[發明專利]用于檢測絲上的涂層的設備以及使用該設備的方法

有效

• 申請號: 201980015371.8
• 申請日: 2019-02-26
• 公開（公告）號: CN111771100B
• 公開（公告）日: 2023-08-11
• 發明（設計）人: B·萬蘭德格赫姆;W·范雷滕;K·莫蒂爾;T·貝克蘭特
• 申請（專利權）人: 貝卡爾特先進簾線阿爾特公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;B21C37/04;G01N21/64;B21C51/00
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 范懷志

1.一種測量單元，用于光學地驗證絲上涂層的存在，包括：

-腔，具有用于引導所述絲通過所述腔的入口孔和出口孔，所述入口孔和所述出口孔限定參考軸線；

-兩個或更多個源；

-兩個或更多個檢測器；

所述源用于朝向所述參考軸線上的中心點發射光，所述檢測器用于檢測光，

其特征在于，源的數目和檢測器的數目是偶數，所述源在源平面中成對地與所述參考軸線(106，706)相對設置，所述檢測器在檢測器平面中成對地與所述參考軸線相對設置，所述源平面和所述檢測器平面包括所述參考軸線，其中對于每一個源平面，存在與所述每一個源平面正交的檢測器平面，并且

其中成對的所述檢測器和成對的所述源位于垂直于所述參考軸線的單個平面中，并且其中以具有下述時間間隔的周期驅動所述測量單元的所述源和檢測器，

在第一時間間隔內，點亮所述源中的至少一個源，同時記錄由所有檢測器分別檢測到的亮等級；

在第二時間間隔內，熄滅所述源中的所有源，同時記錄由所有檢測器分別檢測到的暗等級，

處理每個單獨檢測器所記錄的暗等級和亮等級，以提取關于絲上涂層的存在的信息。

2.根據權利要求1所述的測量單元，其中所述源平面和所述檢測器平面圍繞所述參考軸線等角度地設置。

3.根據權利要求1所述的測量單元，其中透光管被放置在所述入口孔和所述出口孔之間，所述管包括所述參考軸線。

4.根據權利要求1所述的測量單元，其中所述源發射處于激發波長波段的光，所述檢測器檢測處于接收波長波段的光，其中所述激發波長波段和所述接收波長波段不相交。

5.一種光學地驗證絲上涂層的存在的方法，所述方法使用一個、兩個或更多個測量單元，

所述測量單元包括：

腔，具有用于引導所述絲通過所述腔的入口孔和出口孔，所述入口孔和所述出口孔限定參考軸線；

兩個或更多個源；

兩個或更多個檢測器；

所述源用于朝向所述參考軸線上的中心點發射光，所述檢測器用于檢測光，

其中所述源和/或所述檢測器位于以所述參考軸線為軸線的第一錐體的表面上，并且在以所述參考軸線為軸線的第二錐體的表面上，所述第一錐體和所述第二錐體的頂部在中心點處相接，所述源和所述檢測器朝向所述中心點定向，

所述方法包括以下步驟：

-提供包括涂層的絲，所述涂層在用光入射時發射或吸收光作為響應；

-引導所述絲通過所述一個、兩個或更多個測量單元；

-以一定周期電子地驅動所述一個、兩個或更多個測量單元的所述源和檢測器，所述周期包括下述時間間隔：

i.在第一時間間隔內，點亮所述源中的至少一個源，同時記錄由所有檢測器分別檢測到的亮等級；

ii.在第二時間間隔內，熄滅所述源中的所有源，同時記錄由所有檢測器分別檢測到的暗等級，

-通過處理所有光檢測器所記錄的亮等級和暗等級，提取關于涂層的存在的信息。

6.根據權利要求5所述的方法，其中驅動所述一個、兩個或更多個測量單元的所述周期包括下述時間間隔：

-在相同的時間間隔內，按順序逐個點亮所述源，同時在每個相應的時間間隔記錄由所有檢測器分別檢測到的所述亮等級；

-在最后的時間間隔內，熄滅所述源中的所有源，同時記錄由所有光檢測器分別檢測到的所述暗等級。