[發明專利]螺紋形狀的測定裝置以及測定方法

有效

• 申請號: 201980021753.1
• 申請日: 2019-04-26
• 公開（公告）號: CN111919085B
• 公開（公告）日: 2022-07-26
• 發明（設計）人: 本田達朗;大島伸一;伊勢居良仁;大家賢志郎;倉本武典;田中孝憲
• 申請（專利權）人: 日本制鐵株式會社
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 徐殿軍

1.一種螺紋形狀的測定裝置，其特征在于，具備：

第一照明部，具有與螺紋部的包含螺紋軸的截面正交的方向的光軸，射出平行光對上述螺紋部進行照明；

第二照明部，在相對于與上述截面正交的方向成為比上述螺紋部的導程角大的角度的方向上具有光軸，射出平行光對上述螺紋部進行照明；

攝像部，具有與上述第一照明部的光軸平行的視軸，具備遠心透鏡，并且上述截面與其聚焦位置一致，對從上述第一照明部或者上述第二照明部射出的平行光中、未被上述螺紋部遮擋而通過了的光進行檢測并攝像；以及

運算部，基于由上述攝像部攝像的攝像圖像，對上述螺紋部的螺紋形狀進行運算，

上述運算部為，

通過對第一攝像圖像實施圖像處理，由此計算出上述截面中的沿著上述螺紋軸的軸向的上述螺紋部的部分的外形即第一外形，上述第一攝像圖像是對從上述第一照明部射出的平行光中未被上述螺紋部遮擋而通過了的光進行檢測并攝像而得到的，

通過對第二攝像圖像實施圖像處理，由此計算出上述截面中的沿著上述螺紋軸的軸向的上述螺紋部的部分的外形即第二外形，上述第二攝像圖像是對從上述第二照明部射出的平行光中未被上述螺紋部遮擋而通過了的光進行檢測并攝像而得到的，

通過對上述第二攝像圖像實施圖像處理，由此對構成上述第二攝像圖像的像素的聚焦測度進行計算，基于該計算出的聚焦測度，對上述第二外形進行計算，

基于上述計算出的第一外形以及第二外形，對上述螺紋部的螺紋形狀進行運算。

2.如權利要求1所述的螺紋形狀的測定裝置，其特征在于，

上述運算部為，基于聚焦測度的X方向以及Y方向的重心位置，對上述第二外形進行計算。

3.如權利要求1或2所述的螺紋形狀的測定裝置，其特征在于，

上述運算部為，對上述第二攝像圖像中的上述第二外形所處于的范圍進行推斷，對上述推斷出的范圍的像素的聚焦測度進行計算。

4.如權利要求1或2所述的螺紋形狀的測定裝置，其特征在于，

上述運算部為，對包含上述螺紋部的齒側面以及上述螺紋部的螺紋底的端部的外形的上述第二外形進行計算。

5.如權利要求1或2所述的螺紋形狀的測定裝置，其特征在于，

上述螺紋部是形成在帶螺紋管的端部的螺紋部。

6.一種螺紋形狀的測定方法，其特征在于，包括：

第一照明工序，通過第一照明部對螺紋部進行照明，該第一照明部具有與上述螺紋部的包含螺紋軸的截面正交的方向的光軸，射出平行光；

第一攝像工序，通過攝像部對從上述第一照明部射出的平行光中的未被上述螺紋部遮擋而通過了的光進行檢測并攝像，該攝像部具有與上述第一照明部的光軸平行的視軸，具備遠心透鏡，并且上述截面與其聚焦位置一致；

第二照明工序，通過第二照明部對上述螺紋部進行照明，該第二照明在相對于與上述截面正交的方向成為比上述螺紋部的導程角大的角度的方向上具有光軸，射出平行光；

第二攝像工序，通過上述攝像部，對從上述第二照明部射出的平行光中的未被上述螺紋部遮擋而通過了的光進行檢測并攝像；

第一外形計算工序，對通過上述第一攝像工序攝像的第一攝像圖像實施圖像處理，由此對上述截面中的沿著上述螺紋軸的軸向的上述螺紋部的部分的外形即第一外形進行計算；

第二外形計算工序，對通過上述第二攝像工序攝像的第二攝像圖像實施圖像處理，由此對上述截面中的沿著上述螺紋軸的軸向的上述螺紋部的部分的外形即第二外形進行計算；以及

螺紋形狀運算工序，基于通過上述第一外形計算工序計算出的第一外形以及通過上述第二外形計算工序計算出的第二外形，對上述螺紋部的螺紋形狀進行運算，

上述第二外形計算工序，對通過上述第二攝像工序攝像的上述第二攝像圖像實施圖像處理，由此對構成上述第二攝像圖像的像素的聚焦測度進行計算，基于該計算出的聚焦測度，對上述第二外形進行計算。