[發(fā)明專利]粉粒體散布量檢查裝置和檢查方法、及含粉粒體的物品的制造裝置和制造方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201980017821.7
• 申請日: 2019-03-06
• 公開（公告）號: CN111868485B
• 公開（公告）日: 2022-03-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 平尚大
• 申請（專利權(quán)）人: 花王株式會社
• 主分類號: G01G13/16
• 分類號: G01G13/16;G01N15/02
• 代理公司: 北京尚誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳;何中文

制造裝置(1)包括的粉粒體散布量檢查裝置(100)，在將貯存于容器(2)內(nèi)的粉粒體(P)排出并使其自由落下而散布至散布對象物(T)的粉粒體散布工序的實施期間，對粉粒體(P)的散布量進行檢查，該粉粒體散布量檢查裝置(100)包括第一計測機構(gòu)(101)和第二計測機構(gòu)(102)。計測機構(gòu)(101)用計量裝置(4)在時間上連續(xù)地對容器(2)和粉粒體(P)的總質(zhì)量進行計量，計測該總質(zhì)量在規(guī)定時間t1內(nèi)的變化量。計測機構(gòu)(102)基于從用拍攝裝置(11)對自由落下的粉粒體(P)進行拍攝并進行二值化處理而得到的數(shù)據(jù)獲得的粉粒體(P)的累計像素、和由計測機構(gòu)(101)計測到的該規(guī)定時間t1內(nèi)的上述變化量，生成校準線，并基于該校準線，計測粉粒體散布工序的實施期間的某一定時間t2內(nèi)的粉粒體(P)的散布量。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及在將容器內(nèi)貯存的粉粒體散布于散布對象物的工序中利用的粉粒體散布量檢查裝置和檢查方法。此外，本發(fā)明還涉及含粉粒體的物品的制造裝置和制造方法。

背景技術(shù)

作為將料斗等容器中貯存的粉粒體輸送、供給到該容器的外部的方法，已知使粉粒體的輸送通道振動的方法。在該方法中，通過調(diào)節(jié)輸送通道的振動強度，能夠調(diào)節(jié)粉粒體的流量(每單位時間的輸送量)。作為這樣的粉粒體的流量計測方法，已知對容器中貯存的粉粒體的質(zhì)量連續(xù)地進行計測，計算出每單位時間的質(zhì)量變化(質(zhì)量減少量)，將該每單位時間的質(zhì)量變化作為粉體的流量的、所謂的重量損失(Loss in Weight)方式下的流量計測方法。此外，為了使粉粒體的流量為期望的值，進行以下處理：使用按重量損失方式算出的流量，實施振動強度等驅(qū)動條件的反饋控制，獲得穩(wěn)定的固定流量(例如專利文獻1和2)。

此外，關(guān)于檢查粉粒體的輸送、供給量的技術(shù)，至今按照檢查目的提出了幾個方案。例如專利文獻3中記載了如下所述的方法：使用紅外線或近紅外線CCD照相機，測量輸送傳送機上的還原鐵顆粒等高溫粒狀物集合體的質(zhì)量等。該方法中，照相機捕捉由溫度差引起的圖像濃度的差異，求出上述集合體的面積，利用校準線(calibration curve)換算為質(zhì)量。由此，掌握作為粒狀物集合體的輸出源的回轉(zhuǎn)爐內(nèi)壁的附著物的生長狀況。

專利文獻4中記載了能夠在進行散布期間連續(xù)地檢測構(gòu)成產(chǎn)品的粉粒體的質(zhì)量的粉粒體的質(zhì)量檢查裝置。該裝置中，基于從檢查初始階段的二值化圖像數(shù)據(jù)得到的粉粒體的像素、和在粉粒體的落下軌道的下方由質(zhì)量測量部在規(guī)定時間測量的粉粒體的質(zhì)量，生成將像素與質(zhì)量的對應(yīng)關(guān)系以一次函數(shù)表示的基準校準線，進一步，基于該基準校準線和從該二值化圖像數(shù)據(jù)算出的檢查初始階段的粉粒體的粒徑，算出檢查對象的粉粒體的粒徑，使用該粒徑的算出值，修正該基準校準線的斜率而生成修正校準線。然后，根據(jù)拍攝到的各二值化圖像數(shù)據(jù)的像素，基于上述修正校準線，計測粉粒體的質(zhì)量值即散布量。

現(xiàn)有技術(shù)文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開平11-160138號公報

專利文獻2：日本特開2000-55721號公報

專利文獻3：日本特開2002-5637號公報

專利文獻4：日本特開2017-116260號公報

發(fā)明內(nèi)容