[實用新型]一種基于LED測試的新型測試針組件

有效

• 申請號: 201922497225.3
• 申請日: 2019-12-31
• 公開（公告）號: CN212060353U
• 公開（公告）日: 2020-12-01
• 發明（設計）人: 白志堅;薛克瑞
• 申請（專利權）人: 深圳市良機自動化設備有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067
• 代理公司: 深圳市深可信專利代理有限公司 44599
• 代理人: 劉昌剛

本實用新型公開了一種基于LED測試的新型測試針組件，涉及測試裝置技術領域；包括測試針座、引線PCB板、壓針以及測試彈片；所述測試針座的縱截面呈L形，測試針座一端的外表面上設置有條形槽，所述的壓針限位在條形槽內，壓針內部設置有一伸縮彈簧，且伸縮彈簧的末端固定于測試針座上，壓針的頂端從條形槽中伸出；所述的測試彈片包括測試端、連接端以及限位端，測試端與連接端構成倒置的U形結構，所述的連接端穿過于測試針座，與引線PCB板電性連接；所述的限位端連接于倒置的U形結構的頂部，且限位端固定在所述測試針座的另一端上，所述測試彈片的測試端位于壓針頂端的一側；本實用新型的有益效果是：依靠測試彈片自身的形變實現伸縮運動，提高測試準確率。

技術領域

本實用新型涉及半導體封裝器件測試技術領域，更具體的說，本實用新型涉及一種基于LED測試的新型測試針組件。

背景技術

現有電子元器件產品在生產過程中均會涉及對其在接通電源情況下進行相關電參數或光參數檢測的工序，一般會采用測試探針來使其與電子類產品的被測試點進行接觸并實現電性連接。

現有技術中的一種測試探針裝置的結構如圖1所示，包括有測試針座1、測試針2、壓針3以及蓋板4，測試針2和壓針3都設置于測試針座1內，蓋板4蓋在測試針2和壓針3上，且測試針2和壓針3內部均設置有彈簧5，依靠彈簧5的收縮，實現在測試過程中測試針2和壓針3的升降運動。測試針2的收縮主要依靠彈簧5的作用力，此種結構測試針存在容易磨損，并且要求電子元器件的接觸點面積要大，否則接觸不良導致電壓測試不準，而且不容易實現Kelvin電性測試。

實用新型內容

為了克服現有技術的不足，本實用新型提供一種基于LED測試的新型測試針組件，通過測試彈片與被測試點接觸，依靠測試彈片自身的形變實現伸縮運動，避免對產品壓傷，提高測試準確率。

本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是：一種基于LED測試的新型測試針組件，其改進之處在于：包括測試針座、引線PCB板、壓針以及測試彈片；

所述測試針座的縱截面呈L形，測試針座一端的外表面上設置有條形槽，所述的壓針限位在條形槽內，壓針內部設置有一伸縮彈簧，且伸縮彈簧的末端固定于測試針座上，壓針的頂端從條形槽中伸出；

所述的測試彈片包括測試端、連接端以及限位端，測試端與連接端構成倒置的U形結構，所述的連接端穿過于測試針座，與引線PCB板電性連接；所述的限位端連接于倒置的U形結構的頂部，且限位端固定在所述測試針座的另一端上，所述測試彈片的測試端位于壓針頂端的一側。

在上述的結構中，所述測試針座另一端的外表面上設置有一豎向板，該豎向板的兩側分別設置有一組、且每組兩個相疊的測試彈片，測試彈片的限位端固定在豎向板上，所述壓針的頂端位于兩組測試彈片之間。

在上述的結構中，所述的相疊的測試彈片之間設置有絕緣材料，且每個測試彈片與被測試點的接觸位置均設置有導電材料。

在上述的結構中，所述豎向板的兩側分別設置有一壓板，該壓板通過螺栓固定在豎向板上，所述測試彈片的限位板固定于壓板與豎向板之間。

在上述的結構中，所述測試針座的下方固定安裝有一測試針蓋板，該測試針蓋板蓋在條形槽上。

在上述的結構中，所述的測試針座上設置有用于使連接端穿過的通孔。

本實用新型的有益效果是：本實用新型的測試針組件，依靠測試彈片自身的回彈力，在測試彈片長久使用后，也不會出現彈力發生改變的情況，因此提高了測試的穩定性，依靠測試彈片自身的形變實現伸縮運動，避免現有技術彈簧長時間使用而導致測試針與被測試點接觸不良的情況，從而提高測試準確率。

附圖說明

圖1為現有技術中測試探針裝置的結構示意圖。