[發明專利]用于操控分析設備用以對試樣材料實施分析的方法和設備

在審

• 申請號: 201980041322.1
• 申請日: 2019-04-18
• 公開（公告）號: CN112236828A
• 公開（公告）日: 2021-01-15
• 發明（設計）人: J·魯普;T·德林;K·塞德爾;T·弗蘭克
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G16H40/60
• 分類號: G16H40/60
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 杜荔南;劉春元

1.用于操控分析設備（100）用以對試樣材料（115）實施分析的方法（600），其中所述方法（600）具有以下步驟：

-讀入（610）使用參數（125），所述使用參數代表所述試樣材料（115）的待實施的分析；

-從指令庫（145）加載（620）用于所述分析設備（100）的至少一個實施單元（110a、110b、100c、100d）的多個操控指令（140、200）；并且

-在使用所述操控指令（140、200）的情況下操控（630）所述至少一個實施單元（110a、100b、110c、110d），以便分析所述試樣材料（115）。

2.根據權利要求1所述的方法（600），其特征在于，在加載所述多個操控指令（140、200）的步驟（620）中，作為單指令從所述指令庫（145）加載所述操控指令（140）并且結合成與待實施的分析相對應的指令集（200），其中操控的步驟（630）在使用所述指令集（200）的情況下被實施。

3.根據前述權利要求中任一項所述的方法（600），其特征在于，在加載（620）的步驟中，加載用于多個實施單元（110a、110b、110c、110d）的操控指令（140、200），其中在操控的步驟（630）中在使用所述操控指令（140、200）的情況下操控所述多個實施單元（110a、110b、100c、110d），用以分析所述試樣材料（115）。

4.根據前述權利要求中任一項所述的方法（600），其特征在于存儲所述試樣材料（115）的分析的分析結果（150）的步驟，其中將所述分析結果（150）與元數據（300）結合，所述元數據代表所述試樣材料（115）的來源、分析參數和/或關于所述分析結果的顯示或轉交的授權的信息（155）。

5.根據前述權利要求中任一項所述的方法（600），其特征在于輸入至少一個在所述指令庫（145）中未知的操控指令（140）用以操控所述至少一個實施單元（110a、110b、110c、110d）的步驟。

6.根據前述權利要求中任一項所述的方法（600），其特征在于，在操控的步驟（630）中，在所述實施單元（110a、110b、110c、110d）中通過至少一個操控指令（140、200）至少實施所述試樣材料（115）的加熱、運動、照射、曝光、用超聲波檢查和/或參數感測。

7.根據前述權利要求中任一項所述的方法（600），其特征在于，在加載的步驟（620）中檢驗：在所述分析設備（100）中是否可以執行或是否允許執行所述試樣材料（115）的通過位置參數（175）待實施的分析，其中如果在所述分析設備（100）中不能執行或不允許執行所述試樣材料（115）的通過所述位置參數（175）待實施的分析，則在加載的步驟（620）中不從所述指令庫（145）加載操控指令（140、200）。

8.根據前述權利要求中任一項所述的方法（600），其特征在于，在操控的步驟（630）中，根據所述實施單元（110a、110b、110c、110d）的參數或者所述試樣材料（115）的待實施的分析的狀態利用所述操控指令（140、200）來操控所述實施單元（110a、110b、110c、110d）。

9.根據前述權利要求中任一項所述的方法（600），其特征在于，在操控的步驟（630）中，在考慮干預參數（180）的情況下借助于所述操控指令（140、200）來操控所述實施單元（110a、110b、110c、110d），尤其是其中在使用人機界面（HMI）情況下和/或在使用自動化地可讀入的干預參數（180）情況下讀入所述干預參數（180）。