[實(shí)用新型]一種臺(tái)階面螺紋孔檢測(cè)檢具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201922483358.5 | 申請(qǐng)日: | 2019-12-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN211262037U | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-08-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉英成;亓展鳳 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 濟(jì)南盛世陽(yáng)光機(jī)械零部件有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B5/00 | 分類號(hào): | G01B5/00 |
| 代理公司: | 沈陽(yáng)天贏專利代理有限公司 21251 | 代理人: | 陳貞 |
| 地址: | 271124 山*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 臺(tái)階 螺紋 檢測(cè) | ||
1.一種臺(tái)階面螺紋孔檢測(cè)檢具,包括基座,其特征在于:所述基座一側(cè)設(shè)置有固定臺(tái),所述固定臺(tái)上設(shè)置有活動(dòng)的第一檢具,所述第一檢具上設(shè)置有一組第一銷(xiāo)子,所述第一銷(xiāo)子用于檢測(cè)第一臺(tái)階面上的待檢測(cè)螺紋孔,所述第一檢具上端設(shè)置有活動(dòng)的第二檢具,所述第二檢具上設(shè)置有一組第二銷(xiāo)子,所述第二銷(xiāo)子用于檢測(cè)第二臺(tái)階面上的待檢測(cè)螺紋孔,所述基座另一側(cè)設(shè)置有工件固定臺(tái),所述工件固定臺(tái)上設(shè)置有凹槽和凸臺(tái),所述凹槽與待加工工件上的工件滑塊配合,所述凸臺(tái)與待加工工件上的工件凹槽配合;所述凹槽上方設(shè)置有限位板,所述凹槽端部設(shè)置有固定板,所述限位板上設(shè)置有緊固螺栓。
2.如權(quán)利要求1所述的一種臺(tái)階面螺紋孔檢測(cè)檢具,其特征在于:所述第一檢具下端設(shè)置滑塊,所述固定臺(tái)上設(shè)置有滑槽,所述滑塊設(shè)置在所述滑槽中。
3.如權(quán)利要求1所述的一種臺(tái)階面螺紋孔檢測(cè)檢具,其特征在于:所述第一檢具上設(shè)置有用于移動(dòng)的把手。
4.如權(quán)利要求1所述的一種臺(tái)階面螺紋孔檢測(cè)檢具,其特征在于:所述第二檢具上設(shè)置有用于移動(dòng)的把手。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于濟(jì)南盛世陽(yáng)光機(jī)械零部件有限公司,未經(jīng)濟(jì)南盛世陽(yáng)光機(jī)械零部件有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201922483358.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





