R.米爾斯;A.E.波梅蘭茨
• 申請（專利權）人: 斯倫貝謝技術有限公司
• 主分類號: G01V5/10
• 分類號: G01V5/10;G01N33/24;E21B49/00;E21B41/00;G06F17/14
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 王增強

1.一種用于改進地下地層中的中子解釋的方法，包括：

估算地下地層中一個或多個深度處的礦物濃度和干酪根濃度；

估算地下地層中一個或多個深度處的干酪根特性；

計算地下地層中一個或多個深度處的礦物特性；

至少部分地基于地下地層中一個或多個深度處的干酪根特性和礦物特性，計算對巖石基質特性的基于中子的測井曲線響應；和

從由中子工具測量的總中子響應中減去來自巖石基質的貢獻。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，估算礦物濃度和干酪根濃度至少部分基于來自地下地層的至少一個樣品的DRIFTS分析。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，估算干酪根特性包括從通過來自地下地層的至少一個樣品的DRIFTS分析測量的紅外光譜進行估算。

4.根據權利要求1所述的方法，還包括：

使用核磁共振、電阻率和介電彌散中的一個或多個來完善基于中子的測井曲線響應。

5.根據權利要求1所述的方法，其中，所述干酪根特性和所述礦物特性中的至少一個包括熱中子孔隙率和氫指數中的一個或多個。

6.根據權利要求1所述的方法，其中，所述干酪根特性和所述礦物特性中的至少一個包括宏觀熱中子吸收截面(“Sigma”)和快速中子散射截面中的一個或多個。

7.根據權利要求1所述的方法，還包括：

執行基于中子的測井曲線響應的解釋，其中該解釋至少部分地基于孔隙率。

8.根據權利要求1所述的方法，還包括：

執行基于中子的測井曲線響應的解釋，其中該解釋至少部分基于使用干酪根和礦物的特性的體積溶液。

9.根據權利要求1所述的方法，其中，計算礦物特性包括通過紅外光譜法求解的多個單獨的礦物豐度的總和，其中，所述多個單獨的礦物豐度中的每個乘以各自的礦物特性。

10.根據權利要求1所述的方法，其中，估算礦物濃度和干酪根濃度、估算干酪根特性和計算礦物特性中的至少一個包括使用通過衰減的全反射或透射傅立葉變換紅外光譜法測量的紅外光譜。

11.一種用于改進地下地層中的中子解釋的系統，包括：

計算系統，包括至少一個處理器，該至少一個處理器配置為估算地下地層中一個或多個深度處的礦物濃度和干酪根濃度，該至少一個處理器還配置為確定地下地層中一個或多個深度處的干酪根特性并計算地下地層中一個或多個深度處的礦物特性，該至少一個處理器還被配置為至少部分地基于地下地層中一個或多個深度處的干酪根特性和礦物特性，通過從由中子工具測量的總中子響應中減去來自巖石基質的貢獻，來計算對巖石基質的基于中子的測井曲線響應。

12.根據權利要求11所述的系統，其中，至少部分地利用來自地下地層的至少一個樣品的DRIFTS分析來估算礦物濃度和干酪根濃度。

13.根據權利要求11所述的系統，其中，所述干酪根特性至少部分地由通過來自地下地層的至少一個樣品的DRIFTS分析測量的紅外光譜來估算。

14.根據權利要求11所述的系統，還包括：

使用核磁共振、電阻率和介電彌散中的一個或多個來完善中子測井曲線響應。

15.根據權利要求11所述的系統，其中，所述干酪根特性和所述礦物特性中的至少一個包括熱中子孔隙率和氫指數中的一個或多個。

16.根據權利要求11所述的系統，其中，所述干酪根特性和所述礦物特性中的至少一個包括宏觀熱中子吸收截面(Sigma)和快速中子散射截面中的一個或多個。