[發明專利]用于利用電磁輻射來對測量物體予以測量的方法和THz-測量儀

有效

• 申請號: 201980041317.0
• 申請日: 2019-04-18
• 公開（公告）號: CN112313473B
• 公開（公告）日: 2023-02-17
• 發明（設計）人: R·克洛澤
• 申請（專利權）人: 因諾伊克斯壓鑄技術創新設備有限責任公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;G01S17/08;G01N21/3581;G01S13/88
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 郭帆揚;陳浩然

1.用于對測量物體(3)予以THz-測量的方法，具有至少如下步驟：

- 預測量(I)的階段(St3)；

- 判定是否檢測到所述測量物體(3)(St4)；

- 如果檢測到所述測量物體(3)，則測定THz-測量儀(2)或THz-收發器(8)相距邊界面(3a)的當前距離(d)(St5)；

- 把所測定的所述當前距離(d)與邊界距離(d_tres)相比較(St6)；

- 在未超出所述邊界距離(d_tres)時(St8)，隨后引入主測量(II)或者指示所述主測量(II)的引入；

- 主測量(II)的階段，在該階段中，帶有主測量-帶寬(b2)的主測量-THz-發射射束(212)沿著光學軸線(A)射入到所述測量物體(3)上，并且探測被反射的THz-輻射(14)(St9)，

其中，利用發出的所述主測量-THz-發射射束(212)和探測到的所述被反射的THz-輻射(14)對所述測量物體(3)的幾何特性或材料特性進行測量(St10)；

- 輸出測量結果(St11)，

其中，在所述預測量(I)的階段中使得所述THz-測量儀(2)的THz-收發器(8)的在第一頻率范圍(fb1)內并且帶有第一帶寬(b1)的第一THz-發射射束(112)沿著所述光學軸線(A)射出到所述測量物體(3)上，并且探測被所述測量物體(3)的邊界面(3a)反射的THz-輻射(14)(St3)，并且，

在所述主測量(II)的階段中射入所述主測量-發射射束(212)作為第二發射射束(212)，

其中，所述主測量-發射射束(212)的主測量-帶寬(b2)大于第一帶寬(b1)，

其中，所述THz-輻射(12)處于0.01至10THz的頻率范圍內。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述THz-測量儀(2)是便攜式的，且在把持區域(4)被保持和引導，其中，所述測量儀以其前端區域(5)被定位在所述測量物體(3)之前或其處(St1、St7)。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，便攜式的所述THz-測量儀(2)被使用者以構造在前端區域(5)處的貼靠部放置到所述測量物體(3)的邊界面(3a)處，以便不超出所述邊界距離(d_tres)。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述貼靠部是成型擋板(25)。

5.根據權利要求1-4中任一項所述的方法，其特征在于，通過對操縱設備(18)的操縱，引入所述預測量(I)的階段和/或所述主測量(II)的階段(St2)。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述操縱設備(18)是按鈕。

7.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述操縱設備(18)是開關。

8.根據權利要求1-4中任一項所述的方法，其特征在于，把所述預測量(I)的階段和/或所述主測量(II)的階段指示在顯示設備(16)上。

9.根據權利要求1-4中任一項所述的方法，其特征在于，把所述預測量(I)的階段的一部分和/或所述主測量(II)的階段的一部分指示在顯示設備(16)上。

10.根據權利要求1-4中任一項所述的方法，其特征在于，把所述預測量(I)的階段和/或所述主測量(II)的階段通過光學的顯示設備作為光學信號予以輸出。

11.根據權利要求1-4中任一項所述的方法，其特征在于，把所述預測量(I)的階段的一部分和/或所述主測量(II)的階段的一部分通過光學的顯示設備作為光學信號予以輸出。