[發明專利]利用區塊鏈進行供應鏈管理及完整性驗證的系統及方法在審
| 申請號: | 201980032104.1 | 申請日: | 2019-03-14 |
| 公開(公告)號: | CN112106092A | 公開(公告)日: | 2020-12-18 |
| 發明(設計)人: | 哈蓋·阿龍;納達夫·佑蘭;大衛·馬克·羅森布拉特 | 申請(專利權)人: | 安全事業有限公司 |
| 主分類號: | G06Q30/00 | 分類號: | G06Q30/00;G06Q30/06;G06Q10/08;G06Q20/40;G01N23/22;H04L29/06;H04L12/24;G06F21/60 |
| 代理公司: | 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
| 地址: | 以色列赫維*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 利用 區塊 進行 供應 管理 完整性 驗證 系統 方法 | ||
揭露了用于管理實體物體交易的系統及方法。所述系統可連接到第一分布式賬本,所述第一分布式賬本適于記錄與多方之間的一個或多個實體物體交易相關的多個物體交易。所述系統包含:第二分布式賬本,所述第二分布式賬本適于記錄指示對一個或多個實體物體進行的多個物體處理操作的數據;以及物體處理管理模塊,其適于認證對一個或多個實體物體進行的多個處理操作。物體處理管理模塊被配置且可操作為用于獲取多個處理操作的多個執行參數,對多個處理操作的多個執行參數進行認證并將認證后的多個處理操作記錄在第二分布式賬本中。從而,系統能夠在認證對一個或多個實體物體執行的多個處理操作的多個執行參數滿足一個或多個相應的預定條件時,記錄與一個或多個實體物體相關聯的多個物體交易。
技術領域
本發明屬于供應鏈管理領域,更具體地涉及多個分布式賬本上的多個供應鏈的管理。
背景技術
物體的X射線熒光(X-ray fluorescence)簽名及/或標記(在本文中通常稱為標記)有利于一種用于對各種實體物體(physical object)及/或這類實體物體的類型或批次(batch)/批量(lot)進行標記以及認證的健全且可靠的技術,同時通過實際措施(例如,不破壞實體物體)來防止/消除對此類實體物體的偽造?;谔砑拥轿矬w上及/或最初固有地存在于物體中的XRF標記/簽名來標記及/或認證各種類型的物體的技術是多用途且健全的,以及可用于識別以及認證各種類型的物體以及材料。
舉例來說,共同轉讓給本申請的受讓人的PCT專利申請公開案WO 2016/157185揭露了一種用于對用XRF標記進行標記的物體進行認證的方法及系統。所述方法包含,提供響應于施加到物體的X射線或伽馬射線輻射而從物體來的X射線信號的檢測部分的波長光譜輪廓(wavelength spectral profile),以及對X射線信號的檢測部分的波長光譜輪廓進行濾波以抑制(suppress)來自波長光譜輪廓的趨勢(trend)和周期性成分(periodiccomponents),所述趨勢和周期性分量與X射線信號與X射線信號部分中的噪聲(noise)及雜波(clutter)的至少一個相關聯,從而獲得具有改善的信噪比(signal to noise ratio)及/或信號雜波比(signal to clutter ratio)的已濾波輪廓,而與所述物體所包含的材料相關聯的已濾波輪廓的光譜波峰可以具有更高的準確性和可靠性來被識別。對所述物體的認證是通過處理已濾波輪廓以識別滿足預定條件的所述已濾波輪廓中的一個或多個波峰來進行,由此已識別的波峰的波長指示物體中所包含的材料的特征。
共同轉讓給本申請的受讓人的PCT專利申請公開案WO 2017/134660揭露了一種用于通過X射線熒光(XRF)分析來驗證物體(例如,金屬物體)的真實性的防偽標記技術。
共同轉讓給本申請的受讓人的PCT專利申請公開案WO 2017/175219揭露了一種用于驗證電子系統的組件(例如,部件或裝置)的兼容性的方法以及系統。在特定實施例中,所述方法包含:使用XRF激發輻射照射假定與電子系統相關聯的第一及第二組件,以及檢測響應于所述輻射而從第一及第二組件所發出的指示第一及第二XRF簽名的一個或多個的XRF響應信號。然后,對第一及第二XRF簽名進行處理以確定它們是否分別與第一及第二組件上的第一及第二XRF標記的組合物相關聯,并且基于第一及第二XRF簽名/標記之間的對應關系(correspondence)確定/驗證第一及第二組件與電子系統的兼容性。特定實施例還揭露了電子系統,其包含至少第一及第二電子組件/裝置,所述第一及第二電子組件/裝置分別具有使組件的兼容性得以驗證的第一以及第二XRF標記的組成物。特定實施例揭露了用于基于第一及第二電子組件的第一及第二XRF簽名/標記之間的對應關系來對第一及第二組件(例如,裝置)進行配對的技術。特定實施例揭露了各種用于校準施加于電子組件的不同基板材料的XRF標記的XRF測量校準技術。
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