[實用新型]一種應用功率模塊老化測試的水冷散熱系統

有效

• 申請號: 201922453232.3
• 申請日: 2019-12-30
• 公開（公告）號: CN212344304U
• 公開（公告）日: 2021-01-12
• 發明（設計）人: 呂冬洋;方慶;郭小波;車湖深
• 申請（專利權）人: 杭州泰昕微電子有限公司
• 主分類號: H05K7/20
• 分類號: H05K7/20;G01R31/00;G01K7/22
• 代理公司: 上海申新律師事務所 31272
• 代理人: 黨蕾

本實用新型涉及功率模塊散熱技術領域，尤其涉及一種應用功率模塊老化測試的水冷散熱系統，水冷散熱系統提供一功率模塊，其中，包括：水冷散熱器，功率模塊設置于水冷散熱器內，水冷散熱器包括：散熱器本體，散熱器本體的一側設置進水口，散熱器本體的上表面設置凹槽；冷水機，冷水機設置水管，通過水管連接進水口；溫度檢測探頭，設置于凹槽內；控制板，控制板的第一信號接口連接至溫度檢測探頭的信號接口，控制板的第二信號接口連接至功率模塊的信號接口，控制板的第三信號接口連接至冷水機的信號接口。本發明的技術方案的有益效果在于：降低功率模塊老化測試過程中的冷卻時間，縮短功率模塊老化測試時間跨度，加速產品開發進度，設計合理。

技術領域

本實用新型涉及功率模塊散熱技術領域，尤其涉及一種應用功率模塊老化測試的水冷散熱系統。

背景技術

功率模塊是工業設備的動力核心，在應用過程中，功率模塊產生的損耗會引起溫度上升，通常是將其安裝在金屬散熱器上保證其工作在安全的溫度范圍內，一般在產品開發的驗證環節，需要對功率模塊進行老化性能測試，以保證其產品壽命符合開發預期，老化測試時在功率模塊的溫度下限的時候，接通電源和負載，功率芯片溫度上升，引起功率模塊的溫度上升；當功率模塊的溫度上升到上限值的時候，關閉負載，待功率模塊的溫度下降至下限溫度重新接通負載，此為一個循環。

現有技術中，應用于功率模塊的高低溫測試方法通常采用金屬散熱器進行散熱，輔以風冷，冷卻時間較長，造成功率模塊老化測試時間跨度非常大，不利于產品開發進度。因此，針對上述問題，成為本領域技術人員亟待解決的難題。

發明內容

針對現有技術中存在的上述問題，現提供一種應用功率模塊老化測試的水冷散熱系統。

具體技術方案如下：

本實用新型提供一種應用功率模塊老化測試的水冷散熱系統，所述水冷散熱系統提供一功率模塊，其中，包括：

一水冷散熱器，所述功率模塊設置于所述水冷散熱器內，所述水冷散熱器包括：

一散熱器本體，所述散熱器本體的一側設置一進水口，所述散熱器本體的上表面設置一凹槽；

一冷水機，所述冷水機設置一水管，通過所述水管連接所述進水口；

一溫度檢測探頭，設置于所述凹槽內；

一控制板，所述控制板的第一信號接口連接至所述溫度檢測探頭的信號接口，所述控制板的第二信號接口連接至所述功率模塊的信號接口，所述控制板的第三信號接口連接至所述冷水機的信號接口。

優選的，還包括：

一電源，所述電源的輸出端連接所述功率模塊的輸入端。

優選的，還包括：

一負載，所述負載的輸入端連接至所述功率模塊的輸出端。

優選的，所述散熱器本體還設置一出水口，所述出水口與所述進水孔位于同一側。

優選的，所述溫度檢測探頭包括一溫度采集裝置。

所述水冷散熱器的材質為鋁。

優選的，所述溫度采集裝置為負溫度系數熱敏電阻。

優選的，所述水冷散熱器為一矩形結構。

本發明的技術方案的有益效果在于：通過設計一個水冷散熱器，相較于現有技術手段，降低功率模塊老化測試過程中的冷卻時間，縮短功率模塊老化測試時間跨度，提高功率模塊老化測試效率，加速產品開發進度，設計合理。

附圖說明

圖1為本實用新型的實施例的整體結構示意圖；

圖2為本實用新型的實施例的散熱器本體的結構圖。