[發(fā)明專利]切割工藝用保護(hù)性涂層劑有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201980009171.1 | 申請日: | 2019-01-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111630113B | 公開(公告)日: | 2022-02-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳承燦;金昶圭 | 申請(專利權(quán))人: | MTI株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | C09D4/00 | 分類號(hào): | C09D4/00;C09D7/40 |
| 代理公司: | 北京得信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11511 | 代理人: | 袁偉東 |
| 地址: | 韓國京畿*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 切割 工藝 保護(hù)性 涂層 | ||
本發(fā)明涉及一種用于制備半導(dǎo)體的切割工藝用保護(hù)性涂層劑,具體涉及一種切割工藝用保護(hù)性涂層劑,其可以被涂布在晶圓等的表面上而在制備工藝中保護(hù)晶圓的表面。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種用于制備半導(dǎo)體的切割工藝用保護(hù)性涂層劑,具體涉及一種切割工藝用保護(hù)性涂層劑,其可以被涂布在晶圓等的表面上而在制備工藝中保護(hù)晶圓的表面。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體晶圓加工工藝中,切割工藝,即鋸切工藝,是介于晶圓制備工藝與封裝工藝之間且將所述晶圓以各個(gè)芯片單元分離的工藝。
其中,在將半導(dǎo)體晶圓的各個(gè)芯片用刀片互相分離的工藝中,落到芯片表面的碎片會(huì)造成不良。為了解決所述問題,從前使用的方法是將噴嘴沿著刀片的兩側(cè)與晶圓的水平方向設(shè)置,以高壓噴射大量的水而立即去除落到芯片表面的碎片。所述方法在半導(dǎo)體芯片尺寸大,加工時(shí)間短,碎片量少時(shí)是有用的,然而,在半導(dǎo)體芯片的尺寸的減小、加工時(shí)間的增加、碎片產(chǎn)量增加時(shí),無法立即去除碎片。
對(duì)此,為了克服所述問題,韓國專利申請第10-2009-0066314號(hào)公開了一種用作為非離子表面活性劑的聚環(huán)氧乙烷/聚環(huán)氧丙烷(Polyethyleneoxide/Polypropyleneoxide,PEO-PPO)、聚乙二醇(Polyethyleneglycol,PEG)以及其他添加劑制備的洗滌劑組合物。
然而,用所述組合物進(jìn)行鋸切工藝時(shí),可以去除一定大小的碎片,但無法完全去除微小的碎片。結(jié)果,被殘留的微小碎片所引起的刮痕、鑿痕等缺陷仍未解決。
因此,仍然存在著對(duì)用于切割工藝的保護(hù)性涂層劑的需求,其可以在晶圓表面形成涂層而防止在切割工藝和其他加工工藝中發(fā)生的刮痕、鑿痕、污點(diǎn)、變白或腐蝕等缺陷。
發(fā)明內(nèi)容
技術(shù)問題
本發(fā)明是斟酌所述內(nèi)容而提出的,其目的在于提供一種切割工藝用保護(hù)性涂層劑,其在半導(dǎo)體制備工藝中加工晶圓等時(shí)保護(hù)表面并防止因雜質(zhì)流入等而發(fā)生的表面損傷。
問題的解決方案
為了解決所述技術(shù)問題,本發(fā)明的切割工藝用保護(hù)性涂層劑的特征在于,被涂布在晶圓表面上。
作為一實(shí)施例,所述保護(hù)性涂層劑可以具有2H~5H的鉛筆硬度、2B~5B的粘接力以及8~35%的抗磨性。
作為一實(shí)施例,所述保護(hù)性涂層劑可以包括由下面的化學(xué)式10表示的化合物。
[化學(xué)式10]
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