[發明專利]使用天線陣列的無線測試夾具，用于執行無線生產測試的方法

在審

• 申請號: 201980034342.6
• 申請日: 2019-05-15
• 公開（公告）號: CN112204406A
• 公開（公告）日: 2021-01-08
• 發明（設計）人: M·K·達希爾瓦;章晨;C·G·施羅德;A·阿茲斯;P·S·班威特
• 申請（專利權）人: 美國國家儀器有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28;G01R31/302;G01R29/10
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 馮薇

1.一種用于對被測裝置(DUT)執行無線生產測試的方法，所述方法包括：

將所述DUT安裝在測試位置，其中，所述測試位置是在測量夾具中，其中，所述測試位置包括用于至所述DUT的電力、控制和數據的連接；

基于測試輸入將無線信號傳輸到所述DUT，其中，使用測試天線陣列和第一接收方向圖定義來傳輸所述測試輸入，其中，所述第一接收方向圖定義包括至少一個損傷，其中，所述至少一個損傷包括方向圖損傷；

基于所述無線信號從所述DUT接收第一輸出信號，其中，所述第一輸出信號包括以下當中的一項：

由所述DUT接收的調制信號；或者

由所述DUT接收的調制信號的質量度量；以及

至少部分地基于所述第一輸出信號確定所述DUT是否滿足質量標準。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，確定所述DUT是否滿足質量標準包括：

將所述第一輸出信號與所述第一接收方向圖定義的預期輸出信號進行比較。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述質量度量包括以下當中的一項：

誤碼率(BER)；

誤幀率(FER)；或者

信號噪聲和失真(SINAD)。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，所述第一輸出信號包括來自所述DUT的無線傳輸。

5.根據權利要求4所述的方法，其中，所述第一輸出信號由所述測試天線陣列中的至少一個天線接收。

6.根據權利要求1所述的方法，其中，所述至少一個損傷包括波束成形損傷。

7.根據權利要求1所述的方法，所述方法還包括：

形成簽名，其中，所述簽名包括所述第一接收方向圖定義，其中，所述簽名至少部分地基于以下當中的一個或多個形成：

數學方法；

經驗方法；或者

計算機生成的模型。

8.一種用于對被測裝置(DUT)執行無線生產測試的方法，所述方法包括：

將所述DUT安裝在測試位置，其中，所述測試位置是在測量夾具中，其中，所述測試位置包括用于至所述DUT的電力、控制和數據的連接；

基于測試輸入使用第一方向圖定義使得所述DUT傳輸無線信號；

使用連接到至少一個儀器的天線陣列對所述無線信號執行多個測量，其中，所述至少一個儀器被配置成測量所述無線信號；

將基于所述第一方向圖定義的多個預期測量與所述無線信號的多個測量進行比較；以及

至少部分地基于所述比較，確定所述DUT是否滿足質量標準。

9.根據權利要求8所述的方法，所述方法還包括：

形成包括所述第一方向圖定義的簽名；以及

確定與所述第一方向圖定義相關聯的多個測試天線位置，其中，所述天線陣列包括在所述多個測試天線位置的天線，其中，所述多個預期測量包括與所述多個測試天線位置的相應測試天線位置相關聯的相應測量，其中，所述相應測量基于對理想DUT的計算或建模。

10.根據權利要求9所述的方法，其中，形成所述簽名包括：

執行對故障DUT的建模；以及

確定至少一個方向圖定義以暴露所述故障DUT的第一故障，其中，所述至少一個方向圖定義包括所述第一方向圖定義。

11.根據權利要求8所述的方法，其中，所述比較包括計算所述多個測量的相應測量值與所述多個預期測量的相應預期測量值之間的相應差值，并將相應差值與第一閾值進行比較。

12.根據權利要求11所述的方法，其中，所述比較還包括：

確定超過所述第一閾值的相應差值的數目；以及

確定所述數目是否小于第二閾值。