[發明專利]用于光檢測器的校準裝置和用于為校準裝置設置校準點的設置裝置

在審

• 申請號: 201980037404.9
• 申請日: 2019-05-29
• 公開（公告）號: CN112204379A
• 公開（公告）日: 2021-01-08
• 發明（設計）人: F·科米尼;F·G·巴古特;V·埃特雷
• 申請（專利權）人: 默克專利股份公司
• 主分類號: G01N21/27
• 分類號: G01N21/27;G01N21/76;H05B45/345
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 李嘯;姜冰

1.一種用于光檢測器的校準裝置，包括：

發光二極管（1）；以及

用于驅動所述發光二極管（1）的電子電路（3）；

其中所述電子電路（3）是恒定電流發生器（3），被配置成向所述發光二極管（1）供應0.5至25 μA的范圍中的恒定驅動電流。

2.根據權利要求1所述的校準裝置，其中所述驅動電流在1至10μA的范圍中，優選地在1.5至4.5μA的范圍中，以及最優選地在2至4μA的范圍中。

3.根據權利要求1或2所述的校準裝置，還包括：

圍繞所述發光二極管（1）的擴散器（5）。

4.根據權利要求1至3中的任一項所述的校準裝置，還包括：

開關裝置（9），被布置成在軸向壓縮容納所述發光二極管（1）的筆形殼體（7）時為所述發光二極管（1）供能。

5.根據權利要求1至4中的任一項所述的校準裝置，還包括：

設置單元（11），用于設置所述驅動電流。

6.根據權利要求5所述的校準裝置，其中

所述設置單元（11）包括用于連接外部電流控制器（53）的接口（13），所述外部電流控制器（53）用于使用光檢測器（51）基于反饋控制來控制所述恒定驅動電流的設置，以便測量所述發光二極管（1）的光輸出。

7.根據權利要求1至6中的任一項所述的校準裝置，其中

所述電流發生器（3）被配置成在多個預定恒定驅動電流之間是可切換的。

8.根據權利要求1至7中的任一項所述的校準裝置，其中

所述電流發生器（3）包括第一運算放大器（31）和分流電阻器（33）；

其中所述分流電阻器（33）與所述發光二極管（1）串聯連接；以及

其中所述第一運算放大器（31）被提供用于向所述發光二極管（1）供應所述恒定驅動電流，并且被連接以將設置的輸入電壓（V2）與基于跨所述分流電阻器（31）的電壓降獲得的電壓進行比較。

9.根據權利要求8所述的校準裝置，其中

所述電流發生器（3）還包括第二運算放大器（35），所述第二運算放大器（35）作為低通濾波器連接在所述第一運算放大器（31）的輸出和所述分流電阻器（33）之間的第一節點處。

10.根據權利要求8或9所述的校準裝置，其中

所述電流發生器（3）還包括第三運算放大器（37），所述第三運算放大器（37）作為電壓跟隨器連接在所述分流電阻器（33）和所述發光二極管（1）之間的節點處。

11.根據權利要求10所述的校準裝置，其中

所述第二運算放大器和第三運算放大器（35，37）的輸出經由相應的電阻（R5，R7，R9）與所述第一運算放大器（31）的反相輸入連接。

12.一種設置裝置，用于為根據權利要求1至11中的任一項的校準裝置設置至少一個校準點，所述設置裝置包括：

光檢測器（51），被配置成輸出表示在檢查中的校準裝置的發光強度的信號；

控制器（53），用于控制在檢查中的所述校準裝置的恒定驅動電流；以及

校準點設置部件（55），用于為在檢查中的所述校準裝置設置至少一個校準點。