[發明專利]針對鍍覆操作改善襯底的可濕性在審
| 申請號: | 201980037211.3 | 申請日: | 2019-04-29 |
| 公開(公告)號: | CN112236847A | 公開(公告)日: | 2021-01-15 |
| 發明(設計)人: | 何治安;尚蒂納特·古艾迪;許亨俊;黃璐丹;馮敬斌;道格拉斯·希爾;托馬斯·伯克;馬尼什·蘭詹;安德魯·詹姆斯·普福 | 申請(專利權)人: | 朗姆研究公司 |
| 主分類號: | H01L21/306 | 分類號: | H01L21/306;H01L21/3105;H01L21/321;H01L21/02;H01L21/324 |
| 代理公司: | 上海勝康律師事務所 31263 | 代理人: | 樊英如;張華 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 針對 鍍覆 操作 改善 襯底 可濕性 | ||
1.一種減少氧化并增加襯底可濕性的方法,所述方法包括:
將所述襯底置于無氧且去離子(DI)濕化的襯底環境中持續預定時間量,所述襯底環境包含氮;
對所述襯底進行鍍覆操作;以及
在對所述襯底進行所述鍍覆操作之后,在退火室中對所述襯底進行后退火。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,所述襯底包含形成于其上的金屬晶種層。
3.根據權利要求1所述的方法,其中,所述襯底環境為前開式晶片傳送盒(FOUP)。
4.根據權利要求1所述的方法,其還包括將所述襯底環境內的相對濕度(RH)范圍控制在20%與100%之間的范圍內。
5.根據權利要求1所述的方法,其中,所述鍍覆操作包括電化學沉積。
6.根據權利要求1所述的方法,其還包括在鍍覆后室中進行所述襯底的清潔和干燥。
7.根據權利要求1所述的方法,其中,所述后退火工藝包括:
在30℃至400℃之間的溫度范圍內對所述襯底進行退火持續介于30秒與600秒之間;以及
冷卻所述襯底持續介于30秒與600秒之間。
8.一種減少氧化并增加襯底可濕性的方法,所述方法包括:
將所述襯底置于基于氮的襯底環境中持續預定時間量;
對所述襯底進行濕化操作:
對所述襯底進行鍍覆操作;以及
在對所述襯底進行所述鍍覆操作之后,在退火室中對所述襯底進行后退火。
9.根據權利要求8所述的方法,其中,所述濕化操作包括:
將所述襯底置于預處理室中,其包含使所述襯底經歷真空下的基于氫等離子體的工藝;
在所述基于氫等離子體的工藝之后,將所述襯底置于真空至大氣轉換模塊中;以及
供應水蒸氣至所述真空至大氣轉換模塊,以增加所述襯底的表面上的水蒸氣吸附。
10.根據權利要求8所述的方法,其中,所述濕化操作包括:
將所述襯底置于預處理室中,其包括使所述襯底經歷真空下的基于氫等離子體的工藝;
在所述基于氫等離子體的工藝之后,將所述襯底置于真空至大氣轉換模塊中;
將所述襯底置于停留站中,其包含旋轉所述襯底;以及
供應水蒸氣至所述停留站,以增加所述襯底的表面上的水蒸氣吸附。
11.根據權利要求9或10所述的方法,其還包括:
通過在所述襯底的表面上形成氫氧根層來促進所述水蒸氣吸附。
12.根據權利要求10所述的方法,其中,所述襯底的轉速介于0轉/分鐘(RPM)與1300RPM之間。
13.根據權利要求8所述的方法,其中,所述襯底包含形成于其上的金屬晶種層。
14.根據權利要求8所述的方法,其中,所述鍍覆操作包括電化學沉積。
15.一種減少氧化并增加襯底可濕性的方法,所述方法包括:
將所述襯底置于襯底環境中持續預定時間量;
以包含氫的混合氣體,對所述襯底進行預退火工藝;
在所述預退火工藝之后,對所述襯底進行濕化操作;
對所述襯底進行鍍覆操作;以及
在對所述襯底進行所述鍍覆操作之后,在退火室中對所述襯底進行后退火。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





