[發明專利]在對各種對象和放射性分布的定量正電子發射斷層攝影(PET)重建中的死時間校正方法在審
| 申請號: | 201980015666.5 | 申請日: | 2019-01-24 |
| 公開(公告)號: | CN111788499A | 公開(公告)日: | 2020-10-16 |
| 發明(設計)人: | 宋犀云;葉京漢;Y·毛;白傳勇;A·安德烈耶夫;G·道蒂;L·羅曼諾夫;胡志強 | 申請(專利權)人: | 皇家飛利浦有限公司 |
| 主分類號: | G01T1/17 | 分類號: | G01T1/17 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 劉兆君 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 各種 對象 放射性 分布 定量 正電子 發射 斷層 攝影 pet 重建 中的 時間 校正 方法 | ||
1.一種非瞬態計算機可讀介質,其存儲指令,所述指令能由包括至少一個電子處理器(20)的工作站(18)讀取并運行以執行圖像重建方法(100),所述方法包括:
在由多個輻射探測器(17)探測到的成像數據的幀中確定所述輻射探測器的單個率;
基于在采集成像數據的所述幀期間入射在每個輻射探測器上的伽馬射線的能譜分布來確定針對所述輻射探測器的能量校正因子(Nwgt);
根據針對每個輻射探測器確定的所述單個率和所述能量校正因子來確定針對所述輻射探測器的單個生存時間校正因子;
針對連接輻射探測器的對的多條響應線(LOR)中的每條LOR,根據所確定的由所述LOR連接的輻射探測器的所述對的單個生存時間校正因子來確定針對所述LOR的生存時間校正因子;并且
使用所確定的LOR生存時間校正因子來重建成像數據的所述幀。
2.根據權利要求1所述的非瞬態計算機可讀介質,其中,對所述能量校正因子(Nwgt)的所述確定包括:
確定函數N(E),其中,N(E)是由能量E的伽馬射線產生的觸發的統計計數;并且
通過在采集成像數據的所述幀期間入射在每個輻射探測器上的伽馬射線的所述能譜分布上對N(E)求平均來確定針對所述輻射探測器的所述能量校正因子(Nwgt)。
3.根據權利要求2所述的非瞬態計算機可讀介質,還包括:使用對根據成像數據的所述幀重建的初始圖像執行的蒙特卡洛模擬來確定在采集成像數據的所述幀期間入射在每個輻射探測器上的伽馬射線的所述能譜分布。
4.根據權利要求2-3中的任一項所述的非瞬態計算機可讀介質,其中,相同的函數N(E)用于針對所述多個輻射探測器中的每個輻射探測器確定所述能量校正因子(Nwgt)。
5.根據權利要求2-4中的任一項所述的非瞬態計算機可讀介質,其中,確定所述函數N(E)包括:對來自模擬源的輻射探測器中的能量沉積執行蒙特卡洛模擬,以獲得每個能量E處的N的平均值。
6.根據權利要求1-4中的任一項所述的非瞬態計算機可讀介質,其中,所述方法還包括:
基于在采集成像數據的所述幀期間入射在所述輻射探測器上的伽瑪射線的所述能譜分布中的以下兩個部分的比率來確定低能量觸發校正因子(R):(i)落入采集能量窗口(In-Ewindow)中的部分與(ii)落入涵蓋所述采集能量窗口和較低的觸發能量窗口(Below-Ewindow)的延伸能量窗口(Full-Ewindow)中的部分;
其中,根據針對每個輻射探測器確定的所述低能量觸發校正因子(R)來進一步確定針對所述輻射探測器的所述單個生存時間校正因子。
7.根據權利要求6所述的非瞬態計算機可讀介質,還包括:使用對根據成像數據的所述幀重建的初始圖像執行的蒙特卡洛模擬來確定在采集成像數據的所述幀期間入射在每個輻射探測器上的伽馬射線的所述能譜分布。
8.根據權利要求1-7中的任一項所述的非瞬態計算機可讀介質,其中,根據因每個輻射探測器對高于閾值的單個率的處理限制而導致的死時間因子來進一步確定針對所述輻射探測器的所述單個生存時間校正因子。
9.根據權利要求1-8中的任一項所述的非瞬態計算機可讀介質,其中,根據所確定的由所述LOR連接的輻射探測器的所述對的單個生存時間校正因子并且還根據取決于針對成像數據的所述幀的系統單個率的所述LOR的符合因子(L符合)來確定針對每條LOR的所述生存時間校正因子。
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