[發明專利]檢查用插座

有效

• 申請號: 201980009712.0
• 申請日: 2019-01-31
• 公開（公告）號: CN111742228B
• 公開（公告）日: 2023-03-21
• 發明（設計）人: 宮明潤一
• 申請（專利權）人: 山一電機株式會社
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/26;G01R31/28;H01L23/32
• 代理公司: 北京庚致知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11807
• 代理人: 李永虎;李偉波

1.一種檢查用插座，其用于封入了IC芯片的IC封裝件的檢查，所述檢查用插座具備：

第1觸點端子，其與檢查設備的第1導線端子接觸；

第2觸點端子，其與種類不同于所述第1導線端子的所述檢查設備的第2導線端子接觸；

第1接觸機構，其使所述第1導線端子與所述第1觸點端子接觸；

第2接觸機構，其使所述第2導線端子與所述第2觸點端子接觸；以及

非同步機構，其進行非同步動作，即在所述第2接觸機構的接觸動作之后進行所述第1接觸機構的接觸動作，

所述接觸動作是，除所述第1導線端子或所述第2導線端子僅與某些接點接觸的情況之外，能夠得到與檢查狀態相當的接觸狀態的動作。

2.根據權利要求1所述的檢查用插座，其中，

所述非同步機構在解除所述第2接觸機構的接觸之前，解除所述第1接觸機構的接觸。

3.根據權利要求1所述的檢查用插座，其中，具備：

基座，其設于收納所述檢查設備的設置側；

第1罩，其設置成相對于所述基座接近或分離；以及

第2罩，其設置成與所述第1罩相獨立地相對于所述基座接近或分離，

所述第1接觸機構以及所述第2接觸機構根據所述第1罩以及所述第2罩的動作而被驅動。

4.根據權利要求3所述的檢查用插座，其中，

所述第1罩具備收納所述第2罩的第2罩收納部。

5.根據權利要求3所述的檢查用插座，其中，

具備插銷，其在推壓位置和分離位置之間進行往復動作，所述推壓位置是在所述設置面的方向推壓所述檢查設備的與設置面相反側的背面的位置，所述分離位置是從所述檢查設備分離的位置，

所述插銷根據所述第1罩和/或所述第2罩的動作，在檢查所述檢查設備時位于所述推壓位置，在設置以及拆卸所述檢查設備時位于所述分離位置。

6.根據權利要求5所述的檢查用插座，其中，

所述插銷根據所述第2罩而動作，

所述第2接觸機構根據所述插銷位于所述推壓位置來進行接觸動作。

7.根據權利要求6所述的檢查用插座，其中，

所述插銷根據所述插銷位于所述分離位置來解除所述第2導線端子和所述第2觸點端子的接觸。

8.根據權利要求3所述的檢查用插座，其中，

所述第1觸點端子具備：一面側觸點部，其與所述第1導線端子的一面側接觸；另一面側觸點部，其與該第1導線端子的另一面側接觸；以及臂部，其使所述另一面側觸點部相對于所述一面側觸點部接近，以夾入所述第1導線端子，

所述第1罩具備與所述臂部接觸并且規定該臂部的動作的凸輪部，

所述第1接觸機構伴隨著所述第1罩相對于所述基座的動作，利用根據所述凸輪部而動作的所述臂部，來進行接觸動作。

9.根據權利要求8所述的檢查用插座，其中，

所述臂部被驅動成，使夾入所述第1導線端子的所述另一面側觸點部從所述一面側觸點部分離來解除接觸，

所述第1接觸機構伴隨著所述第1罩相對于所述基座的動作，利用根據所述凸輪部而動作的所述臂部，來解除接觸。

10.根據權利要求8所述的檢查用插座，其中，

所述一面側觸點部以及所述另一面側觸點部中任一方為導電體，另一方為樹脂。

11.根據權利要求8所述的檢查用插座，其中，

所述凸輪部具備動作阻力部，所述動作阻力部増大與該凸輪部接觸而動作的所述臂部的動作阻力，

所述非同步機構根據所述臂部與所述動作阻力部接觸來進行所述非同步動作。