[發(fā)明專利]含有氧化物半導(dǎo)體層的薄膜晶體管在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201980030601.8 | 申請日: | 2019-04-23 |
| 公開(公告)號: | CN112088432A | 公開(公告)日: | 2020-12-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 越智元隆;后藤裕史 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社神戶制鋼所 |
| 主分類號: | H01L29/786 | 分類號: | H01L29/786;C23C14/08;H01L21/336;H01L21/363 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 楊貝貝;臧建明 |
| 地址: | 日本兵庫縣神戶市中央?yún)^(qū)脇浜海岸通*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 含有 氧化物 半導(dǎo)體 薄膜晶體管 | ||
本發(fā)明提供一種包括氧化物半導(dǎo)體層薄膜的薄膜晶體管,其在維持高場效應(yīng)遷移率的同時應(yīng)力耐受性、尤其光應(yīng)力耐受性優(yōu)異。所述薄膜晶體管在基板上至少包括柵極電極、柵極絕緣膜、氧化物半導(dǎo)體層、源極?漏極電極、以及至少一層保護膜,并且構(gòu)成氧化物半導(dǎo)體層的金屬元素包含In、Ga、Zn及Sn,相對于氧化物半導(dǎo)體層中的全部金屬元素的合計(In+Ga+Zn+Sn)的各金屬元素的比例為:In:30原子%以上且45原子%以下、Ga:5原子%以上且未滿20原子%、Zn:30原子%以上且60原子%以下、以及Sn:4.0原子%以上且未滿9.0原子%。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種含有氧化物半導(dǎo)體層的薄膜晶體管(Thin Film Transistor,TFT)。更詳細(xì)而言,本發(fā)明涉及一種適宜地用于液晶顯示器或有機電致發(fā)光(electroluminescence,EL)顯示器等顯示裝置的、含有氧化物半導(dǎo)體層的薄膜晶體管。
背景技術(shù)
非晶(amorphous)(非晶質(zhì))氧化物半導(dǎo)體與通用的非晶硅(a-Si)相比具有高載流子(carrier)濃度,從而期待應(yīng)用于要求大型、高分辨率、高速驅(qū)動的下一代顯示器中。另外,非晶氧化物半導(dǎo)體的光學(xué)能帶隙(band gap)大,可在低溫下成膜,因此可在耐熱性低的樹脂基板上成膜,從而也期待應(yīng)用于輕且透明的顯示器中。
作為如上所述的非晶氧化物半導(dǎo)體,例如如專利文獻1所示,已知有包含銦(In)、鎵(Ga)、鋅(Zn)及氧(O)的In-Ga-Zn系非晶氧化物半導(dǎo)體(以下有時簡稱為“IGZO”)。
此處,包括包含IGZO的氧化物半導(dǎo)體層的薄膜晶體管的場效應(yīng)遷移率雖高于通用的非晶硅,但為10cm2/Vs左右。但,為了應(yīng)對顯示裝置的大畫面化、高精細(xì)化或高速驅(qū)動化,尋求具有更高的場效應(yīng)遷移率的材料。
進而,對使用了IGZO之類的氧化物半導(dǎo)體層的薄膜晶體管而言,要求相對于光照射或電壓施加等應(yīng)力的耐受性(應(yīng)力耐受性)優(yōu)異。即,要求相對于光照射或電壓施加等應(yīng)力而薄膜晶體管的閾值變化量小。例如,當(dāng)對柵極電極持續(xù)施加電壓時、或在半導(dǎo)體層中持續(xù)照射會引起吸收的藍色范圍的光時,在薄膜晶體管的柵極絕緣膜與半導(dǎo)體層界面處捕獲電荷(charge),因半導(dǎo)體層內(nèi)部的電荷的變化,閾值電壓可向負(fù)側(cè)大幅變化(偏移(shift))。其結(jié)果,指出了薄膜晶體管的開關(guān)特性發(fā)生變化的情況。
另外,當(dāng)進行液晶面板驅(qū)動時、或?qū)艠O電極施加負(fù)偏壓(bias)而使像素點燈時等,自液晶單元漏出的光照射至薄膜晶體管,但所述光會對薄膜晶體管帶來應(yīng)力而成為圖像不均或特性劣化的原因。當(dāng)在實際中使用薄膜晶體管時,若因光照射或電壓施加所形成的應(yīng)力而開關(guān)特性發(fā)生變化,則導(dǎo)致顯示裝置自身的可靠性降低。
另外,在有機EL顯示器中,來自發(fā)光層的漏光也同樣照射至半導(dǎo)體層中,產(chǎn)生閾值電壓等的值發(fā)生偏差等問題。
此種閾值電壓的偏移會導(dǎo)致具備薄膜晶體管的液晶顯示器或有機EL顯示器等顯示裝置自身的可靠性降低,因此強烈期望應(yīng)力耐受性的提高(即,應(yīng)力施加前后的變化量少)。
現(xiàn)有技術(shù)文獻
專利文獻
專利文獻1:日本專利特開2010-219538號公報
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明所要解決的問題
本發(fā)明是鑒于所述情況而成,其目的在于提供一種具備氧化物半導(dǎo)體層薄膜的薄膜晶體管,所述薄膜晶體管在維持高場效應(yīng)遷移率的同時應(yīng)力耐受性、尤其光應(yīng)力耐受性優(yōu)異。
解決問題的技術(shù)手段
本發(fā)明人們反復(fù)進行努力研究,結(jié)果發(fā)現(xiàn),通過在薄膜晶體管中的氧化物半導(dǎo)體層中采用特定的組成,可解決所述課題,從而完成本發(fā)明。
即,本發(fā)明涉及以下的[1]。
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- 專利分類
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H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
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H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
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H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





