[發明專利]石墨烯前體的判別方法、判別裝置以及判別程序

在審

• 申請號: 201980031804.9
• 申請日: 2019-02-26
• 公開（公告）號: CN112105918A
• 公開（公告）日: 2020-12-18
• 發明（設計）人: 佐佐木明登;室山知宏
• 申請（專利權）人: 株式會社理學
• 主分類號: G01N23/2055
• 分類號: G01N23/2055;C01B32/20;C01B32/19
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 王暉

1.一種石墨烯前體的判別方法，是針對六方晶系石墨層以及菱面體晶系石墨層混合的石墨原料的石墨烯前體的判別方法，其特征在于，包括：

針對石墨原料的粉末X射線衍射數據，確定衍射角的零點的步驟；

在形成所述石墨原料的石墨烯片材的面間隔以及所述石墨烯片材內的晶體結構在混合為所述石墨原料的任意的石墨層中均相同的假定下，根據所確定的所述零點，計算六方晶系石墨層以及菱面體晶系石墨層所特有的波峰位置的步驟；

對計算出的所述波峰位置處的積分強度進行計算的步驟；和

基于計算出的所述積分強度，判別所述石墨原料是否是石墨烯前體的步驟。

2.根據權利要求1所述的石墨烯前體的判別方法，其特征在于，

在確定所述衍射角的零點的步驟中，在形成所述石墨原料的石墨烯片材的面間隔在混合為所述石墨原料的任意的構造中均相同的假定下，使用以所述石墨烯片材為晶格面的衍射線的波峰位置。

3.根據權利要求2所述的石墨烯前體的判別方法，其特征在于，

在確定所述衍射角的零點的步驟中，使用以多個所述石墨烯片材為晶格面的衍射線的波峰位置。

4.根據權利要求1至3的任一項所述的石墨烯前體的判別方法，其特征在于，

在所述判別的步驟中，判定計算出的所述波峰位置處的六方晶系石墨層的101衍射線的積分強度值相對于菱面體晶系石墨層的101衍射線的積分強度值的比例是否為給定值以上。

5.根據權利要求4所述的石墨烯前體的判別方法，其特征在于，

將計算出的所述菱面體晶系石墨層的101衍射線的積分強度值設為P3，且將六方晶系石墨層的101衍射線的積分強度值設為P4時，判定P3/(P3+P4)是否為0.31以上。

6.一種判別裝置，是針對六方晶系石墨層以及菱面體晶系石墨層混合的石墨原料的石墨烯前體的判別裝置，其特征在于，具備：

零點確定部，針對石墨原料的粉末X射線衍射數據，確定衍射角的零點；

波峰位置計算部，在形成所述石墨原料的石墨烯片材的面間隔以及所述石墨烯片材內的晶體結構在混合為所述石墨原料的任意的石墨層中均相同的假定下，根據確定的所述零點，計算六方晶系石墨層以及菱面體晶系石墨層所特有的波峰位置；

積分強度計算部，對計算出的所述波峰位置處的積分強度進行計算；和

輸出部，基于計算出的所述積分強度，能判別地輸出為所述石墨原料是否是石墨烯前體。

7.一種判別程序，是針對六方晶系石墨層以及菱面體晶系石墨層混合的石墨原料的石墨烯前體的判別程序，其特征在于，使計算機執行如下處理：

針對石墨原料的粉末X射線衍射數據，確定衍射角的零點的處理；

在形成所述石墨原料的石墨烯片材的面間隔以及所述石墨烯片材內的晶體結構在混合為所述石墨原料的任意的石墨層中均相同的假定下，根據確定的所述零點，計算六方晶系石墨層以及菱面體晶系石墨層所特有的波峰位置的處理；

對計算出的所述波峰位置處的積分強度進行計算的處理；和

基于計算出的所述積分強度，能判別地輸出為所述石墨原料是否是石墨烯前體的處理。